专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于测试OTP型SOC的系统和方法-CN202011324846.2有效
  • 纪效礼 - 杭州晶华微电子有限公司
  • 2020-11-24 - 2021-02-26 - G06F11/22
  • 本公开的实施例涉及一种用于测试OTP型SOC的系统和方法。一种用于测试OTP型SOC的系统包括:外部存储器,位于SOC外部并且与SOC通信连接,外部存储器用于存储用于第一测试项目的第一测试参数;以及系统控制器,与SOC和外部存储器通信连接,系统控制器指示SOC从外部存储器读取第一测试参数,其中SOC基于所读取的第一测试参数来运行存储在SOC的OTP存储器中的测试程序,以生成关于第一测试项目的第一测试结果;系统控制器被配置为:响应于在外部存储器中写入用于第二测试项目的第二测试参数,生成参数更新信号,并且向SOC发送参数更新信号,以指示SOC从外部存储器读取第二测试参数。本公开的实施例能够大大减少测试程序所占用的存储空间,并提供高效、稳定的测试。
  • 用于测试otpsoc系统方法
  • [发明专利]半导体芯片及其控制方法-CN202011331518.5有效
  • 牛晴晴 - 杭州晶华微电子有限公司
  • 2020-11-24 - 2021-02-12 - G06F1/08
  • 本公开的实施例提供了一种半导体芯片及其控制方法。该半导体芯片包括:第一引脚;第二引脚;非易失性存储器;编程模块,被配置为在接收到编程命令时将校准数据编程至非易失性存储器;以及控制器,耦合至第一引脚、第二引脚以及编程模块,并且被配置为:在半导体芯片上电时,如果经由第一引脚从上位机接收到的命令是预设字节,则使半导体芯片进入校准模式,如果不是预设字节,则使半导体芯片进入正常工作模式;在校准模式下,经由第一引脚输出内部时钟频率;经由第一引脚接收校准数据;经由第一引脚接收编程使能命令;以及基于编程使能命令使编程模块使用校准数据进行编程。在此描述的半导体芯片可以利用两个引脚实现多种功能。
  • 半导体芯片及其控制方法
  • [发明专利]用于电压电源低压检测的集成电路-CN202011257411.0有效
  • 陈建章 - 杭州晶华微电子有限公司
  • 2020-11-12 - 2021-02-12 - G05F1/56
  • 本公开的实施例提供了一种用于电压电源低压检测的集成电路。该集成电路包括:带隙基准电路,存储电路和比较器。带隙基准电路与电源端子耦合以接收电源电压并且基于电源电压来输出带隙基准电压,带隙基准电压在电源电压大于第一阈值的情况下具有预定值并且响应于电源电压低于第一阈值从预定值处降低。存储电路与带隙基准电路耦合,以用于存储来自带隙基准电路的等于预定值的参考电压。比较器耦合至带隙基准电路和存储电路,以比较带隙基准电压和参考电压,比较器响应于带隙基准电压低于参考电压,产生指示电源电压的低压状态的报警信号。根据本公开的集成电路采用该正常带隙基准电压的复制备份机制,能够确保可靠地检测出电源电压的低压状态。
  • 用于电压电源低压检测集成电路
  • [发明专利]用于半导体集成电路的电源上电复位电路-CN202011259068.3有效
  • 陈建章 - 杭州晶华微电子有限公司
  • 2020-11-12 - 2021-02-09 - H03K19/003
  • 实施例涉及用于半导体集成电路的电源上电复位电路,包括:电源电压检测模块,用于检测电源电压并输出第一指示信号,第一指示信号指示电源电压的高低;电流偏置模块,耦合至电源电压检测模块并且包括:第一电流源,用于输出第一基准电流;电阻设定单元,用于基于第一指示信号设定第一电流源的偏置电阻,使得偏置电阻与电源电压相匹配;阈值设定与检测模块,耦合至电流偏置模块并且包括:阈值设定单元,用于基于第一基准电流,设定多个电压阈值,并在电源电压大于多个电压阈值中的最大值时,输出第二指示信;滤波整形单元,用于对第二指示信号进行滤波和整形处理,以生成电源上电复位信号。以此方式,提供了低功耗高可靠性的电源上电复位电路。
