[发明专利]降低软性错误率的电阻性存储单元与其反相器及形成方法无效
申请号: | 200510072513.4 | 申请日: | 2005-05-10 |
公开(公告)号: | CN1697185A | 公开(公告)日: | 2005-11-16 |
发明(设计)人: | 廖忠志 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/10 | 分类号: | H01L27/10;H01L21/82 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 台湾省新竹科学*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明涉及一种降低软性错误率的电阻性存储单元与其反相器及形成方法。存储单元包括第一位元线、与第一位元线对偶的第二位元线、第一通栅、第二通栅、第一反相器、第二反相器、第一装置与第二装置。第一通栅耦接至第一位元线,第二通栅耦接至第二位元线,第一反相器的输出端透过第一通栅接收第一位元线信号,第二反相器的输出端透过第二通栅接收第二位元线信号,第一装置耦接于第一反相器的输出端与第二反相器的输入端之间,第二装置耦接于第二反相器的输出端与第一反相器的输入端之间,其中,当两反相器的输出端电压意外放电时,第一与第二装置可延长存储单元的电压放电时间。 | ||
搜索关键词: | 降低 软性 错误率 电阻 存储 单元 与其 反相器 形成 方法 | ||
【主权项】:
1、一种可降低软性错误率的电阻性存储单元,所述可降低软性错误率的电阻性存储单元包括:一第一位元线;一第二位元线,为第一位元线的对偶位元线;一第一通栅,耦接至该第一位元线;一第二通栅,耦接至该第二位元线;一第一反相器,其输出端透过该第一通栅接收该第一位元线信号;一第二反相器,其输出端透过第二通栅接收第二位元线信号;一第一装置,耦接于该第一反相器的该输出端与该第二反相器的输入端之间;以及一第二装置,耦接于该第二反相器的该输出端与该第一反相器的输入端之间;其中, 当两反相器的该输出端电压意外放电时,第一与第二装置可延长该存储单元的电压放电时间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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