“孙梓洲”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果14个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种高精度芯轴圆柱形貌在位测量与重构方法-CN202310651031.2在审
发明人：戴一帆;许汉威;关朝亮;胡皓;孙梓洲 -专利权人：湖南先进技术研究院
申请日： 2023-06-02 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： B23Q17/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种高精度芯轴圆柱形貌在位测量与重构方法，应用于在位测量系统，方法包括以下步骤：建立绝对坐标系和测量坐标系；获取高精度芯轴的目标截面的传感器采样数据，从传感器采样数据中剔除零次谐波分量；使用剔除零次谐波分量后的传感器数据分别计算目标截面的最小二乘圆心和平均半径；根据最小二乘圆心和平均半径计算目标截面的表面各点在测量坐标系中的坐标，根据测量坐标系与绝对坐标系的转换关系，将目标截面的表面各点的坐标从测量坐标系转换到绝对坐标系中；将所有目标截面拟合得到重构的高精度芯轴圆柱形貌。本发明利用三个传感器消除调零误差、测量系统的直线运动误差对误差分离精度的影响，提升了高精度芯轴圆柱形貌重构的精度。
一种高精度圆柱形貌在位测量方法

[发明专利]一种同质材料大视场相机-CN202310626981.X在审
发明人：赖涛;彭小强;刘俊峰;杜春阳;陈付磊;张海栋;庞修洋;黎泽龙;孙梓洲;丘甲;王福稳;周锐;陈紫健;胡杰 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G03B17/17 文献下载
摘要：本发明公开了一种同质材料大视场相机，包括一端安装有探测器的镜筒，所述镜筒上设有入光孔，所述镜筒内分别安装有主镜、一体化次镜和一体化三镜，所述探测器的进光侧朝向镜筒的内侧，从入光孔入射的光线依次经过主镜、一体化次镜以及一体化三镜的三次全反射后进入探测器，所述镜筒、主镜、一体化次镜以及一体化三镜均采用相同金属材料制成。本发明能够实现不同焦段的高分辨率可见光大视场(水平视场角大于30°)成像，成像质量清晰，调焦方便，受环境影响小，可用于航空航天、无人或有人的机载/车载光学成像系统。
一种同质材料视场相机

[发明专利]一种平面机械零件的超精密控时磨削加工方法及系统-CN202310125548.8在审
发明人：戴一帆;孙梓洲;关朝亮;胡皓;赖涛;许汉威 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2023-02-16 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： B24B35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种平面机械零件的超精密控时磨削加工方法及系统，方法包括：用非接触式轮廓测量仪测量工件当前平面的面形数据，并根据面形数据计算当前平面的误差数据，根据误差数据设置控时磨削参数；用控时磨削机床在所述控时磨削参数下加工样件得到去除函数，使用一维卷积算法根据当前平面的误差数据和去除函数对当前平面进行控时磨削修形；用非接触式轮廓测量仪测量加工后的当前平面的面形数据，并根据面形数据计算当前平面的误差数据，若误差数据精度不达标，执行用非接触式轮廓测量仪测量工件当前平面的误差数据的步骤，直到测量精度达标。本发明能够对平面机械零件进行高效率、高形位精度的加工。
一种平面机械零件精密磨削加工方法系统

[发明专利]一种在位测量控时磨削装置及其测量方法-CN202310265144.9在审
发明人：翟德德;戴一帆;胡皓;孙梓洲;陈善勇;关朝亮 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2023-03-17 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： B24B13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种在位测量控时磨削装置，包括床身，床身上设有沿X轴运动并可旋转调节的工件安装座、沿Y轴和Z轴运动的控时磨削加工平台和测量平台，控时磨削加工平台上设有控时磨削加工机构，测量平台的顶部设有第一测量机构，底部设有第二测量机构。还公开了一种在位测量控时磨削装置的测量方法，包括步骤：移位；校准；第一次形成光栅测量轨迹；补偿误差；第二次形成光栅测量轨迹；获得准确的面形数据；磨削修形。本在位测量控时磨削装置及其测量方法能够实现光学元件加工的在位测量，降低了因搬运和重复装夹对工件加工精度与效率的影响，提高了测量效率和加工粒度，做到了加工检测一体化。
一种在位测量磨削装置及其测量方法

