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[发明专利]一种高精度芯轴圆柱形貌在位测量与重构方法-CN202310651031.2在审
发明人：戴一帆;许汉威;关朝亮;胡皓;孙梓洲 -专利权人：湖南先进技术研究院
申请日： 2023-06-02 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： B23Q17/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种高精度芯轴圆柱形貌在位测量与重构方法，应用于在位测量系统，方法包括以下步骤：建立绝对坐标系和测量坐标系；获取高精度芯轴的目标截面的传感器采样数据，从传感器采样数据中剔除零次谐波分量；使用剔除零次谐波分量后的传感器数据分别计算目标截面的最小二乘圆心和平均半径；根据最小二乘圆心和平均半径计算目标截面的表面各点在测量坐标系中的坐标，根据测量坐标系与绝对坐标系的转换关系，将目标截面的表面各点的坐标从测量坐标系转换到绝对坐标系中；将所有目标截面拟合得到重构的高精度芯轴圆柱形貌。本发明利用三个传感器消除调零误差、测量系统的直线运动误差对误差分离精度的影响，提升了高精度芯轴圆柱形貌重构的精度。
一种高精度圆柱形貌在位测量方法

[发明专利]多光束非相干空间合成用压电驱动变形镜及其装配方法-CN201910181468.8有效
发明人：宁禹;范占斌;张明;何宇龙;孙全;关朝亮;铁贵鹏;戴一帆;许晓军 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2019-03-11 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G02B26/08 文献下载
摘要：本发明申请公开了一种多光束非相干空间合成用压电驱动变形镜，包括支撑架、半圈夹具、蜂窝镜体、压电驱动器和接电组件，所述半圈夹具紧固在所述支撑架上，所述蜂窝镜体和所述接电组件分别置于所述半圈夹具前后端圈口内，所述压电驱动器粘接于所述蜂窝镜体背面，所述压电驱动器与所述接电组件电连接，所述半圈夹具由两个半环闭合组成，所述半圈夹具的两个连接端，至少一端为调节端，用于调节对所述蜂窝镜体的夹持力。根据本申请实施例的多光束非相干空间合成用压电驱动变形镜具有结构紧凑、安装方便、形变范围大、形变精度高和形变稳定性好的特点，能提高对非相干空间合成激光系统改善光束质量的能力。
光束相干空间合成压电驱动变形及其装配方法

[发明专利]一种平面机械零件的超精密控时磨削加工方法及系统-CN202310125548.8在审
发明人：戴一帆;孙梓洲;关朝亮;胡皓;赖涛;许汉威 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2023-02-16 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： B24B35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种平面机械零件的超精密控时磨削加工方法及系统，方法包括：用非接触式轮廓测量仪测量工件当前平面的面形数据，并根据面形数据计算当前平面的误差数据，根据误差数据设置控时磨削参数；用控时磨削机床在所述控时磨削参数下加工样件得到去除函数，使用一维卷积算法根据当前平面的误差数据和去除函数对当前平面进行控时磨削修形；用非接触式轮廓测量仪测量加工后的当前平面的面形数据，并根据面形数据计算当前平面的误差数据，若误差数据精度不达标，执行用非接触式轮廓测量仪测量工件当前平面的误差数据的步骤，直到测量精度达标。本发明能够对平面机械零件进行高效率、高形位精度的加工。
一种平面机械零件精密磨削加工方法系统

[发明专利]一种在位测量控时磨削装置及其测量方法-CN202310265144.9在审
发明人：翟德德;戴一帆;胡皓;孙梓洲;陈善勇;关朝亮 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2023-03-17 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： B24B13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种在位测量控时磨削装置，包括床身，床身上设有沿X轴运动并可旋转调节的工件安装座、沿Y轴和Z轴运动的控时磨削加工平台和测量平台，控时磨削加工平台上设有控时磨削加工机构，测量平台的顶部设有第一测量机构，底部设有第二测量机构。还公开了一种在位测量控时磨削装置的测量方法，包括步骤：移位；校准；第一次形成光栅测量轨迹；补偿误差；第二次形成光栅测量轨迹；获得准确的面形数据；磨削修形。本在位测量控时磨削装置及其测量方法能够实现光学元件加工的在位测量，降低了因搬运和重复装夹对工件加工精度与效率的影响，提高了测量效率和加工粒度，做到了加工检测一体化。
一种在位测量磨削装置及其测量方法

[实用新型]一种便捷的检验箱-CN202223281878.6有效
发明人：赵佳;汪海波;宋喜臣;关朝亮;吕萍萍;韩宁 -专利权人：赵佳
申请日： 2022-12-08 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01N33/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及食品检验领域，具体的说是一种便捷的检验箱，包括；伸缩拉杆和通过连接组件限位的滚轮组件可以使得人们在携带检验箱至商户店铺过程中，可以通过牵拉伸缩拉杆，拉动检验箱移动，同时滚轮组件在地面滚动，此时便减少了检验人员在携带检验箱时的劳累，当检验人员到达检验地点，想要将检验箱平稳放置于桌面时，此时可以通过将伸缩拉杆缩回安装槽内，同时收纳组件将滚轮组件收纳至收纳槽内，此时便可以将检验箱在桌面稳定放置，可以将检验箱内的检测设备取出，进行使用。
一种便捷检验

