[发明专利]存储多值数据的非易失性半导体存储器无效
申请号: | 200610073511.1 | 申请日: | 2006-04-12 |
公开(公告)号: | CN1848295A | 公开(公告)日: | 2006-10-18 |
发明(设计)人: | 本多泰彦 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G11C11/56 | 分类号: | G11C11/56;G11C16/10 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在对存储单元的数据写入的开始时,电压生成电路以第1控制时间对控制栅供给第1控制栅电压,同时以比第1控制时间短的第1写入时间对漏供给写入电压。校验的结果,在对于存储单元的写入是不充分的情况下,电压供给部比第1控制时间短的时间对控制栅供给在第1控制栅电压上增加了恒定电压的第2控制栅电压,同时以比第1写入时间短的第2写入时间对漏供给写入电压。 | ||
搜索关键词: | 存储 数据 非易失性 半导体 存储器 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储器,其特征在于:具备:存储单元;电压供给部,在对上述存储单元写入数据时,对上述存储单元的控制栅供给控制栅电压,对上述存储单元的漏供给漏电压;以及控制部,在对上述存储单元的数据写入后,校验上述存储单元的阈值,在对上述存储单元的数据写入开始时,上述电压供给部以第1控制时间对上述控制栅供给第1控制栅电压,同时以比上述第1控制时间短且在上述第1控制栅电压的供给开始后开始供给、在上述第1控制时间经过之前结束供给的第1写入时间对上述漏供给规定的写入电压,由上述控制部进行的第1校验的结果,在对于上述存储单元的写入是不充分的情况下,上述电压供给部以比上述第1控制时间短的第2控制时间对上述控制栅供给在上述第1控制栅电压上增加了恒定电压的第2控制栅电压,同时以在上述第2控制栅电压的供给开始后开始供给、在经过上述第2控制时间为止结束供给的、比上述第1写入时间短的第2写入时间对上述漏供给上述规定的写入电压,由上述控制部进行的第2校验的结果,在判断为对于上述存储单元的写入是不充分的情况下,上述电压供给部以上述第2控制时间对上述控制栅供给在第2控制栅电压上增加了上述恒定电压的第3控制栅电压,同时以上述第2写入时间对上述漏供给上述规定的写入电压。
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