[发明专利]氮化镓(GaN)类化合物半导体装置及其制造方法有效
申请号: | 03812891.8 | 申请日: | 2003-06-04 |
公开(公告)号: | CN1659713A | 公开(公告)日: | 2005-08-24 |
发明(设计)人: | 佐藤寿朗;菅原智也;北泽慎二;村本宜彦;酒井士郎 | 申请(专利权)人: | 氮化物半导体株式会社 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 郭煜;庞立志 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种使用GaN的发光元件。在基板(10)上,依次层积SiN缓冲层(12)、GaN缓冲层(14)、无掺杂GaN层(16)、掺杂Si的n-GaN层(18)、SLS层(20)、无掺杂GaN层(22)、MQW发光层(24)、SLS层(26)及p-GaN层(28),而形成p电极(30)]和n电极(32)。MQW发光层(24)使用了交互地层积InGaN井层和AlGaN障壁层的构造。设定了SLS层(20)、(26)的Al成分比是5%以上、25%以下,MQW发光层(24)的井层的In成分比是3%以上、20%以下,障壁层的Al成分比是1%以上、30%以下。通过将各层的成分比及膜厚调整为希望值,而提高波长400nm以下的发光效率。 | ||
搜索关键词: | 氮化 gan 化合物 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种氮化镓类化合物半导体装置,其特征在于,具有:基板;形成在前述基板上、并交互地层积n型AlGaN层和n型GaN层所构成的第1超晶格层;形成在前述第1超晶格层上、并交互地层积GaN类量子井层和GaN类量子障壁层所构成的多重量子井层;以及形成在前述多重量子井层上、并交互地层积p型AlGaN层和p型GaN层所构成的第2超晶格层。
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