[发明专利]半导体器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200510071656.3 申请日: 2005-03-31
公开(公告)号: CN1758433A 公开(公告)日: 2006-04-12
发明(设计)人: 定别当裕康 申请(专利权)人: 卡西欧计算机株式会社
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L21/60;H01L25/04
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 胡建新
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及半导体器件及其制造方法。半导体器件,它包括:被施加接地电位的金属箔(2、2A);设置在所述金属箔(2、2A)上的至少一个半导体构成体(3),其具有半导体衬底(6)和设在该半导体衬底(6)上的多个外部连接用电极(9、16);设置在所述半导体构成体(3)周围的绝缘层(21),其实质上与所述半导体构成体(3)的厚度相同;在所述半导体构成体(3)和所述绝缘层(21)上设置与所述半导体构成体(3)的外部连接用电极(9,16)连接的至少一层上层布线(25);和至少贯穿所述绝缘层(21)、连接所述金属箔(2、2A)和所述上层布线(25)的上下导通部分(32)。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件,其特征在于包括:金属箔(2、2A),被施加接地电位;至少一个半导体构成体(3),设置在所述金属箔(2、2A)上,具有半导体衬底(6)和设在该半导体衬底(6)上的多个外部连接用电极(9、16);绝缘层(21),设置在所述半导体构成体(3)的周围,厚度实质上与所述半导体构成体(3)的厚度相同;至少一层上层布线(25),在所述半导体构成体(3)和所述绝缘层(21)上与所述半导体构成体(3)的外部连接用电极(9,16)连接而设置;和上下导通部分(32),至少贯穿所述绝缘层(21)而连接所述金属箔(2、2A)和所述上层布线(25)。
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