[发明专利]为介质CVD膜实现晶片间厚度均匀性的高功率介质干燥无效
| 申请号: | 200580037552.9 | 申请日: | 2005-11-03 |
| 公开(公告)号: | CN101061256A | 公开(公告)日: | 2007-10-24 |
| 发明(设计)人: | 纳格哈彦·哈加高帕兰;夏立群;米歇拉·巴尔瑟努;托马斯·诺瓦克;哈恩简纳·沙赫;许汇文;查德·彼得森;德里克·R·维蒂;海澈姆·穆萨德 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
| 主分类号: | C23C16/44 | 分类号: | C23C16/44 |
| 代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 赵飞 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了一种用于对沉积室进行干燥的方法,其中,在衬底上沉积有机硅材料之前,用不含碳的材料对室部件和壁进行致密的涂敷。可以在其间沉积含碳层。提供了一种使用低能量等离子体和低压来从内部室表面除去残余物的室清洁方法,该方法可以与干燥处理相结合。 | ||
| 搜索关键词: | 介质 cvd 实现 晶片 厚度 均匀 功率 干燥 | ||
【主权项】:
1.一种对沉积室进行干燥的方法,包括:在所述室的至少一个内部表面上沉积一种或多种无碳材料的一个或多个层;然后将一个或多个衬底传送到所述沉积室中;然后在所述室中的至少一个衬底上沉积一种或多种有机硅材料的一个或多个层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料公司,未经应用材料公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200580037552.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体结构及其制造方法
- 下一篇:含有颜料-聚合物混杂物的含水涂纸浆液
- 同类专利
- 专利分类
C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的





