[发明专利]在电极衬垫之下集成电子器件的半导体装置无效

专利信息
申请号: 200610064747.9 申请日: 2006-09-18
公开(公告)号: CN1976019A 公开(公告)日: 2007-06-06
发明(设计)人: 上田尚宏 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: H01L23/522 分类号: H01L23/522;H01L23/485
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 王景刚;王冉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种半导体装置,其包括器件、两个金属配线层、和绝缘膜。该器件包括第一和第二电极。两个金属配线层包括最上金属配线层和次最上金属配线层。绝缘膜形成在最上金属配线层上并包括第一和第二衬垫开口。最上金属配线层具有经第一衬垫开口暴露于空气并形成第一电极衬垫的第一部分,且最上金属配线层具有经第二衬垫开口暴露于空气并形成第二电极衬垫的第二部分。第一和第二电极衬垫位于器件之上并分别电连接到第一和第二电极。次最上的金属配线层具有位于该第一电极衬垫之下并与之电连接的第一部分、及位于该第二电极衬垫之下并与之电连接的第二部分。
搜索关键词: 电极 衬垫 之下 集成 电子器件 半导体 装置
【主权项】:
1.一种形成多层金属配线结构的半导体装置,包括:具有包含第一和第二电极的至少两个电极的器件;至少两个金属配线层,包含最上金属配线层和次最上金属配线层;绝缘膜,形成在所述最上金属配线层上并包含包括第一和第二衬垫开口的至少两个衬垫开口,其中经所述第一衬垫开口暴露于空气的所述最上金属配线层的第一部分形成第一电极衬垫,经所述第二衬垫开口暴露于空气的所述最上金属配线层的第二部分形成第二电极衬垫,其中所述第一电极衬垫位于所述器件之上并电连接到所述第一电极,所述第二电极衬垫位于所述器件之上并电连接到所述第二电极,及其中所述次最上金属配线层的第一部分位于所述第一电极衬垫之下并与之电连接,所述次最上金属配线层的第二部分位于所述第二电极衬垫之下并与之电连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社理光,未经株式会社理光许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610064747.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top