[发明专利]基于快速伺服刀具的弱刚度反射镜加工方法、系统及介质-CN202111320657.2有效
发明人： 关朝亮;戴一帆;黎泽龙;胡皓;彭小强 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2021-11-09 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： B23Q15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于快速伺服刀具的弱刚度反射镜加工方法、系统及介质，方法包括：获取待加工的弱刚度反射镜的形变参数，根据待加工的弱刚度反射镜的频谱分析结果选取快速伺服刀具；根据所述形变参数调整第一次加工轨迹，用被选取的快速伺服刀具根据调整后的第一次加工轨迹对待加工的弱刚度反射镜进行第一次加工，然后根据第一次加工后的切削误差调整第二次加工轨迹，用被选取的快速伺服刀具根据调整后的第二次加工轨迹对第一次加工后的弱刚度反射镜进行第二次加工。本发明克服了弱刚度反射镜在加工过程中由于自身的装夹变形和伺服刀具的切削误差对加工精度所产生的影响。
基于快速伺服刀具刚度反射加工方法系统介质

[发明专利]一种3D打印碳化硅反射镜的加工方法-CN202011568268.7有效
发明人：胡皓;徐超;彭小强;关朝亮;戴一帆;杨启霖 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2020-12-25 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种3D打印碳化硅反射镜的加工方法，包括：对3D打印碳化硅工件进行磨削得到平整的工件表面，然后进行研磨以及粗抛光加工，得到满足初始面形与表面质量要求的反射镜面，再对反射镜面迭代进行磁流变修形以及保形光顺，直至满足指标要求。本发明的方法能够解决3D打印碳化硅反射镜加工过程中的多相组织去除不均匀等问题，克服了现有的碳化硅反射镜抛光技术的面形和表面质量的缺陷，实现了对3D打印碳化硅反射镜的超精密加工，加工面形精度高、表面质量质量好。
一种打印碳化硅反射加工方法

[实用新型]一种食品检测样品保存装置-CN202222778097.1有效
发明人：汪海波;王宗莹;吕萍萍;关朝亮;宋喜臣;郝世杰 -专利权人：汪海波
申请日： 2022-10-21 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： B65D8/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种食品检测样品保存装置，包括储样桶和桶盖，所述储样桶的内部固定连接有框架件，所述框架件将储样桶的内部分隔为若干个分类槽，每个所述分类槽的内部均设置有一个储样盒，所述桶盖的底部固定连接有若干个密封圈，所述储样桶上部的两侧对称固定连接有连接件，所述桶盖底部的两侧对称固定连接有连接杆，所述连接杆上贯穿有连接螺栓，所述储样桶的外表面等距设置有若干个观察窗，所述观察窗的前侧粘贴有标志牌。本实用新型中，该保存装置可同时对多种食品样品进行储存和分类，且具有良好的密封性，防止分类后的食品样品之间发生污染，该保存装置方便携带，且能快速观察分类后的食品样品，使用较为方便。
一种食品检测样品保存装置

[发明专利]一种CCOS剪切增稠抛光方法-CN202011504672.8有效
发明人：戴一帆;尹联民;关朝亮;胡皓 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种CCOS剪切增稠抛光方法，在CCOS工艺采用抛光盘对工件进行加工的过程中，引入剪切增稠抛光液进行增稠，来提升CCOS加工的平整度和面形精度。该方法具有对低、中、高精度的工件表面修形的能力，不需要辗转各种加工设备之间，避免了由于更换设备引起的各种误差，不仅对工件表面具有修形能力，同时还可以提高工件表面的平整度和面形精度，具有装置简单，容易搭建，成本较低的优点。
一种 ccos 剪切抛光方法

[发明专利]一种基于低能离子束溅射的半球谐振子修形方法-CN202211392545.2在审
发明人：杜春阳;戴一帆;陈善勇;刘俊峰;彭小强;关朝亮;胡皓 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-11-08 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于低能离子束溅射的半球谐振子修形方法，采用离子束对半球谐振子进行修形，在半球谐振子赤道区域加工时，将离子源沿半球谐振子的径向方向入射进行离子束迭代加工，可控性更强，同时在加工过程中调控参数以减少热变形对修形精度的影响以实现高精度谐振子的加工。
一种基于低能离子束溅射半球谐振子方法

