专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]显影方法-CN202310894285.7在审
  • 刘希仕;姚振海;王绪根;朱联合;彭嘉力;李少鹏 - 华虹半导体(无锡)有限公司
  • 2023-07-19 - 2023-10-13 - G03F7/16
  • 本申请涉及半导体集成电路制造技术领域,具体涉及一种显影方法,包括:对覆盖在测试晶片上且经过曝光后的光刻胶层进行第一显影操作;基于第一显影操作前、后覆盖在测试晶片上的光刻胶厚度差与光刻胶厚度差阈值之间的大小关系,确定测试晶片的强显影能力区和弱显影能力区;对覆盖在另一相同测试晶片上且经过曝光后的光刻胶层,进行第二显影操作;当强显影能力区上的光刻胶厚度差大于所述光刻胶厚度差阈值时,和/或,当弱显影能力区上的光刻胶厚度差小于所述光刻胶厚度差阈值时,重复上述步骤直至所有区的光刻胶厚度差一致。
  • 显影方法
  • [发明专利]晶圆的清洗方法-CN202010817511.8有效
  • 刘冲;吴长明;姚振海;陈骆;王绪根;朱联合;韩建伟;刘希仕 - 华虹半导体(无锡)有限公司
  • 2020-08-14 - 2023-03-07 - H01L21/02
  • 本申请公开了一种晶圆的清洗方法,包括:在晶圆的正面悬涂钝化材料;对晶圆进行烘烤处理;通过药剂对晶圆的边缘区域进行清洁处理,晶圆的边缘区域是从晶圆的边缘向内延伸1毫米至3毫米的环形区域;旋转晶圆,旋转晶圆的转速为2500RPM至3500RPM。本申请通过药剂对晶圆的边缘区域进行清洁处理,再以2500RPM至3500RPM的转速旋转该晶圆,由于通过较高的转速旋转晶圆能够较为彻底地去除晶圆背面的药剂,在一定程度上避免了因为晶圆背面的药剂残留所导致的晶圆斜跨、掉片的几率,提高了制造良率和制造效率。
  • 清洗方法
  • [发明专利]晶片非感光聚酰亚胺层制作方法-CN202210875036.9在审
  • 刘希仕;姚振海;王绪根;朱联合;闻旭 - 华虹半导体(无锡)有限公司
  • 2022-07-25 - 2022-11-01 - H01L21/56
  • 本申请涉及半导体集成电路技术领域,具体涉及一种晶片非感光聚酰亚胺层制作方法。所述晶片非感光聚酰亚胺层制作方法包括以下依次进行的步骤:在晶片上涂布非感光聚酰亚胺层;通过加热盘对涂布有非感光聚酰亚胺层的晶片进行无接触式烘烤;对非感光聚酰亚胺层固化后的晶片进行洗边和背洗工艺,去除靠近所述晶片边缘和位于所述晶片背面的非感光聚酰亚胺层;通过加热盘对所述晶片进行接触式烘烤,使得所述晶片上的非感光聚酰亚胺层固化。本申请提供了的晶片非感光聚酰亚胺层制作方法,可以解决相关技术在制作非感光聚酰亚胺层时,聚酰亚胺溢流至加热板上,沾污该加热板,使得后续对其他晶片的软烘操作造成不利影响的问题。
  • 晶片感光聚酰亚胺制作方法
  • [发明专利]半导体硅片保护层制作方法-CN202010958525.1有效
  • 刘希仕;吴长明;姚振海;陈骆;王绪根;朱联合;刘冲;韩建伟 - 华虹半导体(无锡)有限公司
  • 2020-09-14 - 2022-10-28 - H01L21/56
  • 本申请涉及半导体制造领域,具体涉及一种半导体硅片保护层制作方法。半导体硅片保护层制作方法包括:使得半导体硅片在低转速状态下匀速旋转;将黏度范围为5cp~80cp的光刻胶,滴涂1.5cc~3cc的量于半导体硅片表面的中心;使得半导体硅片在低转速状态下保持5s~15s时间,扩大光刻胶的覆盖面积;在2s~5s时间段内,使得半导体硅片由低速旋转状态提升至高速旋转状态,甩出多余光刻胶;在高速旋转状态,半导体硅片保持25s~45s时间,使得光刻胶的厚度达到8000A~50000A;通过边缘胶去除工艺,根据预定去边宽度,去除半导体硅片边缘位置处的光刻胶。本申请提供的方案可以解决相关技术中无法检测去边宽度,影响边缘胶去除工艺的准确性的问题。
  • 半导体硅片保护层制作方法
  • [发明专利]版图图形-CN202111438403.0在审
  • 王绪根;刘希仕;刘秀勇;朱联合;吴长明;姚振海;陈骆 - 华虹半导体(无锡)有限公司
  • 2021-11-30 - 2022-03-08 - H01L21/033
  • 本申请公开了一种版图图形,包括:第一图形,其位于管芯区域内,且位于管芯区域的角落;第二图形,其面积大于第一图形的面积,第二图形位于管芯区域内,第二图形和第一图形不重叠;该版图图形应用于对目标晶圆进行光刻处理,目标晶圆上形成有聚酰亚胺层,通过该版图图形进行光刻处理后,目标晶圆上第一图形和第二图形所在的区域暴露,去除第一图形和所述第二图形所在区域的聚酰亚胺层后,需要进行背部减薄处理和正面撕膜处理。本申请通过将管芯区域内面积较小的第一图形设置在管芯区域的角落,从而能够在一定程度上避开撕膜的方向,降低第一图形附近的脱落现象,进而提高了产品的可靠性和良率。
  • 版图图形

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