专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]衬底和用于制造衬底的方法-CN201680041816.6有效
  • 帕斯卡·昆纳德;M·波卡特;T·巴尔格 - 索泰克公司
  • 2016-07-13 - 2021-06-15 - H01L21/02
  • 本发明涉及一种衬底和用于制造衬底的方法。该方法包括以下步骤:(a)提供具有第一热膨胀系数的支撑衬底(10),该支撑衬底具有在其面中的一个面上的沿第一方向的平行的第一多个沟槽(12)和沿第二方向的平行的第二多个沟槽(13);(b)从施主衬底(30)向支撑衬底(10)转移有用层(31),该有用层(31)具有第二热膨胀系数;制造方法的特征在于:在支撑衬底(10)的正面(11)与该有用层(31)之间插入中间层,该中间层(20)具有在第一热膨胀系数到第二热膨胀系数之间的热膨胀系数。
  • 衬底用于制造方法
  • [发明专利]LED的集体制造的方法及LED的集体制造的结构-CN201380032606.7有效
  • 帕斯卡·昆纳德 - 索泰克公司
  • 2013-06-18 - 2017-07-18 - H01L33/38
  • 本发明涉及一种发光二极管LED器件的集体制造的方法,所述方法包括基本结构(150)的形成,每一个基本结构包括n型层(132)、有源层(133)和p型层(134),所述方法包括以下步骤‑减少每一个基本LED结构(150)的一部分的横向尺寸;‑在所述基本结构(150)的侧面上形成绝缘材料(139)的一部分;‑形成n型电接触垫(145)和p型电接触垫(138);‑将导电材料层(141)沉积在所述基本结构(150)上并且对所述导电材料层(141)进行抛光;以及‑通过分子粘附使第二基板(50)结合在所述结构(70)的已抛光表面(70a)上。
  • led集体制造方法结构
  • [发明专利]制造LED或太阳能电池的结构的方法-CN201380032574.0有效
  • 帕斯卡·昆纳德 - 索泰克公司
  • 2013-06-14 - 2017-07-14 - H01L33/00
  • 本发明涉及一种制造方法,该制造方法包括以下步骤在第一基板(10)上形成各自包括至少一个p型层(20)、有源区域(18)和n型层(12)的多个基本LED或光生伏打结构;在所述多个基本结构上形成第一平面金属层(42);提供包括第二平面金属层(46)的转印基板(50);通过在室温下通过分子粘附结合所述第一金属层和第二金属层(42,46)来将所述多个基本结构与所述转印基板(50)组装在一起;以及去除所述第一基板(10)。
  • 制造led太阳能电池结构方法
  • [发明专利]应变材料层的晶格参数的调节-CN201080011062.2有效
  • 帕斯卡·昆纳德;弗雷德里克·杜蓬 - 硅绝缘体技术有限公司
  • 2010-02-15 - 2012-02-08 - H01L21/762
  • 本发明涉及一种调节应变材料籽晶层(3)的晶格参数的方法,该方法包括以下步骤:a)提供结构(10),该结构(10)具有:应变材料籽晶层(3),该籽晶层(3)具有晶格参数A1、标称晶格参数An以及热膨胀系数CTE3;低粘性层(2);以及中间基板(1),该中间基板具有热膨胀系数CTE1;b)施加热处理,以使应变材料籽晶层(3)松弛;以及c)将籽晶层(3)转移到支承基板(5)上,该支承基板具有热膨胀系数CTE5,中间基板(1)和支承基板(5)被选择为使得:A1<An并且CTE1≤CTE3并且CTE5>CTE1或者A1>An并且CTE1≥CTE3并且CTE5<CTE1。
  • 应变材料晶格参数调节
  • [发明专利]对刻蚀后的半导体结构的钝化-CN200980130163.9无效
  • 布鲁斯·富尔;帕斯卡·昆纳德 - 硅绝缘体技术有限公司
  • 2009-07-02 - 2011-07-20 - H01L21/762
  • 本发明涉及半导体结构的钝化方法,该方法包括以下步骤:提供至少一个第一材料层;在第一材料层上形成待图案化的至少一个第二材料层;在至少一个第二材料层与至少一个第一材料层之间形成扩散阻挡层,由此形成多层堆叠;以及对至少一个第二材料层向下进行图案化特别是刻蚀,但不完全穿透扩散阻挡层并且不露出至少一个第一材料层中的多个部分,使得基本上防止在对多层堆叠进行后续热处理期间至少一个第一材料层的材料穿过扩散阻挡层进行扩散。本发明还涉及一种半导体结构的钝化方法,该方法包括以下步骤:提供包括形成在第二材料层下方的至少一个掩埋层的多层堆叠;对多层堆叠的表面进行图案化特别是刻蚀,穿透第二材料层,由此露出至少一个掩埋层的多个部分;至少在至少一个掩埋层的露出的部分上沉积扩散阻挡层,使得基本上防止在对多层堆叠进行后续热处理期间至少一个掩埋层的材料穿过扩散阻挡层进行扩散。
  • 刻蚀半导体结构钝化

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