[发明专利]集成半导体存储器存储单元的功能检测法

摘要

在集成半导体存储器的存储单元(MC)的一种功能检测法内，测试存储单元的一个第一组。对每个检测的存储单元独立的检测结果(A，B)用至少三次拷贝暂存在存储单元(MC)的一个第二组内。在每次检测结果(A，B)的拷贝之间进行比较并进行分析处理。第二组(2)的有关存储单元的地址，通过地址转换(T)确定。该地址转换(T)是如此设计的，使得在存储单元(MC)的有故障的第二组(2)内的功能故障的大量累积不影响检测法的结果。

主权项

1.集成半导体存储器的存储单元(MC)的功能检测法，其中，-检测所述存储单元(MC)中的一个第一组(1)存储单元，-分别地用至少三次拷贝的方式将对于每一被检测存储单元的测试结果(A、B)中间储存在存储单元(MC)的一个第二组(2)存储单元内，-在每一个检测结果(A、B)的拷贝之间进行比较，-依据对拷贝的比较求出关于所述第一组(1)存储单元(MC)的功能的信息，和-借助存储所述拷贝的存储单元的地址对存储单元(MC)进行存取，其特征在于：-所述存储单元(MC)的地址包含第一地址部分(ADR1)，经其对存储单元(MC)的所述各个组(1，2)存取，以及包含第二地址部分(ADR2)，经其对所述各个组(1，2)内的存储单元(MC)存取，-所述存储单元(MC)的地址包含地址位(a0；a3)的数目，以及-所述第二组(2)的一个存储单元(MC)的第二地址部分(ADR2)，是由所述第一组(1)的各被测试的存储单元的相应的第二地址部分(ADR2)经地址转换装置(T)至少改变一个地址位(a0；a3)产生的。