专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种智能卡载带的制作方法-CN202211443155.3在审
  • 陆小勇;肖金磊;陈凝;杜艳春 - 紫光同芯微电子有限公司
  • 2022-11-17 - 2023-03-03 - C23C28/02
  • 本申请公开了一种智能卡载带的制作方法,可应用于智能卡载带制作技术领域。该方法包括:提供一侧附着有蚀刻成型的铜箔层的基层材料;对所述铜箔层进行沉积前预处理;在预处理后的所述铜箔层的接触面上进行物理气相沉积,生成接触面半光亮镍层;在所述铜箔层的压焊面上电镀半光亮镍层,生成压焊面半光亮镍层;对生成所述接触面半光亮镍层和所述压焊面半光亮镍层的所述基层材料进行预电镀金处理;对预电镀金处理后的所述基层材料进行镀软金处理,实现智能卡载带的制作。因此,本申请在接触面半光亮镍层的生成上使用物理气相沉积的方法,减少污染物的流入,使镍薄膜晶粒致密性更高,从而提高智能卡载带的抗盐雾腐蚀能力。
  • 一种智能卡制作方法
  • [发明专利]一种大容量智能卡的成品测试方法-CN201911323708.X在审
  • 欧阳睿;许秋林;肖金磊;陈凝;孟红霞;丁义民 - 北京紫光青藤微系统有限公司
  • 2019-12-20 - 2021-06-22 - G06F11/36
  • 本发明公开了一种大容量智能卡的成品测试方法,所述成品测试方法基于测试系统,测试系统由计算机、ATE设备和大容量智能卡组成,其中,所述大容量智能卡包括安全存储器,计算机连接ATE设备,ATE设备连接大容量智能卡。该成品测试方法开始启动,当大容量智能卡中安全存储器对收到的测试指令进行自动识别后,便按照预期测试向量中的APDU指令组合自动进行操作,以测试向量要求的存储器起止地址、操作方式、背景数据对地址区间内的存储器单元进行连续自测试,可以消除传统的存储器按页发送操作指令时消耗的通讯时间,可显著降低测试成本,极大的提升测试效率、覆盖率。
  • 一种容量智能卡成品测试方法
  • [发明专利]一种安全芯片主动防护层结构-CN201910167064.3在审
  • 陆小勇;肖金磊;陈凝;郭耀华;许秋林 - 紫光同芯微电子有限公司
  • 2019-03-06 - 2020-09-15 - H01L23/528
  • 本发明提供了一种安全芯片主动防护层结构。所述安全芯片主动防护层结构包括焊线孔、第一钝化层介质、第二钝化层介质、金属铝层、第一黏附阻挡层、金属塞、第二黏附阻挡层、金属阻挡层、介质层和铜金属层,其中,金属塞由金属钨通过化学气相沉积CVD工艺形成。本发明提供的方案,摒弃了传统的用铝金属填洞作为和下层金属连接的金属,而是通过化学气相沉积CVD工艺形成金属钨作为金属塞,在金属阻挡层上沉积钛/氮化钛及金属钨,将接触孔的关键尺寸做到远低于0.1um以下,下层第二黏附阻挡层和金属阻挡层的黏附性很好,满足电迁移和应力迁移的可靠性要求,和金属铝层主动防护层宽度小于1um的设计要求,并能够起到安全保护作用。
  • 一种安全芯片主动防护结构
  • [发明专利]一种新型芯片存放盒-CN201910014643.4在审
  • 刘兵;许秋林;肖金磊;何晓玉;欧阳睿 - 紫光同芯微电子有限公司
  • 2019-01-08 - 2020-07-14 - H01L21/673
  • 本发明提供了一种新型芯片存放盒,包括盒体和盒盖,所述盒体包括第一正方体基座和圆形凸状体,圆形凸状体位于第一正方体基座的正上方中间位置,第一正方体基座底部具有第一圆形凹状槽,第一圆形凹状槽与圆形凸状体相对设置;盒盖包括第二正方体基座,第二正方体基座一面具有第二圆形凹状槽,第二圆形凹状槽内壁具有两个位置对称的盒盖内扣槽。本发明的盒体与盒盖可相互拆卸锁扣,有利于芯片存放和保护。而且,若干盒体之间可拆卸连接,便于芯片存放盒的累积存放,节省了成本。该盒体中设计了位置对称的外倒扣和位置对称的盒体内扣槽,这与盒盖的盒盖内扣槽能够相互锁住和解锁,便于芯片存放盒的安装放置。
  • 一种新型芯片存放
  • [实用新型]安全芯片主动防护层结构-CN201920280598.2有效
  • 陆小勇;肖金磊;陈凝;郭耀华;许秋林 - 紫光同芯微电子有限公司
  • 2019-03-06 - 2020-06-26 - H01L23/528
  • 本实用新型提供了安全芯片主动防护层结构。所述安全芯片主动防护层结构包括焊线孔、第一钝化层介质、第二钝化层介质、金属铝层、第一黏附阻挡层、金属塞、第二黏附阻挡层、金属阻挡层、介质层和铜金属层,其中,金属塞由金属钨通过化学气相沉积CVD工艺形成。本实用新型的方案,摒弃了传统的用铝金属填洞作为和下层金属连接的金属,而是通过化学气相沉积CVD工艺形成金属钨作为金属塞,在金属阻挡层上沉积钛/氮化钛及金属钨,将接触孔的关键尺寸做到远低于0.1um以下,下层第二黏附阻挡层和金属阻挡层的黏附性很好,满足电迁移和应力迁移的可靠性要求,和金属铝层主动防护层宽度小于1um的设计要求,并能够起到安全保护作用。
  • 安全芯片主动防护结构
  • [发明专利]一种新型芯片封装体及其封装方法-CN201811222274.X在审
  • 李秀丽;肖金磊;欧阳睿;许秋林;陆小勇;刘静;刘松 - 紫光同芯微电子有限公司
  • 2018-10-19 - 2020-04-28 - H01L23/498
  • 本发明提供了一种新型芯片封装体及其封装方法。该新型芯片封装体包括基座板、插针和盖帽,其中,基座板包括基板、通孔、阱底、金手指和基阶,通孔分为内层通孔和外层通孔。该新型芯片封装体生产工艺简单灵活,并兼容现有的打线环境,能够在工程阶段快速地、低成本制样;而且,新型芯片封装体的基板采用特定的酚醛塑料,具备高硬度、抗高温、耐磨损、抗腐蚀、绝缘等特性,并通过结合引脚与芯片实现电气连接。新型芯片封装体的封装方法能够直接手动加盖帽,避免受到外力损伤,并且设计满足工程阶段的FA相关需求,方便增加外围器件,可直接观察电损伤进行失效分析。
  • 一种新型芯片封装及其方法

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