专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]内掩式日冕仪杂散光测量系统及测量方法-CN202211231647.6有效
  • 刘大洋;孙明哲;夏利东;于晓雨;唐宁;刘维新;韩建平 - 山东大学
  • 2022-10-08 - 2023-08-18 - G01M11/02
  • 本发明涉及一种内掩式日冕仪杂散光测量系统及测量方法,其中内掩式日冕仪杂散光测量系统,设置于天文站台中,所述测量系统包括待测内掩式日冕仪、探测器及数据处理模组,所述内掩式日冕仪包括:沿入射光路依次设置的物镜光阑、物镜组件、消杂光光阑组件、内掩体、场镜组件、中继镜组件、Lyot光阑组件、第一成像镜组件、分光镜组件,所述分光镜组件用于将光束分裂为一主光路及一副光路,所述主光路用于将日冕图像聚焦至所述探测器,所述副光路用于经一第二成像镜组件将所述物镜组件的共轭像聚焦至一副光路探测器。本申请实现在日冕仪正常运行时实时测量日冕仪的杂散光水平,解决日冕仪实际工作时杂散光水平无法定量的问题,提高科学数据获取数量。
  • 内掩式日冕散光测量系统测量方法
  • [发明专利]一种日球成像仪-CN202210106269.2有效
  • 孙明哲;夏利东;刘维新;韩建平;刘大洋;于晓雨 - 山东大学
  • 2022-01-28 - 2022-11-18 - G02B27/42
  • 本申请涉及一种日球成像仪,其中日球成像仪包括:自左及右依次设置的多个前挡板、上挡板、入射口径光阑、内置于一镜筒的成像镜组及探测器,其中,所述前挡板用于抑制太阳直射光及衍射光,所述上挡板设置有入射孔径,所述入射孔径、入射口径光阑、成像镜组及探测器构成日球层信号光的入射光路。本申请日球成像仪实现保证杂散光抑制效果的基础上尽可能增加口径,优化渐晕效果,从而提高日球成像仪的时间分辨率。
  • 一种成像
  • [发明专利]侧面遮挡全周向日球成像仪-CN202211007297.5在审
  • 刘维新;左修辉;李晓坤;夏利东;孙明哲;韩建平 - 山东大学
  • 2022-08-22 - 2022-11-08 - G01V8/10
  • 本发明提出一种侧面遮挡全周向日球成像仪。包括:箱体:外侧成圆锥形,包括扩径端和缩径端;侧周成像系统:包括底座,箱体的缩径端安装在成像系统的底座上;所述成像系统包括三个侧周成像仪,每个侧周成像仪均对应设置有一个成像探测器;三个侧周成像仪呈120°角等间距排列安装在底座上,相邻的两个成像探测仪之间存在视场重叠;挡光片:呈圆环形,环绕设置在箱体扩径端的外围,所述挡光片的尺寸被配置为,使侧周成像仪位于挡光片的遮挡区域;数据处理系统:接收三个成像探测器的探测数据,形成日球周向成像。本发明通过三个光学成像系统组合后形成的总视场能够覆盖以太阳居中的360°范围的日冕层和内日球层,实现了兼顾大视场和全周向观测。
  • 侧面遮挡成像
  • [发明专利]微致动器位移及倾角测量装置及方法-CN202110882268.2有效
  • 刘维新;唐宁;夏利东;左修辉 - 山东大学
  • 2021-08-02 - 2022-08-09 - G01B11/02
  • 本发明提出一种微致动器位移及倾角测量装置及方法。激光器谐振腔由固定腔镜和独立腔镜构成,在独立腔镜和激光增益管之间沿激光轴线倾斜放置镀增透膜的玻璃片,其表面反射两弱光束入射到致动器驱动的平面反射镜,折返后耦合回谐振形成分叉腔激光回馈。在致动器运动过程中,通过光电探测器接收并记录激光回馈形成的光强变化条纹,根据回馈条纹周期和包络特性,计算得到致动器的位移与倾角。本发明可以对微位移致动器在线性伸缩过程中的位移量和倾斜角同时进行测量,评估其性能指标。
  • 微致动器位移倾角测量装置方法
  • [发明专利]日冕仪杂散光测试装置及测试方法-CN202110467765.6有效
  • 刘维新;夏利东;左修辉;孙明哲;唐宁 - 山东大学
  • 2021-04-28 - 2022-06-10 - G01M11/02
  • 本发明提出一种日冕仪杂散光测试装置和测试方法。测试装置包括:激光器、第一光纤耦合器、保偏光纤、光纤环形器、扩束镜、第二光纤耦合器、分光镜及示波器等装置。通过上述光学部件构建入射光路和回馈光路。基于入射光路和回馈光路的光强度、幅值等信息,可完成日冕仪杂散光的检测。具体方法包括日冕仪杂散光测试方法及外掩体衍射光测试方法;进行日冕仪总杂杂散光测试时,将第二光纤耦合器设置在日冕仪探测器位置;进行外掩体边缘衍射光测试时,将第二光纤耦合器设置在日冕仪内掩体位置;根据示波器的测量结果判定日冕仪杂散光水平。该装置和方法可以实现对外掩式日冕仪不同来源的微弱杂散光信号的高灵敏检测。
