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[发明专利]获取三维测量点的测量系统-CN202210275425.8有效
发明人： J·斯蒂格瓦尔;A·施文德纳;托马斯·延森;M·施罗德;杨征 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2022-03-21 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： H04N23/698 文献下载
摘要：本公开涉及获取三维测量点的测量系统，属于测量系统技术领域。该测量系统包括：基座单元；支承单元；发射单元；接收单元；引导单元；第一致动器；第二致动器；第一角度编码器；第二角度编码器；捕获至少部分场景的图像的摄像头；连接至第一致动器、第二致动器、第一角度编码器、第二角度编码器和摄像头的计算机，针对利用摄像头生成第一全景图像，该计算机被配置为：控制所述图像传感器以帧速率来对帧进行采样，控制所述第一致动器以转速来旋转所述支承单元，所述转速按照使n个连续帧重叠的方式与所述图像传感器的所述帧速率相适应，其中，n≥3，以及对所述采样的帧中的至少一些帧进行处理，以形成所述第一全景图像。
获取三维测量系统

[发明专利]计量系统-CN202211516107.2在审
发明人： J·斯蒂格瓦尔;杨征;托马斯·延森 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2022-11-30 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本公开涉及一种计量系统，其包括：目标对象、特别是测量探针；跟踪所述目标对象和/或确定目标对象的至少一个定向的计量仪器；以及控制所述瞄准单元的对准，并得出目标对象的至少一个定向的控制单元。该计量仪器包括：变焦物镜；照明单元；和飞行时间传感器，飞行时间传感器包括像素的阵列并且能够提供针对阵列中的每个像素的测距数据作为点云数据，飞行时间传感器提供距离测量设备。控制单元包括对象确定功能，其在被执行时提供：接收由飞行时间传感器提供的点云数据；通过处理点云数据来得出目标对象的数字表示；将目标对象的数字表示与目标对象的参考图案进行比较，参考图案与目标对象的特征有关；以及基于所述比较来确定目标对象的定向。
计量系统

[发明专利]用于液体透镜的温度补偿-CN202211402475.4在审
发明人：托马斯·延森;F·皮尔扎格达;J·斯蒂格瓦尔 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2022-11-10 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G02B3/14 文献下载
摘要：用于液体透镜的温度补偿。一种光学组件，包括可变焦距透镜组件，可变焦距透镜组件包括可变焦距透镜和致动单元，可变焦距透镜组件吸收能量的能量吸收速率取决于所施加的控制信号。光学组件包括控制单元，其被配置成通过提供相应的控制信号来控制可变焦距透镜的焦距设置，并且施加默认控制信号以提供默认焦距和默认能量吸收速率。控制单元提供热稳定功能，热稳定功能通过施加与变化焦距相关的变化控制信号并施加与补偿焦距相关的补偿控制信号来限定，其中，变化控制信号或补偿控制信号被提供为使得相应相关的能量吸收速率大于默认能量吸收速率，并且提供变化控制信号或补偿控制信号中的另一者，使得相应相关的能量吸收速率小于默认能量吸收速率。
用于液体透镜温度补偿

[发明专利]机器几何形状监测-CN201811530297.7有效
发明人： C·艾斯利;J·斯蒂格瓦尔;托马斯·延森;F·皮尔扎格达 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2018-12-14 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明涉及机器几何形状监测。用于循环地确定机器(1)的几何形状的静态和/或动态特性的变化的机器状态监测系统(2)。所述机器(1)构造有位置编码器(4)以相对于第二机器部分(3)得出至少第一机器部分(5)的坐标信息，所述第一机器部分(5)和所述第二机器部分(3)可借助机动化驱动单元(13)相对于彼此移动。根据本发明，所述监测系统(2)包括至少一个校准监测单元(6)，该校准监测单元(6)具有光学的至少二维测量位置感测单元，所述感测单元固定到所述第一机器部分(5)并且构造成光学地感测设置在所述第二机器部分(3)处的人工制品(3)的至少二维位置信息。
机器几何形状监测

[发明专利]带有惯性测量单元的基于激光跟踪仪的测量系统-CN202211070360.X在审
发明人： M·斯泰纳;T·克维亚特科夫斯基;J·斯蒂格瓦尔 -专利权人：莱卡地球系统公开股份有限公司
申请日： 2022-09-02 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及带有惯性测量单元的基于激光跟踪仪的测量系统，尤其涉及一种具有测量辅助装置的基于激光跟踪器的测量系统，该测量辅助装置具有惯性测量单元(IMU)。该测量系统被设计用于确定借助测量辅助装置扫描的表面点的坐标。
带有惯性测量单元基于激光跟踪系统

