“错误率”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果1501631个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]具备EDAC功能SRAM的软错误率预计方法与系统-CN201711368165.4有效
发明人：张战刚;雷志锋;李沙金;黄云;恩云飞 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所
申请日： 2017-12-18 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明涉及电子器件辐射效应领域，特别是涉及一种具备EDAC功能SRAM的软错误率预计方法与系统，通过获取具备EDAC功能SRAM器件的原始软错误率；获取所述具备EDAC功能SRAM器件的目标软错误率与所述原始软错误率的关联关系；根据所述原始软错误率和所述关联关系获取所述目标软错误率。在本方案中，可以根据所述SRAM器件的原始软错误率以及目标软错误率与所述原始软错误率之间的关系，获得具备EDAC功能SRAM器件的目标软错误率，可以提高具备EDAC功能SRAM器件空间软错误率预计结果的准确度
具备 edac 功能 sram 错误率预计方法系统

[发明专利]闪存的读电压确定方法、装置、计算机设备和存储介质-CN201910335886.8在审
发明人：李创锋;胡肇文 -专利权人：深圳市金泰克半导体有限公司
申请日： 2019-04-24 - 公布日： 2019-08-30 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：所述方法包括：获取当前读电压和对应的当前错误率；获取上一读电压和对应的上一错误率，计算当前错误率和上一错误率的差值，根据差值、当前读电压和上一读电压计算下一读电压，获取下一读电压对应的下一错误率，当当前错误率小于上一错误率，且小于下一错误率时，将当前错误率对应的当前读电压作为目标读电压。对比相邻的三个读电压的错误率，通过最低错误率来确定目标读电压，快速确定目标读电压。
读电压错误率计算机设备存储介质闪存快速确定申请

[发明专利]用于降低ECC存储器的软错误率的方法和装置-CN201811442640.2在审
发明人：张战刚;雷志锋;彭超;何玉娟;黄云;恩云飞 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2018-11-29 - 公布日： 2019-04-23 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：本发明涉及用于降低ECC存储器的软错误率的方法和装置。提供了一种用于降低ECC存储器的软错误率的方法，该方法包括：获取ECC存储器的软错误率的函数关系；根据函数关系确定ECC存储器的软错误率的初始值；判断ECC存储器的软错误率的初始值是否大于预设目标软错误率；当ECC存储器的软错误率的初始值大于预设目标软错误率时，对ECC存储器的外围电路进行加固，以使得加固后的ECC存储器的软错误率小于或等于预设目标软错误率。上述方法可指导ECC存储器的外围电路抗软错误优化设计，将外围电路加固设计程度定量化，实现既降低总体软错误率又不过度加固的目的，保证ECC存储器的软错误率达到实际工程要求。
软错误率存储器外围电路预设目标方法和装置函数关系程度定量实际工程优化设计保证

[发明专利]基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样-CN202110472020.9在审
发明人： H·R·桑吉迪;A·马尔谢;V·P·拉亚普鲁;K·K·姆奇尔拉 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2021-04-29 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： G11C29/42 文献下载
摘要：本公开涉及基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样。以操作方式与存储器装置耦合的处理装置配置成对所述存储器装置的数据单元进行第一编程擦除循环PEC，其中进行所述第一PEC包括扫描所述数据单元的多个页中的第一组页以确定第一错误率。所述处理装置还基于所述第一错误率和第二错误率来确定所述数据单元的错误率变化的第一型式。所述处理装置接着比较所述数据单元的所述错误率变化的第一型式与指示缺陷的错误率变化的预定型式。响应于确定所述错误率变化的第一型式对应于所述错误率变化的预定型式，所述处理装置进行与关于所述数据单元的缺陷修复有关的动作。
基于错误率变化型式编程擦除循环期间数据单元选择性采样

[发明专利]错误率估计器-CN98105720.9无效
发明人：须藤浩章;平松胜彦;上杉充 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 1998-03-17 - 公布日： 2003-04-16 - 主分类号： H04L1/20 文献下载
摘要：一个错误率估计器，用来减少数字移动通信中在所接收信号的突发信号处误码脉冲计数值的偏差，并因此提高估计错误率的准确性。该错误率估计器包括检测来自I通道的基带信号(I信号)和Q通道的基带信号(Q信号)的相位信息是否位于误码脉冲产生域的检测器，检测I信号和Q信号的包络信息是否位于误码脉冲产生域的检测器，以及一个检测相位错误信号和包络错误信号是否输出并计数这些信号的计数器
错误率估计

