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[发明专利]一种双激光辅助加工、修复一体刀具-CN202311087630.2在审
发明人： 熊玉朋;黄铖;欧洋;戴一帆;彭小强 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2023-08-25 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： B28D1/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种双激光辅助加工、修复一体刀具，包括刀体，用于对工件进行切削加工；加工激光组件，用于加热工件待加工区域；修复激光组件，用于加热工件表面的刀纹波峰处。本发明公开的双激光辅助加工、修复一体刀具一方面能够实现激光辅助切削加工，实现硬脆性材料的超精密加工的同时降低刀体磨损，另一方面能同时通过激光对切削过程中在加工表面留下的刀痕实时进行修复。具体而言：修复激光照射到工件表面刀纹波峰处，由于在高温照射下，刀纹波峰处产生融化，并在表面张力作用下流向波谷，从而降低工件表面整体的粗糙度，起到抛光修复的作用。
一种激光辅助加工修复一体刀具

[发明专利]一种基于剪切增稠抛光的超声辅助车削装置及其应用方法-CN202310471933.8在审
发明人：赖涛;李煌;彭小强;徐超;杜春阳;关超亮;刘俊峰;胡皓;熊玉朋;彭文祥;陈付磊 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2023-04-27 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： B23B1/00 文献下载
摘要：本发明涉及剪切增稠抛光技术领域，尤其涉及一种基于剪切增稠抛光的超声辅助车削装置及其应用方法。本发明的装置包括机床部件、超声辅助组件和剪切增稠液循环组件，超声辅助组件安装于机床部件上。超声辅助组件包括车刀，超声辅助组件通过控制车刀高频振动使车刀对工件进行车削时与剪切增稠液循环组件输送的剪切增稠液发生剪切增稠效应从而同时对工件表面进行抛光。本发明还提供该装置的应用方法。本发明利用超声辅助车削中形成的高频振动以及切削区的剪切力实现剪切增稠抛光，可用于硬脆材料的高精度加工，具有在切削加工的同时完成剪切增稠抛光，提高加工效率，消除车削刀纹，提升表面质量的优点。
一种基于剪切抛光超声辅助车削装置及其应用方法

[发明专利]基于光镊微球的白光干涉扫描超分辨测量装置及应用方法-CN202310223374.9在审
发明人：陈善勇;戴一帆;陈威威;熊玉朋;陈俊任;赵志成 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2023-03-09 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光镊微球的白光干涉扫描超分辨测量装置及应用方法，本发明的测量装置包括光束生成单元、第一分光棱镜、第一显微物镜、第二显微物镜、光束反射单元、图像采集单元、样品调整台、被测件和微球透镜，光束反射单元包括遮光板，在遮光板遮挡光束反射单元的状态下，采集被测件的目标区域表面反射的激光以实现对被测件的横向二维超分辨成像；在遮光板未遮挡光束反射单元的状态下，采集被测件的目标区域表面反射的激光与反射单元的反射光干涉以实现对被测件的目标区域的三维形貌测量。本发明将激光光镊技术引进微球透镜超分辨技术与白光干涉显微技术相结合，能够实现对被测件的超分辨、高精度、灵活和高效的二维或三维形貌测量。
基于光镊微球白光干涉扫描分辨测量装置应用方法

[发明专利]基于单波长相位校准的白光移相干涉测量装置及方法-CN202310369236.1在审
发明人：陈善勇;戴一帆;陈威威;彭小强;熊玉朋;刘俊峰 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2023-04-07 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开一种基于单波长相位校准的白光移相干涉测量装置及方法，该装置包括：干涉图样生成模块，用于产生白光光束后分为测量光束和参考光束，测量光束透过干涉显微物镜照射至待测样品的表面，经待测样品反射后在干涉显微物镜内与参考光束干涉，形成干涉图样；图像采集模块，用于将干涉图样的聚焦成像分成两路成像光，其中一路为基于白光光谱的主成像光路，直接成像至第一CCD相机，另一路为相差校正光路，经滤波后成像至第二CCD相机；主控模块，用于控制干涉显微物镜移相扫描，接收干涉图数据进行数据处理；样品调整台，用于实现被测件的调节。本发明具有实现简单、成本低以及测量精度高等优点。
基于波长相位校准白光相干测量装置方法

