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[发明专利]峰面积显示装置及方法、峰面积计算装置及方法-CN202211259684.8在审
发明人： 野田阳 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2022-10-14 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G01N30/86 文献下载
摘要：本发明涉及峰面积显示装置，具备获取部、峰面积计算部及显示装置。获取部获取由色谱仪测量而得的测量数据。峰面积计算部将示出从测量数据(MD)得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使模型函数拟合至色谱图。峰面积计算部还求出峰面积的最大值或最小值。显示装置(显示器)显示由峰面积计算部求出的峰面积的最大值或最小值，或者显示对峰面积的最大值或最小值进行处理而得到的信息。
面积显示装置方法计算装置

[发明专利]峰追踪装置、峰追踪方法及峰追踪程序-CN202180037872.3在审
发明人： 野田阳 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2021-03-31 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01N30/86 文献下载
摘要：本发明涉及一种峰追踪装置，具备：色谱图获取部，基于将多个分析条件数据给予分析装置而得到的多个测量数据，获取多个色谱图；分数计算部，计算基于示出各色谱图中包含的各个峰属于试样中所包含的哪种物质的所属概率的分数数据；分数显示部，将由分数计算部计算出的分数数据显示在显示器。
追踪装置方法程序

[发明专利]峰跟踪装置、峰跟踪方法以及峰跟踪程序-CN202180036507.0在审
发明人： 野田阳 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2021-02-22 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：峰跟踪装置具备：色谱获取部(203)，其基于通过向分析装置(3)提供分析条件数据(AP)而得到的测定数据(MD)来获取色谱(CG)；以及峰对应部(205)，其将各色谱中包含的各峰进行对应。峰对应部包括：峰谱提取部(206)，其从根据各测定数据获取到的测定谱数据(MSD)中提取源自峰的谱即峰谱数据(PSD)；正交谱提取部(207)，其从测定谱数据中提取与峰谱数据的成分中的主导成分正交的谱数据(RSD)；以及相似度判定部(208)，其根据由正交谱提取部提取出的谱数据的相似度来进行各峰的对应。
跟踪装置方法以及程序

[发明专利]分析方法和诊断辅助方法-CN202210555103.9在审
发明人：藤田雄一郎;野田阳;玉井雄介;山田贤志 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2022-05-20 - 公布日： 2022-11-29 - 主分类号： G01N30/86 文献下载
摘要：本发明涉及分析方法和诊断辅助方法。用于对试样进行分析的分析方法包括：第一工序，获取对基于试样的第一信号附加了基于噪声的第二信号所得到的测定数据，来作为试样的分析结果；第二工序，假定第一信号所遵循的形状和第二信号所遵循的形状，通过贝叶斯推断来对测定数据进行模型化；以及第三工序，基于模型化后的测定数据来估计试样的特性的概率分布。
分析方法诊断辅助

[发明专利]波形信息估计方法及装置以及峰波形处理方法及装置-CN202180028313.6在审
发明人： 野田阳 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2021-01-13 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G01N30/86 文献下载
摘要：根据本发明的一个方式的波形信息估计装置具备：波形提取部(31)，其从基于使用规定的分析装置进行的实测的信号波形中提取作为模型化对象的部分波形；以及对抗学习部(32)，其将由波形提取部获得的部分波形作为输入来执行使用了生成模型和识别模型这两个相互对抗的模型的对抗学习，由此获取与所述部分波形对应的模型函数或者获取该模型函数及该函数中的形状的分布信息。根据本发明，能够获取精度高的峰模型函数及其形状参数的分布信息。
波形信息估计方法装置以及处理

[发明专利]分析数据解析装置以及分析数据解析方法-CN201810215795.6有效
发明人： 野田阳 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-03-15 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：提供分析数据解析装置以及分析数据解析方法。利用教师数据执行机器学习来构建用于判别分析或回归分析的非线性函数即学习模型(S2)，根据该函数的偏微分值按每个输入维度计算贡献度。利用由基于该贡献度的高斯分布函数确定的阈值来决定要无效化的输入维度(S3～S5)。再次进行利用了一部分输入维度无效化后的教师数据的机器学习(S6)，根据得到的学习模型来求出每个输入维度的贡献度，基于新旧的贡献度更新贡献度(S7～S8)。重复规定次数的步骤S5～S8的处理(S9)，在基于最终的贡献度决定有用的输入维度之后构建机器学习模型(S10)。由此，即使与解析对象的数据的多样性相比教师数据的样本数少时，也能够减少过度学习。
分析数据解析装置以及方法

