专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种电池测试工步识别方法及系统-CN202210188630.0有效
  • 刘震;李生草;倪政平;陈志朋;刘维新;陈堂 - 福建星云检测技术有限公司
  • 2022-02-28 - 2023-10-24 - G01R31/389
  • 本发明提供了电池测试技术领域的一种电池测试工步识别方法及系统,方法包括如下步骤:步骤S10、在上位机创建测试工步以及工步切换条件并发送给中位机;步骤S20、中位机基于接收的所述测试工步以及工步切换条件,控制下位机对锂电池执行测试;步骤S30、下位机在测试过程中,基于预设的报文格式缓存测试数据,得到报文数据;步骤S40、中位机周期性的从下位机获取所述报文数据,基于所述报文格式解析报文数据得到测试数据,并将各所述测试数据按测试工步进行归类后,发送给上位机进行分析。本发明的优点在于:实现识别测试数据对应的测试工步,极大的保障了电池测试的准确性。
  • 一种电池测试识别方法系统
  • [发明专利]内掩式日冕仪杂散光测量系统及测量方法-CN202211231647.6有效
  • 刘大洋;孙明哲;夏利东;于晓雨;唐宁;刘维新;韩建平 - 山东大学
  • 2022-10-08 - 2023-08-18 - G01M11/02
  • 本发明涉及一种内掩式日冕仪杂散光测量系统及测量方法,其中内掩式日冕仪杂散光测量系统,设置于天文站台中,所述测量系统包括待测内掩式日冕仪、探测器及数据处理模组,所述内掩式日冕仪包括:沿入射光路依次设置的物镜光阑、物镜组件、消杂光光阑组件、内掩体、场镜组件、中继镜组件、Lyot光阑组件、第一成像镜组件、分光镜组件,所述分光镜组件用于将光束分裂为一主光路及一副光路,所述主光路用于将日冕图像聚焦至所述探测器,所述副光路用于经一第二成像镜组件将所述物镜组件的共轭像聚焦至一副光路探测器。本申请实现在日冕仪正常运行时实时测量日冕仪的杂散光水平,解决日冕仪实际工作时杂散光水平无法定量的问题,提高科学数据获取数量。
  • 内掩式日冕散光测量系统测量方法
  • [发明专利]一种锂电池测试系统控制方法及装置-CN202210188629.8有效
  • 刘震;倪政平;李生草;陈志朋;陈堂;刘维新 - 福建星云检测技术有限公司
  • 2022-02-28 - 2023-04-07 - H04L43/12
  • 本发明提供了锂电池测试技术领域的一种锂电池测试系统控制方法及装置,方法包括如下步骤:步骤S10、中位机创建一第一线程、一第二线程、一命令发送列表、一数据采集周期、一命令响应时长以及一次数阈值;步骤S20、中位机接收上位机发送的测试工步,基于所述数据采集周期,通过第一线程定时从下位机获取锂电池的测试数据;步骤S30、中位机解析所述测试工步得到若干个工步控制命令并加入命令发送列表;步骤S40、中位机通过所述第二线程,将所述命令发送列表内的工步控制命令依次发送给下位机执行,并通过所述命令响应时长以及次数阈值对工步控制命令的执行情况进行监控。本发明的优点在于:极大的提升了锂电池测试的可靠性。
  • 一种锂电池测试系统控制方法装置
  • [实用新型]一种芯片热测试装置-CN202222900625.6有效
  • 徐智;刘维新;顾长亮 - 东莞记忆存储科技有限公司
  • 2022-10-31 - 2023-03-21 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种芯片热测试装置,用于检测高温环境下芯片的性能,热测试装置包括底板、装置外壳、电热板以及测试控制组件,底板用于安装装置外壳,电热板用于形成热测试的高温条件,装置外壳罩设于底板上形成安装空间,装置外壳与底板活动连接,底板用于安装待测芯片,电热板内设于安装空间并向待测芯片进行导热,电热板与测试控制组件电连接,测试控制组件用于控制电热板并对待测芯片进行测试,测试控制组件动态控制电热板所构建的高温条件并收集待测芯片测试过程中的相关测试数据。本实用新型所公开的芯片热测试装置可独立构成对芯片的热测试条件,无需通过热测试老化柜进行芯片制热,提升了芯片热测试过程的效率。
  • 一种芯片测试装置

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