[发明专利]一种基于多面共体光学元件的紧凑型无焦系统-CN202211378246.3在审
发明人： 熊玉朋;彭小强;陈付磊;戴一帆;陈善勇;彭文祥 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-11-04 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G02B17/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于多面共体光学元件的紧凑型无焦系统，包括：第一光路模块和第二光路模块；沿物侧至像侧方向，所述第一光路模块和所述第二光路模块依次同轴的设置；所述第一光路模块和所述第二光路模块分别为全反射式光传输模块，且所述第一光路模块与所述第二光路模块焦点重合的设置；所述第一光路模块具有第一入瞳和第一出瞳；所述第二光路模块具有第二入瞳和第二出瞳；所述第一光路模块通过所述第一入瞳接收外界的光线并由所述第一出瞳输出；所述第二光路模块通过所述第二入瞳接收所述第一出瞳输出的光线，并由所述第二出瞳以平行光形式输出。
一种基于多面光学元件紧凑型系统

[发明专利]基于光学结构的偏振/红外视觉导航与环境感知终端-CN202211143190.3在审
发明人：张礼廉;毛军;何晓峰;熊玉朋;胡小平;范晨;陈昶昊 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-09-20 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G02B27/46 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于光学结构的偏振/红外视觉导航与环境感知终端，包括：光学透镜部分，偏振透镜阵列成像部分，红外成像部分，红外反射光路部分，滤波结构和中央处理单元；光学透镜部分、偏振透镜阵列成像部分和红外成像部分处于同一光轴上；滤波结构设置在红外成像部分物侧，或，滤波结构在光学透镜部分的侧面上；偏振透镜阵列成像部分用于接收未经过滤波结构的光并成像；红外成像部分用于接收经过滤波结构的光并成像；若滤波结构设置在红外成像部分物侧，则红外反射光路部分用于接收经过光学透镜部分的光并传输至滤波结构；若滤波结构设置在光学透镜部分的侧面上，则红外反射光路部分用于接收经过滤波结构的光并传输至红外成像部分成像。
基于光学结构偏振红外视觉导航环境感知终端

[发明专利]一种超精密车削加工在位检测装置及其应用方法-CN202011307600.4有效
发明人：铁贵鹏;陈善勇;熊玉朋 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2020-11-19 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： B23B25/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种超精密车削加工在位检测装置及其应用方法，本发明的超精密车削加工在位检测装置包括三维精密调整台、五维精密调整台、夹具、小口径干涉仪组件和计算全息图板，所述五维精密调整台、夹具分别安装在三维精密调整台上，所述小口径干涉仪组件安装在夹具上，所述计算全息图板安装在五维精密调整台上；本发明的应用方法为应用于超过小口径干涉仪组件测量口径的待测光学元件的在位检测方法。本发明能够实现波面干涉的在位检测，提高波面干涉检测的精确度，并能够进一步超精密车削加工的效率，尤其适用于大口径光学元件的在位检测。
一种精密车削加工在位检测装置及其应用方法

[发明专利]基于双相关性降低的图深度聚类方法-CN202210332349.X在审
发明人：周思航;刘悦;杨希洪;刘新旺;涂文轩;熊玉朋;郭瑞斌;张伦;唐邓清;陈浩 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-03-31 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本申请涉及一种基于双相关性降低的图深度聚类方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待聚类的原始目标关系图；基于特征相似度和图扩散，分别对原始目标关系图进行数据增强，得到分类图邻接矩阵和扩散矩阵，根据分类图邻接矩阵和高斯噪声，得到第一增广图，根据扩散矩阵和高斯噪声得到第二增广图；将第一增广图和第二增广图的特征图分别输入预先训练的双相关性降低网络进行样本层面的相关性降低和特征层面的相关性降低，得到双相关性降低特征图；对双相关性降低特征图进行图聚类，得到目标关系聚类图。采用本方法能够避免表示坍缩，提升聚类性能。
基于相关性降低深度方法

