[发明专利]镍铬合金薄膜的湿法图形化技术无效

专利信息
申请号: 200510010974.9 申请日: 2005-08-22
公开(公告)号: CN1920097A 公开(公告)日: 2007-02-28
发明(设计)人: 杨明珠;普朝光;李振豪;杨培志 申请(专利权)人: 昆明物理研究所
主分类号: C23F1/02 分类号: C23F1/02;C23F1/30;H05K3/06
代理公司: 昆明正原专利代理有限责任公司 代理人: 赵云;邵会昌
地址: 650223*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明公开了一种镍铬合金薄膜的湿法图形化技术,主要适用于红外探测器中上电极镍铬合金薄膜的图形化。其主要技术特征是:在腐蚀工序中所用的腐蚀液配制比例为:高锰酸钾2-10%、硫酸铈30-50%、盐酸5-11%、氯化氨5-10%、蒸馏水。本发明所制作的镍铬合金薄膜图形化产品完全达到技术要求,其生产技术成本得到较大幅度的下降,图形线条清晰、精度高。
搜索关键词: 合金 薄膜 湿法 图形 技术
【主权项】:
1、一种镍铬合金薄膜的湿法图形化技术,含有工序:清洗硅片、生长镍铬薄膜、涂敷光刻胶、去除光刻胶,其特征在于:在工序A配制腐蚀液体中,腐蚀液的配制比例:高锰酸钾2-10%、硫酸铈30-50%、盐酸5-11%、氯化氨5-10%、蒸馏水。
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