专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于检查和/或成像样品的带电粒子束装置和方法-CN202180032855.0在审
  • D·温克勒;B·沃勒特;B·夏宾格 - ICT半导体集成电路测试有限公司
  • 2021-03-09 - 2022-12-23 - H01J37/04
  • 描述成像和/或检查样品140的带电粒子束装置10。带电粒子束装置包括:发射一次带电粒子束105的束发射器150,带电粒子束装置适于沿光轴101将一次带电粒子束引导至样品以释放信号粒子;在撞击样品前阻滞一次带电粒子束的阻滞场装置100,阻滞场装置包括物镜110和代理电极130,其中代理电极包括允许一次带电粒子束和信号粒子通过的开口131;代理电极与物镜间的离轴背散射粒子的第一检测器120;以及放大第一检测器信号的前置放大器121,其中前置放大器为下列至少一者:(i)与第一检测器整合,(ii)在带电粒子束装置真空外壳102内侧邻近第一检测器布置,及(iii)固定安装在带电粒子束装置真空腔室中。也描述利用带电粒子束装置成像和/或检查样品的方法。
  • 用于检查成像样品带电粒子束装置方法

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