[发明专利]一种电子器件软错误率评估方法及装置-CN201811357663.3有效
发明人：彭超;雷志锋;张战刚;何玉娟;黄云;恩云飞 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2018-11-14 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种电子器件软错误率评估方法和装置，所述方法通过根据10B同位素的含量判断所述电子器件对热中子是否敏感后，在不同的海拔高度处多次测试同一电子器件的总软错误率，达到分离高能中子、热中子和α粒子软错误率的目的。所有的软错误率都是根据真实大气环境下测试得到的软错误率计算出来的，结果更加可信。另外本发明避免了高能中子、热中子和α粒子软错误率的单独测量，从而规避了热中子和α粒子软错误率不易测量的缺点，大大降低了电子器件软错误率评估的复杂度和成本。
一种电子器件错误率评估方法装置

[发明专利]面向可变错误率的检查点间隔实时确定方法-CN201410683405.X有效
发明人：贾文涛;张春元;李宗伯;杨乾明;罗磊;薛云刚;蓝强 -专利权人：中国人民解放军国防科学技术大学
申请日： 2014-11-25 - 公布日： 2015-02-04 - 主分类号： G06F11/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种面向可变错误率的检查点间隔实时确定方法，目的是提供一种能准确地测算出实时错误率，并动态地调整应用执行的检查点间隔的方法。技术方案是构建由检查点控制模块、错误率测算模块和错误恢复模块组成的基于可变错误率的检查点控制系统；检查点控制模块判定当前检查点间隔是否完成，更新检查点状态；错误恢复模块进行错误恢复，错误率测算模块测算错误率和确定检查点间隔本发明通过加权迭代法测算实时错误率，在确保测算速度的同时能得到较好的测算精度，且在每次检查点更新或错误恢复时重新设定检查点间隔，可以确保检查点间隔动态匹配错误率的变动。
面向可变错误率检查点间隔实时确定方法

[发明专利]实时网络纠错方法-CN200710098080.9无效
发明人：彭君田;卢锦宝 -专利权人：华忆科技（深圳）有限公司;美国事业管理公司
申请日： 2007-04-27 - 公布日： 2008-10-29 - 主分类号： H04L1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种实时网络纠错的方法，通过在接收端以周期性的时间来侦测网络错误率，并持续回报该错误率给发送端。当发送端所收到的错误率大于设定的标准时，会自动降低传送速度，当错误率再度回到标准时，发送端会再次提升传输率到最优良的状态。如此一来可以避免在网络错误率最高时，发送端仍持续发送大量封包造成庞大的数据损失，也能降低整体传输的错误率。此外，本发明同时使用一种移动平均算法来更精准的计算接收端所回报的平均错误率。
实时网络纠错方法

[发明专利]运算方法及装置-CN201910758887.3在审
发明人：唐平;葛维;李振中;胡均浩;石玲宁 -专利权人：紫光展锐(重庆)科技有限公司
申请日： 2019-08-16 - 公布日： 2019-11-26 - 主分类号： G06F11/07 文献下载
摘要：本公开涉及一种运算方法及装置，所述方法包括：在预设工作频率下以预设电压驱动芯片进行运算，得到芯片的运算错误率；在所述芯片的运算错误率小于第一运算错误率的情况下，以第一电压为步长逐次减小所述预设电压得到中间电压以驱动所述芯片进行运算，直到所述芯片的运算错误率达到所述第一运算错误率与第二运算错误率之间；根据达到所述第一运算错误率与所述第二运算错误率之间的运算错误率对应的中间电压确定工作电压，以所述工作电压驱动所述芯片进行运算，并得到运算结果
运算错误率芯片工作电压驱动芯片预设电压中间电压工作频率运算结果驱动功耗减小预设节约

[发明专利]安全测试的方法和装置-CN201711479689.0有效
发明人：龙桂鲁;殷柳国;解孟雨;朱坤托;孙臻;郝文涛 -专利权人：清华大学
申请日： 2017-12-29 - 公布日： 2020-04-14 - 主分类号： H04B10/075 文献下载
摘要：所述方法包括截获量子通信系统中由发送方发送的正交偏振光，所述正交偏振光包括水平偏振光和垂直偏振光；多次调整水平偏振光的和垂直偏振光的相位差，使得所述相位差在预设范围内变化；针对每一相位差，确定对应的第一错误率，所述第一错误率是根据当前的相位差估计的接收方的错误率；针对每一相位差，获取接收方的第二错误率，第二错误率是量子通信系统中由接收方检测的错误率；根据第一错误率与第二错误率，确定量子通信系统是否通过安全测试所述方法调整水平偏振光的和垂直偏振光的相位差，使得所述相位差在预设的范围内变化，并根据每一第一错误率与第二错误率，可准确的进行安全测试。
安全测试方法装置