[发明专利]一种数据存储方法、装置、设备及计算机可读存储介质-CN202110284722.4有效
发明人： 孙梓洲;宋文革;刘昌鑫;黄保印;边国伟 -专利权人：联想凌拓科技有限公司
申请日： 2021-03-17 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种数据存储方法、装置、设备及计算机可读存储介质，其中，所述方法包括：当确定当前的存储设备集合中存在第一故障设备时，从所述存储设备集合中移除所述第一故障设备；确定替补存储设备，并将所述替补存储设备加入所述存储设备集合，以利用所述替补存储设备存储数据，并生成当前存储设备集合；当确定所述第一故障设备可用时，获取所述当前存储设备集合的状态信息；当所述状态信息表征所述当前存储设备集合中的存储设备均可用时，保持所述当前存储设备集合不变。
一种数据存储方法装置设备计算机可读介质

[发明专利]一种光学元件控时磨削面形测量系统及面形测量方法-CN202211255656.9在审
发明人：戴一帆;胡皓;孙梓洲;彭小强;关朝亮;赖涛 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-10-13 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： B24B13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学元件控时磨削面形测量系统，包括床身，床身上设有沿X轴做直线运动的工件安装座和沿Y轴和Z轴运动的控时磨削加工平台，控时磨削加工平台上设有控时磨削加工装置、用于测量控时磨削加工平台在Z轴方向位移变化量δL2(x,y)的第一测量装置和用于测量与工件面距离L3(x,y)的第二测量装置。还公开了一种光学元件控时磨削面形测量方法，包括步骤：校准；提取误差；确定测量起始点及建立测量坐标系；获得工件面形实际数据。本光学元件控时磨削面形测量系统及面形测量方法能够实现光学元件加工的在位测量，降低了因搬运和重复装夹对工件加工精度与效率的影响，提高了测量效率，做到了加工检测一体化。
一种光学元件磨削测量系统测量方法

[发明专利]光学元件的控时磨削加工方法、系统及介质-CN202111227785.2有效
发明人：戴一帆;孙梓洲;胡皓;关朝亮;彭小强 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2021-10-21 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学元件的控时磨削加工方法、系统及介质，方法包括：测量待加工光学元件的初始面形误差数据；根据初始面形误差数据的幅频分析结果配置控时磨削加工装置中的控时磨削加工头；根据工件的精度要求选择合适的控时磨削加工参数；在样件上使用被选中的控时磨削加工参数进行加工，加工过程中将控时磨削加工头正交接触于样件的表面，并保持涂覆磨料带恒速更新，获取控时磨削去除函数；使用控时磨削去除函数进行仿真加工并重复上述步骤直到达到精度要求；使用控时磨削加工装置根据达到精度要求时的控时磨削加工参数对工件进行实际加工。本发明在使光学元件精度确定性收敛的基础上，相比现有的确定性修抛方法大幅提升了加工效率。
光学元件磨削加工方法系统介质

[发明专利]一种零阿贝误差结构的在位测量方法、系统和装置-CN202211001261.6在审
发明人：赖涛;徐超;彭小强;杜春阳;孙梓洲;刘俊峰 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-08-19 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种零阿贝误差结构的在位测量方法、系统和装置，本发明装置包括工件支撑台、测量框架和运动系统，运动系统的运动末端分别固定设有工件传感器、Z位移传感器和X位移传感器，Z位移传感器发出的激光光束方向沿竖直方向布置、X位移传感器发出的激光光束方向沿水平方向布置，Z位移传感器和X位移传感器两者均为激光干涉仪，测量框架上分别设有与Z位移传感器相对布置的Z基准平晶、与X位移传感器相对布置的X基准平晶。本发明能够实现大口径复杂曲面的高精度测量，测量过程简单，测量结果可靠，测量精度高，可方便对大口径复杂曲面高精度、高效的制造。
一种零阿贝误差结构在位测量方法系统装置

[发明专利]轴类零件外圆表面的磁流变确定性修形方法及装置-CN202010763016.3有效
发明人：胡皓;彭小强;戴一帆;孙梓洲;关朝亮 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2020-07-31 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种轴类零件外圆表面的磁流变确定性修形方法及装置。本发明的方法包括：用圆柱度仪测量得到待加工轴类零件表面的形状误差数据；对形状误差数据进行滤波处理；针对处理后的形状误差数据，选取合适尺寸的磁流变抛光轮，在给定加工参数下用轴类磁流变修形机床对待加工轴类零件进行加工，获取去除函数；根据处理后的形状误差数据和获取的去除函数，在工艺软件中解算驻留时间进行仿真加工直到满足要求；利用工艺软件生成数控机床的加工代码，将加工代码导入轴类磁流变修形机床进行加工。本发明将平面和自由曲面零件上的磁流变确定性修形方法应用于轴类零件的柱面超高精度修形，以满足超精密外圆磨削无法实现的高精度零件加工需求。
零件表面流变确定性方法装置