[发明专利]用于增材制造的系统和增材制造过程的测量方法-CN201910515107.2有效
发明人：托马斯·延森;杨征;J·斯蒂格瓦尔 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2019-06-14 - 公布日： 2022-08-23 - 主分类号： B22F12/90 文献下载
摘要：用于增材制造的系统和增材制造过程的测量方法。一种用于有监测地进行物体的增材制造的系统(1)，包括：制造单元(20)，其用于在制造体(21)中基于含金属的制造材料进行物体的增材制造，借助于以下处理建造物体：以规定的量重复逐层提供制造材料，并且至少部分地、精确定位地对所提供的制造材料进行成形。系统还包括具有投影器和摄像头的光学检查单元(10)以及控制及处理单元。制造体(21)包括透光区域，投影器和摄像头设置在制造体(21)外部，被对准以使各光轴(12a、12b)穿过各透光区域；投影器在制造区(23)上生成投影，摄像头至少拍摄制造区(23)中可以覆盖投影的公共部分。至少摄像头(15a、15b)与制造体(21)热分离。
用于制造系统过程测量方法

[发明专利]坐标测量机-CN202111054101.3在审
发明人：帕斯卡尔·乔迪尔;J·斯蒂格瓦尔 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2016-01-20 - 公布日： 2021-12-07 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种坐标测量机。该坐标测量机包括：托架(12，30，31)，用于作为目标的末端执行器(40)的支撑定位结构，末端执行器(40)能以至少三个自由度移动并由托架(12，30，31)定位；固定式计量台(35)，作为可能目标对象的支撑；和控制单元，该控制单元控制由托架(12，30，31)进行的末端执行器(40)的移动。CMM进一步包括：至少一个特别是至少两个成像检测器(33)，用于在六个自由度上测量并确定可能目标对象的位置；和分析单元，用于处理由成像检测器(33)传送的电子信号和/或数据。根据本发明，成像检测器(33)被牢固地安装至计量台(35)并与托架(12，30，31)机械地分离。
坐标测量

[发明专利]对目标点进行位置确定和/或标记的反射器装置-CN201910882877.0有效
发明人：托马斯·延森;A·施文德纳;J·斯蒂格瓦尔 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2019-09-18 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： G01C15/00 文献下载
摘要：本发明涉及对目标点进行位置确定和/或标记的反射器装置。本发明涉及一种反射器装置(20)，该反射器装置具有至少一个回射器(21、22)以及至少一个传感器装置(23、24)，所述至少一个传感器装置关于射束入射方向布置在所述回射器(21、22)的下游并且具有传感器(28、28’)。所述传感器装置(23、24)包括具有代码图案的代码元件(26、26’)，并且所述回射器(21、22)、所述代码元件(26、26’)以及所述传感器(28、28’)是按照下面的方式布置的：所述代码元件(26、26’)布置在所述回射器(21、22)与所述传感器(28、28’)之间，并且能够借助于所述传感器(28、28’)来确定关于所述代码图案在所述检测面上的投影的光轴的随角度变化的位置。
目标进行位置确定标记反射装置

[发明专利]通过有意引入的光学像差使视觉伪影最小化来改进结构光投影-CN202110494399.3在审
发明人： A·施文德纳;托马斯·延森;J·斯蒂格瓦尔 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2021-05-07 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明涉及通过有意引入的光学像差使视觉伪影最小化来改进结构光投影。一种三角测量装置用于通过将结构光图案投影到测量对象上来测量测量对象，该三角测量装置包括：投影仪，其被配置成将结构光图案投影到测量对象上，结构光图案能被分解成不同的空间频率，投影仪包括：像素元素矩阵，其中，伪影图案由相邻像素元素之间的伪影区域限定，以及透镜系统，其中，透镜系统确定相对于参考波前具有波前像差的波前；以及摄像头，该摄像头包括透镜系统和成像传感器，其中，摄像头被配置成接收由投影仪投影到测量对象上的结构光图案；以及处理单元，其被配置成通过评估由摄像头提供的成像信息来提供距离信息。
通过有意引入光学差使视觉最小化改进结构投影

[发明专利]提供改进测量质量的光线上的光强度补偿-CN201610959254.5有效
发明人：彼得·基佩弗;J·斯蒂格瓦尔;托马斯·延森 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2016-11-03 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明涉及提供改进测量质量的光线上的光强度补偿。提供用于对待测量物体进行基于三角测量的距离测量的测量光的方法，其中，通过检测被物体反射的测量光的至少一些部分能推导出距离信息。该方法包括：发射光以及对光进行整形，使得所述测量光被设置成具有中点和两个相对端部的线的形式。调节所述线上的光的强度分布，使得所述线的端部处的相应光强度比所述中点周围的光强度高至少10％。
提供改进测量质量线上强度补偿