[发明专利]逐次逼近计算方法、逐次逼近计算装置以及程序-CN201980089772.8在审
发明人：田川雄介;野田阳;高桥涉;小林哲哉 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2019-11-14 - 公布日： 2021-08-27 - 主分类号： G06F17/17 文献下载
摘要：提供能够将逐次逼近计算法中使用的解的初始值设为接近真值的值的逐次逼近计算方法等。计算机通过使用由数字全息装置测定出的干涉条纹强度数据(10)等以及估计出的物体像的相位的初始值即干涉条纹相位初始值数据(20)进行逐次逼近计算，来计算进行相位恢复所得到的物体像的干涉条纹相位估计值数据(30)。干涉条纹相位初始值数据(20)是由初始相位估计器(300)计算出的。初始相位估计器(300)是通过使用学习用的干涉条纹强度数据等实施机器学习而构建出的。计算机通过使用通过相位恢复所得到的物体像的干涉条纹相位估计值数据(30)以及用作初始相位估计器(300)的输入数据的干涉条纹强度数据(10)进行光波传输计算，来获取重构出的重构强度数据(40)和重构相位数据(50)。
逐次逼近计算方法计算装置以及程序

[发明专利]试样测定装置、程序及测定参数设定支持装置-CN201880099710.0在审
发明人： 野田阳 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-11-29 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G01N30/86 文献下载
摘要：本发明的试样测定装置包括：测定部(1)，进行试样的测定；以及控制部(2)，对由测定部所得的测定结果进行分析。控制部(2)构成为基于由测定参数的条件互不相同的多个测定条件所得的测定结果，使用模型式来推定并获取其他测定条件下的测定结果，并且基于所推定出的测定结果来推定测定品质指标相对于测定参数的分布。
试样测定装置程序参数设定支持

[发明专利]数据解析装置-CN201880097252.7在审
发明人：藤田雄一郎;野田阳 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-09-13 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：多次重复进行以下一系列处理：将被提供的带标签教师数据分割为模型构建用数据和模型验证用数据，使用模型构建用数据来构建机器学习模型，并将该模型应用于模型验证用数据来识别样本(赋予标签)(S2～S5)。虽然当模型构建用数据改变时构建出的机器学习模型改变，但是应该能够以高概率准确地进行识别，因此在错误标签样本中，原本的标签与识别结果不一致从而成为错误识别的可能性高。当针对每个样本计算该错误识别次数来求出错误识别率时，在错误标签样本中错误识别率相对变高，因此基于错误识别率来确定错误标签样本(S6～S7)。像这样，通过以高精度检测教师数据所包含的、错误标签状态的可能性高的样本，能够提升机器学习模型的识别性能。
数据解析装置

[发明专利]色谱数据处理方法以及色谱数据处理装置-CN201680083134.1有效
发明人： 野田阳 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2016-01-06 - 公布日： 2021-03-02 - 主分类号： G01N30/86 文献下载
摘要：色谱数据处理方法以及色谱数据处理装置，提取在基于处理对象即观测数据的色谱上检测的各峰的波长光谱，制作将其强度值归一化的光谱集合。然后，选择其中一个波长光谱，并以与该光谱的向量方向正交的方式，对基于观测数据的在各测量时间点的波长光谱的向量进行投影。此外，对集合内的各波长光谱的向量也同样地投影。由此，选择的光谱从集合消失。然后，重复上述处理，直到集合内光谱消失，合计所得到的信号。合计后的信号变成表示未知的基线的波形形状的信号，因此通过将其与从观测数据得到的每个波长的色谱进行拟合求出基线的光谱，根据该基线光谱与基线色谱计算每个波长的基线信号。由此，无需用户进行参数的设定等，能够自动推定基线。
色谱数据处理方法以及装置

[发明专利]泵监视装置、真空处理装置以及真空泵-CN201780089971.X在审
发明人：玉井雄介;野田阳 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2017-04-27 - 公布日： 2019-12-06 - 主分类号： F04B49/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种泵监视装置，对连接到同一腔室的多个真空泵的异常进行检测，泵监视装置基于对表示多个所述真空泵的各个泵转子的旋转状态的信号进行比较的结果，推定在多个所述真空泵的任一个发生了异常。
真空泵监视装置同一腔室旋转状态泵转子推定检测