[发明专利]基于多阶邻居信息传递融合聚类网络的图聚类方法和装置-CN202210502357.4在审
发明人：周思航;龚磊;涂文轩;刘新旺;熊玉朋;张伦;郭瑞斌 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-05-10 - 公布日： 2022-07-26 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本申请涉及一种基于多阶邻居信息传递融合聚类网络的图聚类方法和装置。所述方法包括：对原始图数据样本进行随机游走，得到优化邻接矩阵；构建深度融合聚类网络；对节点特征编码信息和结构编码信息进行融合，得到融合编码信息；对融合编码信息进行软分配矩阵计算；并通过软分配矩阵生成目标分配矩阵；根据预先设置的损失函数，对深度融合聚类网络进行训练，利用训练好的深度融合聚类网络输出图数据对应的节点表示进行K‑means聚类。采用本方法能够提高聚类效果。
基于邻居信息传递融合网络图聚类方法装置

[发明专利]一种用于高精度位移传感器的标定方法-CN202210468123.2在审
发明人：赖涛;彭小强;戴一帆;刘俊峰;熊玉朋;胡皓;关朝亮 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-04-29 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G01B21/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于高精度位移传感器的标定方法，本发明方法包括选择标准低矢高球面的某一条母线，采用被标定的高精度位移传感器进行测量；采用球面母线理想轮廓，与测量得到的球面母线轮廓测量结果进行匹配；选取球面母线轮廓测量结果的一半数据，并将选取的一般数据与匹配后的球面母线理想轮廓点对点作差，得到被标定的高精度位移传感器对应测量行程位置的误差。本发明方法能够广泛应用位移传感器的标定，标定过程简便易行，极大提高了传感器标定的精度与可靠性，实现较快的传感器行程误差补偿，提升传感器测量精度，本发明方法可用于高精度位移传感器在自身测量行程范围内的连续校准，具有操作简便易于补偿和控制的优点。
一种用于高精度位移传感器标定方法

[发明专利]一种图数据的表示学习方法、装置、计算机设备和介质-CN202210335754.7在审
发明人：周思航;杨希洪;刘悦;刘新旺;涂文轩;熊玉朋;郭瑞斌 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-03-31 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G06N3/04 文献下载
摘要：本申请涉及一种图数据的表示学习方法、装置、设备和介质，方法包括：获取图数据中的不同节点，节点包括节点的特征信息、节点的标签信息以及节点之间的拓扑信息；采用编码网络，将特征信息和拓扑信息嵌入到潜空间中，得到潜空间样本；采用线性插值函数，根据训练集样本和潜空间样本进行插值嵌入，得到插值视图；根据插值视图得到预测数据；根据标签信息进行插值嵌入，得到插值标签；根据预测数据和所述插值标签，计算分类损失；求解学习损失的最小值，得到当前编码网络；学习损失包括分类损失；根据当前编码网络，对图数据进行特征表示。采用本方法能够提高潜在特征的判别能力，从而缓解表示坍缩的问题。
一种数据表示学习方法装置计算机设备介质