  • 日冕散光测试装置方法
  • [发明专利]中高层大气折射率测量装置及测量方法-CN202110504149.3有效
  • 刘维新;夏利东;邢赞扬;孙博宇 - 山东大学
  • 2021-05-10 - 2022-03-22 - G01N21/21
  • 本发明提出一种中高层大气折射率测量装置和测量方法。测量装置包括:激光器:包括增益管,增益管的两端封接固定腔镜和增透窗片;偏振分光镜:设置在增透窗片的外侧;第一独立腔镜:设置在偏振分光镜反射端;第二独立腔镜:设置在偏振分光镜透射端腔;高真空管:设置在偏振分光镜和第一独立腔镜之间;探测管腔:设置在偏振分光镜和第二独立腔镜之间;偏振片:设置在固定腔镜的外侧;频差探测器:探测两偏振激光的频差;频率计:与频差探测器连接,记录探测的频差值;数据处理系统:与频率计连接。本发明提供的测量方法,基于两正交偏振激光的频差计算中高层大气折射率。该装置和方法探测灵敏度高,可探测折射率非常小的中高层大气。
  • 高层大气折射率测量装置测量方法
  • [实用新型]一种新型玉米种子培养装置-CN201921653961.7有效
  • 夏利东;贾鸿飞 - 内蒙古丰汇达粮食集团有限公司
  • 2019-09-29 - 2020-06-19 - A01C1/02
  • 本实用新型公开了一种新型玉米种子培养装置,其结构包括顶盖、透气圈和底座,本实用新型通过在底座内部设置了分隔装置,第一分隔板、第二分隔板、第三分隔板、第四分隔板、第五分隔板和第六分隔板相插接组成四个培养空间,当实验人员要将培养容器拿出记录数据时可直接将分隔装置拿出,不需要一个个拿出影响实验效率,达到了一次性拿出培养器皿,提高实验效率,而且当土壤在出水口堆积时,使用者可以通过向右端拉动拉动绳,拉动弹簧左端设置的不锈钢球,松开拉力绳,弹簧振动,抖动土壤,从而疏通出水管口,达到了出水通畅的效果。
  • 一种新型玉米种子培养装置
  • [发明专利]日冕仪外掩体位置测量系统及位置测量方法-CN201710049608.7有效
  • 刘维新;袁震宇;夏利东;孙明哲 - 山东大学
  • 2017-01-23 - 2018-09-11 - G01B11/00
  • 日冕仪外掩体位置测量系统及外掩体位置测量方法,通过配置激光回馈干涉系统,调整参考光和测量光,使其分别入射到外掩体的支撑杆和盘面上,被其亚光黑表面直接反射后原路返回形成激光回馈进行测量。根据测得的测量参考光路和测量光路各自的长度变化,结合两光路的结构和参数,可计算日冕仪外掩体的位移及角度变化。借助该装置和方法,可调整外掩体到理想中心位置,并研究在环境温度或振动测试条件变化时,外掩体位置变动对日冕仪杂散光的影响。通过对外掩体位置测量及引入杂散光的定量分析,可进一步改进日冕仪设计,降低整体的杂散光水平。
  • 日冕掩体位置测量系统测量方法
  • [发明专利]侧面遮拦式日晕光度计-CN201610864726.9有效
  • 孙明哲;张红鑫;夏利东;刘维新;卜和阳 - 山东大学;中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2016-09-29 - 2017-11-21 - G01J1/42
  • 本发明涉及一种侧面遮拦式日晕光度计,该光度计从左至右依次包括外挡板、外窗口、上消杂光光阑、下消杂光光阑、中部光阑、第二衰减片、孔径光阑、物镜、滤光轮和CCD相机;外挡板中部安装第一衰减片,第一衰减片、第二衰减片、孔径光阑、物镜、CCD相机位于同一轴线上;太阳直射光经第一衰减片并经第二衰减片进入光学系统成像在CCD相机像面上;天空亮度经第二衰减片成像在CCD相机像面上,通过CCD相机像面上的亮度比再结合第一衰减片的衰减量级得到天空亮度与太阳亮度的相对值。本发明的优点是可大大降低内视场衍射光强,提高内视场可观测范围;同时通过侧面观测天空亮度,增大太阳径向视场范围的天空亮度。
  • 侧面遮拦日晕光度计

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