[发明专利]带有多指接通用同步和分布式自偏压功能的静电放电(ESD)保护装置无效

专利信息
申请号: 02813553.9 申请日: 2002-07-01
公开(公告)号: CN1524294A 公开(公告)日: 2004-08-25
发明(设计)人: J·阿默;M·P·J·默根斯;P·C·尤伊维亚克;C·C·鲁斯 申请(专利权)人: 萨诺夫公司
主分类号: H01L23/62 分类号: H01L23/62
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 戈泊;程伟
地址: 美国新*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明揭示一种ESD保护电路(150),其包括一用于一具有被保护电路的半导体集成电路(IC)的同步偏压多指导通MOS器件。该ESD保护电路包括:一多指式NMOS晶体管(100),其中每一指均具有用于分别耦合于IC的一I/O焊垫(20)与大地(15)之间的一漏极及源极,以及一用于对该指施加偏压的栅极;一ESD检测器(310),其包含一PMOS晶体管(311),该PMOS晶体管(311)具有一用于耦合至IC的I/O焊垫的源极及一耦合至IC的一电源电压(90)的栅极;一寄生电容(900),其形成于IC的电源线与大地之间;一具有一第一二极管(321)的转移电路(320),其耦合于PMOS晶体管的漏极与NMOS晶体管每一指的栅极之间。
搜索关键词: 带有 接通 同步 分布式 偏压 功能 静电 放电 esd 保护装置
【主权项】:
1、一种用于ESD保护的具有复数个指的MOS器件100,其中所述复数个指(151,153)中的每一指均包含:一P-阱(104);复数个散布于所述P-阱中的N+漏极区(122),所述N+漏极区耦合至一高电位;复数个散布于所述P-阱中并基本平行于所述复数个散布的N+漏极区的N+源极区(124),所述N+源极区耦合至大地(15);一栅极区(116),其位于所述复数个散布的N+漏极区与复数个散布的N+源极区之间并位于所述P-阱区之上;及一第一复数个P+局部基材连接线区(120D),其散布于所述复数个散布的N+漏极区之间并与所述复数个散布的N+漏极区电气绝缘;一第二复数个P+局部基材连接线区(120S),其散布于所述复数个散布的N+源极区之间并与所述复数个散布的N+源极区电气绝缘,其中至少两个指的所述第一与第二复数个P+基材连接线区之一的至少一个所述P+局部基材连接线区电气相连,及每一指的所述栅极区,其耦合至任一包含一前置驱动电路(600,601)的元件、大地(15)及所述第一及第二复数个P+局部基材连接线区。(图1,2A-2C)
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