[发明专利]光学面形局部大误差的补偿干涉测量装置与方法-CN202011382187.8有效
发明人：陈善勇;戴一帆;薛帅;翟德德;刘俊峰;彭小强;熊玉朋 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2020-12-01 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学面形局部大误差的补偿干涉测量装置与方法，本发明补偿干涉测量装置包括干涉仪、二维姿态调整平台和三维平移台，所述干涉仪安装固定在二维姿态调整平台上，所述二维姿态调整平台安装固定在三维平移台上，所述干涉仪内部设有探测器以及内部光路系统，所述干涉仪的出光口设有球面镜头，且所述干涉仪的外部光路上安装有针孔板和补偿器，可用于光学面形局部大误差的补偿干涉测量，具有结构简单，光路容易对准的优点；本发明方法基于零位补偿的激光波面干涉原理，测量的分辨率和精度都很高，动态范围大，能测得全口径测量时无法解析的局部大误差，通过多个不同部位的测量数据的拼接，能获得被测镜面上全口径可解析的面形误差。
光学局部误差补偿干涉测量装置方法

[发明专利]柱面镜的CGH补偿绝对检验方法-CN202210060815.3在审
发明人：陈善勇;戴一帆;翟德德;刘俊峰;熊玉朋;彭小强 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-01-19 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种柱面镜的CGH补偿绝对检验方法，该方法先通过带有标准平面镜头的平面波干涉仪和CGH补偿器对柱面镜的共焦位置进行零位检测，得到检测结果W1，之后绕平行于柱面镜的轴线方向前后翻转CGH补偿器，对柱面镜的共焦位置进行零位检测，得到检测结果W2，最后移去柱面镜，CGH补偿器前后翻转恢复初始位置，将标准平面反射镜置于柱面测试波的焦线位置进行检测，得到检测结果W3，通过计算得到柱面镜的CGH补偿面形误差绝对检验结果。本发明的方法通过三个检验位置完全分离出CGH补偿器引入的面形误差，获得柱面镜的CGH补偿绝对检验结果，具有操作简易和精度高的优点。
柱面 cgh 补偿绝对检验方法

[发明专利]光学面形补偿干涉测量中的投影畸变校正方法、系统及介质-CN202011385606.3有效
发明人：陈善勇;戴一帆;胡皓;关朝亮;翟德德;熊玉朋;薛帅 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2020-12-01 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： G01B9/02055 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学面形补偿干涉测量中的投影畸变校正方法、系统及介质，本发明的投影畸变校正方法包括：建立测量系统光学模型，在与点光源共焦位置插入一个虚拟参考球面；进行光线追迹，分别获得入瞳坐标网格光线对应的被测镜面上交点的横坐标{(xm,ym)}和虚拟参考球面上交点的横坐标{(xr,yr)}；标定干涉仪像面上的像素坐标(u,v)对应虚拟参考球面上横坐标(xrt,yrt)的线性比例因子，将干涉仪测得面形误差分布的像素坐标转换为虚拟参考球面上的横坐标(xrt,yrt)；进行畸变校正得到结果。本发明不需使用实物标记点序列，不需对畸变进行函数拟合，具有计算方法简单、效率高和精度高的优点。
光学补偿干涉测量中的投影畸变校正方法系统介质

[发明专利]共轴全反式光学成像系统-CN201711251006.6有效
发明人：戴一帆;熊玉朋;陈善勇;关朝亮;铁贵鹏;彭小强 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2017-12-01 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： G02B17/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种共轴全反式光学成像系统，前反射元件上开设有入射孔，前反射元件、后反射元件相对设置，前反射元件和后反射元件相对的两个面上分别加工出前反射面和后反射面，前反射面包括N个共轴环形反射面，且分别为第二反射面、第四反射面、……、第2N反射面(1n)，后反射面包括N个共轴环形反射面，且分别为第一反射面、第三反射面、……、第2N‑1反射面(2n)，共轴环形反射面为平面、二次曲面或非球面，光线通过入射孔进入前反射面和后反射面之间并依次通过第一反射面、第二反射面、第三反射面、第四反射面、……、第2N‑1反射面、第2N反射面反射后汇聚至成像面上，具有结构简单紧凑、便于调试、成像质量好且能实现大视场角等优点。
共轴全反式光学成像系统

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