专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种静止轨道高灵敏度低畸变全谱段高光谱成像系统-CN202110674029.8在审
  • 李欢;唐绍凡;陈龙;王保华;任海培;马龙;张祝伟;刘宇翔 - 北京空间机电研究所
  • 2021-06-17 - 2021-10-22 - G01J3/28
  • 一种静止轨道高灵敏度低畸变全谱段高光谱成像系统,包括平行光压缩主光学系统、像方扫描系统、中继望远系统、光谱成像系统、面阵探测器组件、信号处理模块。光谱成像系统包括紫外、可见光、短波红外、中波红外、长波红外5个光谱通道,来自目标的光束依次经平行光压缩主光学系统、像方扫描系统、中继望远系统、光谱成像系统,再成像在面阵探测器组件上,面阵探测器组件将入射光信号转化为数字信号,信号处理模块对获得的信号进行处理从而获得目标的光谱信息。本发明利用系统自身的像方扫描系统在静止轨道实现多路高光谱推扫成像模式,扫描系统放置在平行压缩光路之中,在降低整星扫描难度同时,避免了在会聚光路中加入扫描机构带来的光学系统像差问题,有效解决了星载大口径高分辨率高光谱成像关键技术。
  • 一种静止轨道灵敏度畸变全谱段高光谱成像系统
  • [发明专利]一种PST杂散光测试数据处理方法-CN201611073975.2有效
  • 张庭成;廖志波;李永强;郭永祥;李洋;黄阳;任海培;皮林立 - 北京空间机电研究所
  • 2016-11-29 - 2019-05-24 - G06T5/00
  • 一种PST杂散光测试数据处理方法如下:(1)基于遥感相机PST特性以及CCD探测器性能的综合评估,反演出对于测环境杂散光的要求;(2)通过对不同状态下杂散光测试图像进行差分计算,分离、提取各类测试噪声在CCD探测器上的分布,从而完成测试噪声的剥离;(3)对剥离测试噪声后的测试图像进行数理分析,解析出图像数据的规模和数值的分布特点;(4)根据解析所得的数据规模和数值分布特点确定稳定、高效、准确的后续处理算法,完成CCD探测器各列杂散能量传递能力的测试。本发明主要用于PST杂散光测试数据处理,能够降低测试系统对于仪器设备的技术要求,具有较高的可移植性和通用性,可以满足各类杂散光测试数据处理的需求。
  • 一种pst散光测试数据处理方法

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