专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于测试半导体装置的设备和方法-CN201410150352.5无效
  • 李敬淑;朴钟必;具权本;金彣锡;闵丙准 - 三星电子株式会社
  • 2014-04-15 - 2014-10-22 - G11C29/56
  • 提供一种用于测试半导体装置的设备和方法。测试设备可用于测试半导体装置。所述测试设置可包括:栈式存储器部分,被配置为与服务器通信,其中,所述服务器包括用于测试半导体装置的测试程序;多个测试板部分,设置在所述栈式存储器部分中,测试板部分中的至少一个测试板部分包括设置在所述至少一个测试板部分上的半导体装置并被配置为向半导体装置提供来自服务器的至少一个测试程序。所述栈式存储器部分可包括:单元栈式存储器,所述单元栈式存储器包括被配置为固定多个测试板部分的架子;栈式存储器控制器,被配置为与服务器和单元栈式存储器中的测试板部分通信。
  • 用于测试半导体装置设备方法
  • [发明专利]器件测试装置和方法及其接口装置-CN200610080941.6有效
  • 梁仁秀;朴钟必;田炳焕;俞皓善 - 三星电子株式会社
  • 2006-05-23 - 2007-07-04 - G11C29/00
  • 本发明涉及器件测试装置和方法及其接口装置,所述器件测试装置包含:性能板,以用于安装被测器件,并输入/输出针对所述被测器件的信号;主机,以用于产生所述被测器件的测试波形;头部,以用于将基于所述测试波形的测试信号传送到所述性能板,并对应于所述测试信号接收从所述性能板传送的测试结果信号;安装在所述头部与所述性能板之间的接口部,以用于根据所述被测器件的工作速度改变所述测试信号及所述测试结果信号的传送速度。由此,可以以较低成本进行高速测试。
  • 器件测试装置方法及其接口
  • [发明专利]电机控制装置及其控制方法-CN200310123266.7有效
  • 廉长玹;朴钟必 - 三星电子株式会社
  • 2003-12-23 - 2004-08-18 - H02P3/22
  • 向具有多个电机绕组的电机提供交流功率的电机控制装置,它能改进动态制动操作的效果并且防止电机崩溃,其中电机绕组具有包括由多个开关单元组成的电桥电路,并且向电机提供交流功率的逆变部分;当电机制动时通过接通来短路电机绕组的制动继电器;分别连接到电机绕组并且消耗当制动继电器短路电机绕组时由电机产生的过电流的制动电阻;以及当制动继电器短路电机绕组时,接通和断开在逆变部分的相对端之一设置的开关单元,以使制动电阻消耗的过电流可与电机的转速成正比地改变的开关控制器。
  • 电机控制装置及其方法

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