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- [发明专利]一种半导体器件的制作方法-CN202110213213.2在审
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于良成;惠利省;杨国文
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度亘激光技术(苏州)有限公司
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2021-02-25
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2021-06-22
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H01S5/20
- 一种半导体器件的制作方法,涉及半导体技术领域。该半导体器件的制作方法包括:在衬底上形成电流阻挡层,其中,衬底上具有多个呈间隔设置的沟槽,相邻两个沟槽之间的衬底形成衬底柱;在形成有电流阻挡层的衬底上形成第一光刻胶层;在形成有第一光刻胶层的衬底上形成第二光刻胶层;在第二光刻胶层上对应衬底柱的投影位置通过刻蚀工艺形成第一开口;在第一光刻胶层上对应第一开口通过刻蚀工艺形成第二开口;在电流阻挡层上对应第二开口通过刻蚀工艺去除衬底柱顶部的电流阻挡层以形成半导体器件的电流注入窗口。该半导体器件的制作方法能够解决现有技术中因覆盖于衬底柱的侧壁上方的电流阻挡层被大量刻蚀而引起侧面漏电的问题。
- 一种半导体器件制作方法
- [发明专利]一种基板刻蚀方法-CN202011494499.8有效
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于良成;白龙刚;杨国文;赵卫东
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度亘激光技术(苏州)有限公司
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2020-12-17
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2021-03-05
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H01L21/3065
- 本发明公开了一种基板刻蚀方法,涉及半导体技术领域。基板刻蚀方法包括:在基板的表面设置多层掩模结构,并在多层掩模结构上形成沿基板和多层掩模结构的设置方向投影对应的多个开口;对基板与多个开口对应的局部表面进行第一预处理以去除局部表面的杂质;对进行过第一预处理的局部表面进行刻蚀以在基板上形成与多个开口对应的预设沟槽。上述方法通过在基板表面设置多层掩模结构,并以形成多个开口后的多层掩模结构为掩模对基板进行刻蚀,以保证多层掩模结构上的开口不会因变形而影响预设沟槽的形成;同时,在对基板刻蚀前,增加可去除基板表面杂质的步骤,以防止预设沟槽受基板表面杂质的影响导致预设沟槽底部微凸起的缺陷。
- 一种刻蚀方法
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