专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果9个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]用于切割半导体装置的结构和方法-CN202310219471.0在审
  • 王韦章;R·科蒂;R·K·邦萨;权荣熤;杨博智;V·巴瓦那西 - 美光科技公司
  • 2023-03-08 - 2023-09-12 - H01L21/78
  • 本公开涉及用于切割半导体装置的结构和方法。公开用于将半导体晶片分离成个别裸片的结构和方法。半导体晶片或面板可包含划片结中的裂痕辅助结构。所述裂痕辅助结构可包含至少部分地延伸穿过所述晶片的厚度的多个竖直壁。在一些实施例中,所述多个竖直壁可耦合到弱界面。所述弱界面可引导在切割工艺期间在沿着所述壁的方向上形成的裂痕远离有源电路系统。在切割之后,所得半导体装置可包含至少部分地延伸穿过所述半导体装置的厚度的多个竖直壁。所述多个竖直壁中的每一个可包含大体上平行于所述半导体装置的侧壁延伸的至少一部分。
  • 用于切割半导体装置结构方法
  • [发明专利]用于存储器装置的插座设计-CN202080079149.7在审
  • A·马宗达;R·科蒂;R·维尼加拉 - 美光科技公司
  • 2020-11-04 - 2022-07-08 - G11C5/04
  • 描述支持用于存储器装置的插座设计的方法、系统及装置。裸片可包含一或多个存储器阵列,其各自可包含任何数目个字线及任何数目个位线。所述字线及所述位线可定向于不同方向上,且存储器单元可定位于字线与位线的相交点处。插座可将所述字线及位线耦合到相关联驱动器,且所述插座可经定位使得较远离对应字线插座的存储器单元较接近对应位线插座,且反之亦然。举例来说,插座可经安置成彼此平行的行或区,且其可不正交于所述对应字线及位线。
  • 用于存储器装置插座设计
  • [发明专利]泄漏源检测-CN202011268119.9有效
  • A·马宗达;R·科蒂;P·D·怀特;P·R·K·埃尔拉;R·卡马纳 - 美光科技公司
  • 2020-11-13 - 2022-05-31 - G11C29/44
  • 本申请涉及泄漏源检测。在一些情况下,测试装置可以扫描存储器管芯的具有第一长度的第一组存取线和存储器管芯的具有与第一长度不同的第二长度的第二组存取线。测试装置可以确定与第一组存取线相关联的第一错误率和与第二组存取线相关联的第二错误率。测试装置可以基于第一错误率和第二错误率来对存储器管芯的性能进行分类。在一些情况下,测试装置可以基于第一和第二错误率来确定与错误的类型相关联的第三错误率,并且可以基于第三错误率来对存储器管芯的性能进行分类。
  • 泄漏检测
  • [发明专利]电子束探测技术及相关结构-CN202011371916.X在审
  • A·马宗达;R·科蒂;M·拉贾舍克阿雷亚 - 美光科技公司
  • 2020-11-30 - 2021-06-18 - G11C5/06
  • 本申请涉及电子束探测技术及相关结构。可形成导电回路,其中一些可接地,且另一些可根据预定图案电浮动。可以用电子束扫描回路,并且可以使用图像分析技术来生成光学图案。可以将所生成的光学图案与期望的光学图案进行比较,所述期望的光学图案可以基于接地和浮动回路的所述预定图案。可基于所述所生成的光学图案与所述预期的光学图案之间的差异来确定电缺陷。例如,如果第二回路呈现为具有对应于接地回路的亮度,则这可指示存在意外短路。可针对后续器件调整制作技术以校正所识别的缺陷。
  • 电子束探测技术相关结构

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top