[发明专利]基于三角测量原理来确定距离的方法和测距单元-CN201610942689.9有效
发明人： J·斯蒂格瓦尔;托马斯·延森;P·钱普 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2016-11-01 - 公布日： 2020-07-24 - 主分类号： G01S17/48 文献下载
摘要：基于三角测量原理来确定距离的方法和测距单元。所述方法包括：生成并发射测量光束；将测量光束对准所述物体；在限定的检测序列期间，利用图像传感器的相应像素检测测量光从物体的反射；以及基于检测到的反射来导出距离信息。检测序列包括皆限定传感器的像素的特定曝光时段和饱和度限制的至少两个曝光子序列，其中，相继的曝光子序列包括比先前曝光子序列高的饱和度限制，并且各个饱和度限制都针对相应曝光子序列限定像素的最大充电水平。像素被反射的测量光至少部分曝光，由此各个曝光像素的电荷改变，根据对应曝光子序列的时段的相应饱和度限制来限制或部分重置在检测序列期间达到最大充电水平中的至少一个的各个像素的电荷。
基于三角测量原理确定距离方法测距单元

[发明专利]包括鱼眼透镜的回射器-CN201910890808.4在审
发明人：托马斯·延森;A·施文德纳;杨征;J·斯蒂格瓦尔;D·布吕尔曼 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2019-09-20 - 公布日： 2020-03-27 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：包括鱼眼透镜的回射器。本发明涉及一种用于目标点的位置确定和/或标记的反射器装置(20)，其包括回射器(21、22)和第一传感器装置，借助于该第一传感器装置，穿过回射器(21、22)的取向测量辐射是能够获取的。第一传感器装置包括提供鱼眼透镜的第一光学组件(25、26)以及第一传感器(23、24)，其中，回射器(21、22)和第一传感器装置以这样的方式布置：穿过回射器(21、22)的取向测量辐射能够借助于第一光学组件(25、26)投射到第一传感器(23、24)的检测表面上。
包括透镜回射器

[发明专利]识别物体表面点或区域的方法、光学传感器以及存储介质-CN201710455386.9有效
发明人： J·斯蒂格瓦尔;托马斯·延森 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2017-06-16 - 公布日： 2020-03-20 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：识别物体表面点或区域的方法、光学传感器以及存储介质。针对特定光学测量来确定物体性质。一种识别具有特定测量性质的待测量的物体的表面点或区域(14、15)以用于利用光学传感器(10)对相应点或区域(14、15)进行光学测量的方法，光学传感器(10)提供限定的测量条件，测量条件至少关于为限定的空间关系的测量光的发射和反射测量光的接收。该方法包括：限定物体的关注点或区域(14、15)，针对期望的光学测量来确定限定的点或限定的区域(14、15)的光学性质，并基于该光学性质来导出物体信息。
识别物体表面区域方法光学传感器以及存储介质

[发明专利]发光单元和基于三角测量的测距装置-CN201610951617.0有效
发明人： J·斯蒂格瓦尔;彼得·基佩弗;托马斯·延森 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2016-11-02 - 公布日： 2020-02-28 - 主分类号： G01C3/18 文献下载
摘要：发光单元和基于三角测量的测距装置。一种用于提供具体为激光的限定测量光的发光单元，具体为基于三角测量的测距装置的发光单元或者用于基于三角测量的测距装置的发光单元，该发光单元包括：用于发射光的光源，具体为用于发射激光的激光源；以及射束成形组合件，其用于通过影响由光源发射的光的传播来整形所述光，其中，射束成形组合件被设置并设计成使得按具有中点和两个相对端部的光线形式来提供测量光。射束成形组合件包括至少一个微透镜阵列，至少一个微透镜阵列包括多个微透镜，其中，多个微透镜被设计和设置为彼此相邻地接合，并且连续的微透镜的曲率的代数符号相反，使得提供周期性的结构，其中，周期性由至少两个连续的微透镜限定。
发光单元基于三角测量测距装置

[发明专利]借助于激发荧光进行表面测量-CN201910499663.5在审
发明人：托马斯·延森;杨征;J·斯蒂格瓦尔 -专利权人：赫克斯冈技术中心
申请日： 2019-06-11 - 公布日： 2019-12-24 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：借助于激发荧光进行表面测量。一种测量物体的测量装置，其包括测距单元，该测距单元具有：射束发射单元，该射束发射单元生成测量辐射；和检测器(12)，该检测器检测在物体表面上反射的测量辐射，所述检测器具有至少一个第一传感器。所述测距单元生成距离测量数据，并可以根据三角测量原理，借助所述测量辐射和所述反射测量辐射来生成反射测量数据作为第一距离测量数据。可以生成具有这样的波长谱的所述测量辐射，即，能够通过所述测量辐射与所述物体材料的相互作用激发荧光并且可以发射荧光，所述荧光的光谱和所述测量辐射的波长谱不同。所述检测器检测所述荧光，并且可以基于所述荧光来生成荧光测量数据作为第二距离测量数据。
测量辐射距离测量数据测距单元荧光检测器检测器检测发射单元激发荧光波长谱射束反射测量数据三角测量原理第一传感器表面测量测量装置发射荧光反射测量物体表面物体材料荧光测量光谱反射

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