[发明专利]一种数据处理方法、主节点及存储介质-CN202110925774.5在审
发明人： 孙梓洲;刘昌鑫;宋文革 -专利权人：联想凌拓科技有限公司
申请日： 2021-08-12 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本申请提供了一种数据处理方法，包括：集群中的主节点接收并写入客户端发送的待写入数据；所述主节点将所述待写入数据发送至所述集群中的至少一个从节点；若所述主节点接收到全部所述从节点中的第一从节点发送的第一确认信息，则确认所述待写入数据成功写入至所述集群中；所述第一确认信息用于指示所述第一从节点成功写入所述待写入数据；本申请还提供一种主节点及存储介质，通过本申请提供的数据处理方法、主节点及存储介质，在写入数据时，能够减少数据写入的次数，进而减少由于多次写入操作导致的延迟。
一种数据处理方法节点存储介质

[发明专利]轴类零件外圆圆度确定性修形方法-CN202010760980.0有效
发明人：戴一帆;关朝亮;孙梓洲;胡皓;彭小强 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2020-07-31 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： B24B21/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种轴类零件外圆圆度确定性修形方法，包括：测量待加工轴类零件表面的圆度误差；对测量数据进行滤波处理；对处理后的测量数据计算得到被加工面形的截止频率和形貌特征；利用去除函数生成算法生成对应的仿真去除函数；利用仿真去除函数进行仿真加工并验证效果直到圆度误差达到要求；在与待加工轴类零件相同材料和直径的柱面上进行加工并获取实际去除函数；利用实际去除函数进行仿真加工直到圆度误差达到要求；将仿真加工软件生成的数控代码导入数控系统，利用确定性砂带研抛机床对待加工轴类零件进行加工。本发明对被加工面形最优处理并量身定做去除函数，可以提高修形效率和修形精度。
零件圆圆确定性方法

[发明专利]一种程序测试方法及装置-CN202110356804.5在审
发明人：何晓囡;杨利锋;张传庆;徐林林;孙梓洲 -专利权人：联想凌拓科技有限公司
申请日： 2021-04-01 - 公布日： 2021-07-30 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开一种程序测试方法及装置，包括：确定待测程序，和所述待测程序的测试类型；根据所述待测程序的测试类型，从测试程序库中确定相应的测试程序；利用所述测试程序对所述待测程序进行测试，以确定相应的测试结果；通过从独立的测试程序库中确定相应的测试程序，实现了对于待测程序的测试，减少了测试过程中的人力消耗，提高了开发效率。
一种程序测试方法装置

[实用新型]轴类零件外圆柱面加工设备-CN202022127173.3有效
发明人：胡皓;戴一帆;孙梓洲;彭小强;关朝亮 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2020-09-24 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： B24B21/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种轴类零件外圆柱面加工设备，包括机身以及设于机身上的外圆研抛机构、旋转驱动机构和尾部抵紧机构，外圆研抛机构包括第一滑移底座、第二滑移底座和机箱，第一滑移底座能沿第一方向滑动地设于机身，第二滑移底座能沿第二方向滑动地设于第一滑移底座上，机箱能沿第二方向滑动地设于第二滑移底座上，机箱上设有砂带轮、卷带轮、接触轮和砂带，砂带绕设于砂带轮、卷带轮和接触轮上，第二滑移底座上设有用于推移机箱以使接触轮上砂带抵紧于轴类零件上的推移气缸。该加工设备加工精度高、加工效率高以及加工成本低。
零件圆柱面加工设备

[发明专利]轴类零件外圆柱面加工设备及其加工方法-CN202011017512.0在审
发明人：胡皓;戴一帆;孙梓洲;彭小强;关朝亮 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2020-09-24 - 公布日： 2020-11-27 - 主分类号： B24B21/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种轴类零件外圆柱面加工设备，包括机身以及设于机身上的外圆研抛机构、旋转驱动机构和尾部抵紧机构，外圆研抛机构包括第一滑移底座、第二滑移底座和机箱，第一滑移底座能沿第一方向滑动地设于机身，第二滑移底座能沿第二方向滑动地设于第一滑移底座上，机箱能沿第二方向滑动地设于第二滑移底座上，机箱上设有砂带轮、卷带轮、接触轮和砂带，砂带绕设于砂带轮、卷带轮和接触轮上，第二滑移底座上设有用于推移机箱以使接触轮上砂带抵紧于轴类零件上的推移气缸。还公开了一种轴类零件外圆柱面加工设备的加工方法，包括：安装轴类零件；确定加工起点；确定性去除修正。该加工设备及其加工方法加工精度高、加工效率高以及加工成本低。
零件圆柱面加工设备及其方法

1
共 14 条