[发明专利]一种半球谐振子内外球面同心度和厚度均匀性的在位测量方法-CN202211234711.6在审
发明人： 关朝亮;王瑜;戴一帆;陈善勇;许汉威 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-10-10 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01B7/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种半球谐振子内外球面同心度和厚度均匀性的在位测量方法，在机床的B轴上设有电感杠杆测头和砂轮，在机床的C轴上设有待测半球谐振子和/或标准球。方法包括：用第一和第二姿态的电感杠杆测头分别测量标准球的球心坐标得到坐标差ΔC；待测半球谐振子加工完成后，用第一和第二姿态的电感杠杆测头分别测量内外球面目标点坐标后根据坐标差ΔC转换至第一姿态坐标系下，然后计算得到待测半球谐振子同心度；用第一姿态和第二姿态的电感杠杆测头分别测量内外球面轮廓后根据坐标差ΔC转换至第一姿态坐标系下，然后计算得到待测半球谐振子厚度分布。本发明适应半球谐振子内外球面特性，提高了球面测量精度，实现了非透明球壳的测量。
一种半球谐振子内外球面同心厚度均匀在位测量方法

[发明专利]一种高陡度或深凹复杂曲面的坐标测量系统与方法-CN202211235438.9在审
发明人： 关朝亮;王瑜;戴一帆;陈善勇 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-10-10 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01B7/012 文献下载
摘要：本发明公开了一种高陡度或深凹复杂曲面的坐标测量系统及方法，系统在机床的B轴上设有电感式测头，电感式测头通过信号放大单元连接数据采集单元，数据采集单元还连接机床和控制单元，可以对机床的X轴及Z轴的位移信号与电感式测头示数信号进行同步，控制单元在电感式测头示数为零时采集对应的X轴及Z轴的位移信号。方法包括：将电感式测头与第一主轴的C轴旋转中心线对准；从当前采样点开始以第一速度沿Z轴方向移动电感式测头至下一采样点附近，然后以第二速度沿X轴方向移动电感式测头靠近下一采样点直到电感式测头示数为零，采集此时X轴及Z轴的位移信号。本发明将电感式测头与超精密机床组合，有效提升了复杂曲面坐标测量准确性。
一种陡度复杂曲面坐标测量系统方法

[发明专利]一种光学元件控时磨削面形测量系统及面形测量方法-CN202211255656.9在审
发明人：戴一帆;胡皓;孙梓洲;彭小强;关朝亮;赖涛 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-10-13 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： B24B13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学元件控时磨削面形测量系统，包括床身，床身上设有沿X轴做直线运动的工件安装座和沿Y轴和Z轴运动的控时磨削加工平台，控时磨削加工平台上设有控时磨削加工装置、用于测量控时磨削加工平台在Z轴方向位移变化量δL2(x,y)的第一测量装置和用于测量与工件面距离L3(x,y)的第二测量装置。还公开了一种光学元件控时磨削面形测量方法，包括步骤：校准；提取误差；确定测量起始点及建立测量坐标系；获得工件面形实际数据。本光学元件控时磨削面形测量系统及面形测量方法能够实现光学元件加工的在位测量，降低了因搬运和重复装夹对工件加工精度与效率的影响，提高了测量效率，做到了加工检测一体化。
一种光学元件磨削测量系统测量方法

[发明专利]光学元件的控时磨削加工方法、系统及介质-CN202111227785.2有效
发明人：戴一帆;孙梓洲;胡皓;关朝亮;彭小强 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2021-10-21 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学元件的控时磨削加工方法、系统及介质，方法包括：测量待加工光学元件的初始面形误差数据；根据初始面形误差数据的幅频分析结果配置控时磨削加工装置中的控时磨削加工头；根据工件的精度要求选择合适的控时磨削加工参数；在样件上使用被选中的控时磨削加工参数进行加工，加工过程中将控时磨削加工头正交接触于样件的表面，并保持涂覆磨料带恒速更新，获取控时磨削去除函数；使用控时磨削去除函数进行仿真加工并重复上述步骤直到达到精度要求；使用控时磨削加工装置根据达到精度要求时的控时磨削加工参数对工件进行实际加工。本发明在使光学元件精度确定性收敛的基础上，相比现有的确定性修抛方法大幅提升了加工效率。
光学元件磨削加工方法系统介质

[发明专利]一种大行程长条形导轨干涉拼接测量的装置及应用方法-CN202110571091.4有效
发明人：戴一帆;彭小强;陈善勇;关朝亮;胡皓;赖涛;罗天聪 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2021-05-25 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种大行程长条形导轨干涉拼接测量的装置及应用方法，本发明的装置包括气浮平台和分别设于气浮平台上的气浮承载滑动机构及干涉测量机，所述气浮承载滑动机构上设有用于安装采用玻璃制成的被测量的大行程长条形导轨的二维倾斜调整台，所述气浮承载滑动机构一侧设有用于限制气浮承载滑动机构做单轴向直线运动的长条形参考物；本发明的应用方法包括利用气浮承载滑动机构针对被测量的大行程长条形导轨的各个测量位置进行面形误差测量并拼接得到全口径测量结果。本发明结构简单、经济性好、操作方便，可实现大行程长条形导轨的高精度测量，为大行程高精度导轨的研制提供保障。
一种行程条形导轨干涉拼接测量装置应用方法

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