[发明专利]去耦电容的表面安装焊料方法和设备及制造过程无效

专利信息
申请号: 03816883.9 申请日: 2003-05-21
公开(公告)号: CN1669142A 公开(公告)日: 2005-09-14
发明(设计)人: D·谢尔斯;W·罗斯;J·杰克逊 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: H01L23/64 分类号: H01L23/64
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 钱慰民
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种使诸如处理器等的高性能微电子设备成组的系统响应部件瞬态。在一个实施例中,该系统包括置于Vcc电气凸起和Vss电气凸起之间的去耦电容器。去耦电容器具有Vcc和Vss端子。Vcc和Vss端子与Vcc电气凸起和Vss电气凸起共享电气焊盘。产生单一电流回路,从而改进系统的功率传送。
搜索关键词: 电容 表面 安装 焊料 方法 设备 制造 过程
【主权项】:
1.一种去耦电容器系统,包括:包括衬底第一焊盘和衬底第二焊盘的衬底;包括底端和顶端的电气第一凸起,其中所述底端附着于所述第一焊盘;包括底端和顶端的电气第二凸起,其中所述底端附着于所述第二焊盘;置于所述焊盘上并实质邻近所述电气第一凸起的第一电容器;以及置于所述电气第一凸起顶端的顶结构,其中所述顶结构与所述第一电容器进行电气传送,并且所述顶结构是从电子部件、插入机构、插座以及它们组合中选择的。
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