[发明专利]分析数据处理方法和分析数据处理装置-CN201680088305.X在审
发明人： 野田阳 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2016-08-03 - 公布日： 2019-04-02 - 主分类号： G01N30/78 文献下载
摘要：本发明所涉及的分析数据处理方法通过对由分析装置关于多个试样中的各个试样分别收集到的、由该分析装置所具备的多通道检测器的多个通道的输出值构成的多维的分析数据应用使用统计机器学习的解析方法，来对该分析数据进行处理，所述方法的特征在于，计算表示关于已知试样得到的分析数据的非线性回归函数或非线性判别函数，根据计算出的所述非线性回归函数或所述非线性判别函数的微分值，来计算构成所述已知试样的分析数据的多个通道的输出值各自的对于所述非线性回归函数或所述非线性判别函数的贡献度，基于该贡献度，从所述检测器的多个通道中决定在关于未知试样得到的分析数据的处理中使用的通道。
分析数据非线性回归函数非线性判别分析装置数据处理贡献度检测器多通道检测器数据处理装置输出统计机器应用使用分析多维解析学习

[发明专利]多通道分光光度计以及多通道分光光度计用数据处理方法-CN201580075811.0在审
发明人：军司昌秀;野田阳;大竹健介 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2015-02-09 - 公布日： 2017-10-13 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本发明的课题在于，在用多个受光元件接收各波长的光的情况下减轻入射到各受光元件的杂散光的影响。本发明所涉及的多通道分光光度计将来自试样的光导入分光元件(16)，对通过由该分光元件(16)进行波长色散所得到的波长色散光进行同时检测，该多通道分光光度计具备多通道型检测器(17)，其具备沿所述分光元件(16)的波长色散方向一维状地配置的多个受光元件(PD)；光量计算部(221)，其根据多个受光元件(PD)的检测信号来计算波长色散光的光量；光谱制作部(222)，其根据由该光量计算部(221)计算出的光量来制作表示波长与光量的关系的光谱；以及运算部(224)，其根据光谱估计入射到各受光元件(PD)的杂散光的光量，从入射到各受光元件的波长色散光的光量减去该杂散光的光量来校正所述光谱。
通道分光光度计以及数据处理方法

[发明专利]色谱数据处理方法以及装置-CN201480083142.7在审
发明人： 野田阳 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2014-09-03 - 公布日： 2017-08-18 - 主分类号： G01N30/86 文献下载
摘要：在将在色谱上重叠的峰进行分离时应用高斯混合模型的EM算法。但是，在此，模型数、也就是说相重叠的成分数本身是不清楚的，因此，适当地设定模型数(S1)后通过EM算法将实测信号适当地分配给各模型并且进行模型参数的拟合(S2、S3)。然后，如果解已收敛(S4中“是”)，则判定未被分配的残差信号是否存在峰状波形(S5)，如果存在峰状波形则追加峰模型(S6)来再次执行EM算法。在M步骤中，不仅进行使用单纯的高斯函数的优化，还进行使用设想了拖尾的变形高斯函数的优化。另外，在M步骤中，通过重复进行假设了色谱的频谱估计以及假设了频谱的色谱估计，来进行色谱波形和频谱波形这两方的优化。
色谱数据处理方法以及装置

[发明专利]色谱数据处理装置-CN201380079703.1有效
发明人： 野田阳;水戸康敬 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2013-10-16 - 公布日： 2017-07-21 - 主分类号： G01N30/86 文献下载
摘要：本发明提供一种色谱数据处理装置，可以确切而稳定地判定有无杂质重合。本发明的色谱数据处理装置包括滤波器制作部，算出与多维的主向量正交的一个副向量，将副向量确定为杂质提取用的滤波器，多维的主向量是利用向量来表达如下光谱，即表示关于作为观测对象的目标成分的第三维度与信号强度的关系的光谱或可当作关系的光谱；以及含杂质信息获取部，计算处理对象多维向量与副向量的内积，基于其计算结果判断在处理对象的光谱中有无目标成分以外的杂质，处理对象多维向量是利用向量来表达如下光谱，即根据针对作为测定对象的试样而获得的三维色谱数据所求出的光谱或来自于数据的处理对象的光谱，副向量被确定为滤波器。
色谱数据处理装置

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