[发明专利]半导体元件的清洗方法无效
申请号: | 200510055445.0 | 申请日: | 2005-03-17 |
公开(公告)号: | CN1835192A | 公开(公告)日: | 2006-09-20 |
发明(设计)人: | 郑明德 | 申请(专利权)人: | 郑明德 |
主分类号: | H01L21/302 | 分类号: | H01L21/302;H01L21/304;H01L21/68;B08B3/02 |
代理公司: | 中国商标专利事务所有限公司 | 代理人: | 万学堂 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是一种半导体组件的清洗方法,其包括晶圆或覆晶基板固定步骤、以水或溶剂所产生的蒸气,利用喷嘴由芯片与基板接合位置的前方进行高压喷气,以蒸气将助焊剂或油渍溶解带出芯片与基板间的位置,利用喷嘴由基板上方将带出的助焊剂或油渍吹散,再以喷嘴由芯片与基板接合位置的后方进行高压喷气,以蒸气将助焊剂或油渍溶解再度带出,如此反复以前、上、后、上反复蒸气冲洗的蒸气冲刷步骤,由于蒸气分子远小于液态分子,因此可以进入至覆晶作业后的芯片及基板间而冲刷溶解出助焊剂或油渍,且约100度左右的蒸气及热风并不会对芯片造成损伤而可有效的将晶圆表面或覆晶作业后的助焊剂或油渍加以去除并完全干噪。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 清洗 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体组件的清洗方法,其特征在于,其包括有:晶圆或覆晶基板固定步骤:将晶圆或覆晶作业后的基板及芯片置放在具有定位效果的传输带上,藉此以使得基板获得有效的定位;蒸气冲刷步骤:以水或溶剂的沸点所产生的蒸气,利用喷嘴将晶圆表面或从芯片与基板接合位置的前方进行高压喷气,以蒸气将助焊剂或油渍带出芯片与基板之间的位置,利用喷嘴将晶圆表面或从基板上方将带出的助焊剂或油渍吹散,再以喷嘴将晶圆表面或从芯片与基板接合位置的后方进行高压喷气,以蒸气将助焊剂或油渍溶解再度带出,并利用喷嘴将晶圆表面或从基板上方将带出的助焊剂或油渍吹散,如此反复以前、上、后、上反复蒸气冲洗的方式进行。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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