[发明专利]半导体器件无效

专利信息
申请号: 00121793.3 申请日: 1998-07-10
公开(公告)号: CN1295346A 公开(公告)日: 2001-05-16
发明(设计)人: 秋山雪治;下石智明;大西健博;嶋田法翁;江口州志;西村朝雄;安生一郎;坪崎邦宏;宫崎忠一;小山宏;柴本正训;永井晃;荻野雅彦 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所;日立超大规模集成电路系统株式会社;秋田电子株式会社
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/02;H01L23/28;H01L21/98
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 片尺寸半导体封装,包括外围设有多个连接端的芯片;设于芯片主表面上使连接端暴露的弹性体;弹性体上的绝缘带,在连接端处有开口;绝缘带上表面上的多根引线,其一端与连接端连接,另一端设置于弹性体上;引线另一端上的多个突点电极;及密封半导体芯片的连接端及引线的一端的密封体,其中绝缘带在外围附近伸出芯片,树脂体的形状由绝缘带的伸出部分限定。弹性体包括多孔材料,具有与绝缘带相同的形状,侧面之一暴露于外部环境。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
1、半导体器件,包括:半导体芯片,在其主表面上具有连接端子,形成于半导体芯片上的着色弹性结构,形成于着色弹性结构上的布线基片,与形成在布线基片上的连接端子电连接的引线。
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