专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于同轴干涉的波面测量装置-CN201910331365.5有效
  • 贾伟;周常河;王津;项长铖;谢永芳;薄启宇 - 暨南大学
  • 2019-04-24 - 2020-12-11 - G01M11/00
  • 本发明公开了一种基于同轴干涉的波面测量装置,包括用于产生干涉条纹场的马赫曾德双光束干涉系统、用于产生同轴干涉的合束元件、采集干涉信号的光探测器、以及用于扫描双光束干涉场的二维移动台和测量位移的激光干涉仪系统。其特点是在传统的马赫曾德双光束干涉仪中引入小尺寸合束元件,使两束相干光产生同轴干涉,通过二维扫描测量该干涉信号的周期变化,实现对马赫曾德双光束干涉场周期的高精度测量,从而推算出双光束波面的分布情况。利用小尺寸合束元件的扫描测量,该发明可以实现大尺寸波面的测量,而不需要相应尺寸的合束元件或参考波面。
  • 基于同轴干涉测量装置
  • [发明专利]基于两个单脊光栅的5×5点阵衍射光栅-CN201810226783.3有效
  • 周常河;鲁云开;项长铖 - 中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 2018-03-19 - 2020-12-04 - G02B5/18
  • 一种基于两个单脊光栅的5×5点阵衍射光栅,该光栅是由两个一维单脊光栅上下排列一体构成,且上层光栅的光栅周期方向与下层光栅的光栅周期方向互相垂直,所述的光栅周期均为1.309微米,上层光栅占空比为0.576~0.611,刻蚀深度为1.008~1.072微米,下层光栅占空比为0.5,刻蚀深度为0.873~0.897微米。当TM偏振光垂直入射时,将产生5×5的点阵,总的衍射角度为80°×80°,总的衍射效率大于93%,并且其均匀性优于8%。本发明由电子束直写装置结合微电子深刻蚀工艺加工而成,取材方便,造价小,能批量生产,具有重要的实用前景。
  • 基于两个光栅点阵衍射
  • [发明专利]实时三维激光荧光显微成像装置-CN201710034451.0有效
  • 余俊杰;周常河;项长铖;吴俊 - 中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 2017-01-17 - 2018-11-20 - G02B21/00
  • 一种实时三维激光荧光成像装置,该装置同时兼容传统明场照明显微成像工作模式。所述实时三维激光荧光成像装置根据功能主要分为激光激发模块、明场成像照明模块、数字探测模块、目镜观察模块,以及控制模块五个部分。利用空间光调制器加载角锥相位,从而在聚焦物镜后场产生高斯贝塞尔照明光场。在探测光路中,通过加入扭曲达曼光栅实现多物面同时成像,将从物镜收集的荧光通过多物面成像技术将多个轴向平面同时成像到电子增强CCD探测面上,从而实现了实时三维荧光成像。这种实时三维荧光成像技术在生物活体组织、活体细胞显微成像方面有重要的实用价值。
  • 实时三维激光荧光显微成像装置
  • [发明专利]1×2高效率反射式光栅-CN201510165518.5有效
  • 王津;周常河;麻健勇;曹红超;卢炎聪;李民康;项长铖 - 中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 2015-04-03 - 2017-03-15 - G02B5/18
  • 一种中心波长为1064纳米TE偏振的1×2高效率反射式光栅,其结构为熔融石英基底上依次镀上铬膜、金膜和熔融石英膜,在熔融石英膜层上刻蚀矩形槽光栅,未被刻蚀的熔融石英膜层为连接层,光栅周期为2304~2308纳米,占空比为0.34~0.36,光栅深度为570~590纳米,连接层厚度133~143纳米。本发明在TE偏振光垂直入射时,可以实现中心波长1064纳米消零级且±1级衍射效率高于96%。本发明可以由多光束激光并行直写装置结合自感应耦合等离子深刻蚀工艺以及镀膜技术加工而成,取材方便,加工简单,具有重要的实用前景。
  • 高效率反射光栅

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