[发明专利]用于检测和报告安全仪表化系统中的风险的软错误聚合方法-CN202211500159.0在审
发明人： A.米什拉;M.穆瑟拉玛林加姆;D.伊万诺夫;E.班奇克 -专利权人：施耐德电子系统美国股份有限公司
申请日： 2022-11-28 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G05B19/05 文献下载
摘要：提供了一种用于管理与一个或多个安全可编程逻辑控制器(PLC)相关的软错误的方法。该方法包括接收各类型输入/输出(I/O)模块随时间变化的预期软错误率，接收由相应安全PLC基于由耦合到相应安全PLC的I/O模块检测到的软错误而聚合的相应软错误数据。基于所接收的软错误数据来确定每个I/O模块类型的实际软错误率，并且为每个I/O模块类型的安全PLC预测软错误率。将实际和/或预测软错误率与每个I/O模块类型的预期软错误率进行比较。该方法还包括响应于对应I/O模块类型的实际和/或预测软错误率相对于预期软错误率之间的阈值偏差而采取一个或多个动作。
用于检测报告安全仪表系统中的风险错误聚合方法

[发明专利]频率感知的快速DFF软错误率评估方法与系统-CN201510067789.7有效
发明人：绳伟光;毛志刚 -专利权人：上海交通大学
申请日： 2015-02-09 - 公布日： 2017-12-01 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种频率感知的快速DFF软错误率评估方法，用于评估DFF由于中子辐射而发生的软错误率，包括在DFF的工作频率范围内选定多个工作频率，获取DFF的与这些选定的工作频率一一对应的多个软错误率，对这些软错误率与选定的工作频率进行拟合，获得软错误率相关于工作频率的函数关系，根据该函数关系，获得工作在任意工作频率的DFF的软错误率。本发明相应地公开了一种频率感知的快速DFF软错误率评估系统。本发明针对现有方法评测速度慢的问题，解决了时序逻辑部件的快速软错误率评测问题，以本发明为基础进行方法的组合与扩展可以同时解决评测速度与时序逻辑电路评测的问题。
频率感知快速 dff 错误率评估方法系统

[发明专利]用户装置-CN201880097997.3在审
发明人：藤村直纪;柿岛佑一 -专利权人：株式会社NTT都科摩
申请日： 2018-09-26 - 公布日： 2021-05-04 - 主分类号： H04W56/00 文献下载
摘要：控制部(230)根据第1错误率阈值或者第2错误率阈值，判定无线链路的同步状态，即使在预定定时处从第1错误率阈值变更为第2错误率阈值时，控制部(230)也应用与第1错误率阈值关联的评估期间。
用户装置

[发明专利]闭环软错误率灵敏度控制-CN201010143447.6有效
发明人： M·F·唐纳;J·S·布朗 -专利权人： LSI公司
申请日： 2010-03-17 - 公布日： 2011-06-08 - 主分类号： G11C29/42 文献下载
摘要：本发明涉及闭环软错误率灵敏度控制。公开了一种用于控制由对电子电路的辐射冲击导致的软错误率(SER)的闭环反馈系统。灵敏度可变的软错误率检测器提供对应于软错误率的输出。该输出被提供到电压控制装置。电压控制装置的输出可以是软错误率传感器的电源。软错误率传感器的输出还可以被用于启动和停用容错方案或警告用户。
闭环错误率灵敏度控制

[发明专利]一种块存储器单粒子翻转防护设计定量评估方法及装置-CN202110227655.2在审
发明人：王群勇;白桦;孙旭朋 -专利权人：北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
申请日： 2021-03-01 - 公布日： 2021-06-15 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：其中，该方法包括：确定SRAM型FPGA中可配置逻辑单元和块存储器内各模块的存储资源数据、对应的刷新周期以及对应的单位数据翻转率；在同一存储单元的三路中同时出现两路错误的单粒子防护效能情况下，基于不同的算法模型分别得到所述块存储器部位错误导致的错误率、所述自刷新器错误导致的错误率以及所述表决器错误导致的错误率；基于所述块存储器部位错误导致的错误率、所述自刷新器错误导致的错误率以及所述表决器错误导致的错误率，得到块存储器错误率定量评估结果。
一种存储器粒子翻转防护设计定量评估方法装置

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条