专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]半导体处理设备-CN202120308857.5有效
  • 陈鲁;皮林立;马砚忠;张朝前;卢继奎;李少雷;王兵;张嵩 - 深圳中科飞测科技股份有限公司
  • 2021-02-03 - 2021-11-26 - H01L21/67
  • 本申请提供一种半导体处理设备。该半导体处理设备包括壳体、阻隔结构及进风装置。壳体设有第一腔及第二腔。阻隔结构设置在第一腔与第二腔之间,阻隔结构包括第一隔板及第二隔板,第一隔板及第二隔板间隔以形成气流通道,气流通道用于阻挡第二腔内的热量进入第一腔;阻隔结构还包括第一开口与第二开口,第一开口与第二开口均与气流通道连通;进风装置设于壳体的顶部,进风装置的出风方向指向第一开口,用于向气流通道吹风;第一开口用于供进风装置产生的气流进入气流通道,第二开口用于排出流经气流通道的气流。本申请的半导体处理设备利用第一隔板与第二隔板形成的气流通道能阻挡第二腔内的热量进入第一腔,实现第一腔的稳定控温,保证处理精度。
  • 半导体处理设备
  • [发明专利]一种PST杂散光测试数据处理方法-CN201611073975.2有效
  • 张庭成;廖志波;李永强;郭永祥;李洋;黄阳;任海培;皮林立 - 北京空间机电研究所
  • 2016-11-29 - 2019-05-24 - G06T5/00
  • 一种PST杂散光测试数据处理方法如下:(1)基于遥感相机PST特性以及CCD探测器性能的综合评估,反演出对于测环境杂散光的要求;(2)通过对不同状态下杂散光测试图像进行差分计算,分离、提取各类测试噪声在CCD探测器上的分布,从而完成测试噪声的剥离;(3)对剥离测试噪声后的测试图像进行数理分析,解析出图像数据的规模和数值的分布特点;(4)根据解析所得的数据规模和数值分布特点确定稳定、高效、准确的后续处理算法,完成CCD探测器各列杂散能量传递能力的测试。本发明主要用于PST杂散光测试数据处理,能够降低测试系统对于仪器设备的技术要求,具有较高的可移植性和通用性,可以满足各类杂散光测试数据处理的需求。
  • 一种pst散光测试数据处理方法

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