  • 用于半导体集成电路电源复位电路
  • [发明专利]半导体运算放大装置和半导体感测装置-CN202011142199.3有效
  • 陈建章 - 杭州晶华微电子有限公司
  • 2020-10-23 - 2021-02-09 - H03F1/26
  • 本文描述了半导体运算放大装置和半导体感测装置。该半导体运算放大装置包括:主运算放大电路,包括被配置为接收差分输入信号的第一双极结型晶体管和第二双极结型晶体管;以及输入电流补偿电路,包括第三双极结型晶体管、钳位运算放大器和电流镜。钳位运算放大器被配置为使第三双极结型晶体管与第一双极结型晶体管和第二双极结型晶体管在相同的偏置下工作。电流镜被耦合在第一节点与第一双极结型晶体管、第二双极结型晶体管和第三双极结型晶体管的基极之间,并且电流镜被配置为分别向第一双极结型晶体管、第二双极结型晶体管和第三双极结型晶体管的基极提供彼此成比例的偏置电流。该半导体运算放大装置以高精度实现微弱输入信号的低噪声放大。
  • 半导体运算放大装置
  • [发明专利]一种温控RTC的数字频率校正方法和系统-CN202011068911.X有效
  • 赵双龙 - 杭州晶华微电子有限公司
  • 2020-10-09 - 2021-01-12 - H03L7/18
  • 本发明涉及频率校正方法,公开了一种温控RTC的数字频率校正方法和系统。根据校正精度要求来确定一个校准周期长度;根据目标频率和基准频率推算出理论分频系数;测量并推算出所有温度点下的原始频率误差值及对应的频率校正码值,生成温度‑频率校正码表并存储;实际运行时根据温度值索引查得一个频率校正码值及其正负状态,实现在一特定时间段内,采用在理论分频系数基础上增加1或者减少1而得到的校正分频系数对原始频率进行分频,获得校正后频率;本发明通过查找温度‑频率校正码表,结合数字逻辑控制电路,计算得到在两个时段内的不同校正分频系数;整个校正过程简单,数字逻辑控制电路占用资源少,易于在芯片内部实现,并节约芯片成本。
  • 一种温控rtc数字频率校正方法系统
  • [发明专利]用于半导体集成电路的基准电流源-CN202011135849.1有效
  • 陈建章 - 杭州晶华微电子有限公司
  • 2020-10-22 - 2021-01-08 - G05F1/56
  • 实施例涉及用于半导体集成电路的基准电流源,包括:电压源,被配置为在第一电源端子与第二电源端子之间提供基准电压;运算放大器,其同相输入端耦合至第二电源端子;反馈晶体管,其栅极耦合至运算放大器的输出端,其源极耦合至运算放大器的反相输入端,并且其漏极用于提供基准电流;开关电容电路,包括第一电容器、第一开关和第二开关,第一电容器和第二开关串联连接在第一电源端子与运算放大器的反相输入端之间,第一开关与第一电容器并联连接;以及非交叠时钟控制模块,被配置为基于晶振时钟信号产生用于控制第一开关的第一时钟信号和用于控制第二开关的第二时钟信号,第一时钟信号与第二时钟信号不交叠,使得第一开关和第二开关交替导通。
  • 用于半导体集成电路基准电流
  • [发明专利]用于测试模数转换器的系统和方法-CN202011333216.1在审
  • 纪效礼;罗伟绍 - 杭州晶华微电子有限公司
  • 2020-11-25 - 2020-12-29 - H03M1/10
  • 本公开涉及用于测试模数转换器的系统和方法。该系统包括信号发生器,用于产生具有第一预设值的第一测试信号,第一测试信号为直流信号。测量单元,用于测量第一测试信号,以获得第一测量值。计算设备,与信号发生器和测量单元连接,以用于确定第一测量值与第一预设值是否匹配;响应于第一测量值与第一预设值不匹配,通过信号发生器来产生具有第二预设值的第二测试信号,第二预设值不同于第一预设值;响应于第一测量值与第一预设值匹配,获取来自模数转换器的测试结果,测试结果包括由模数转换器转换第一测试信号而产生的第一数字信号;以及基于第一测试信号和第一数字信号来确定模数转换器的测试参数。本公开能够有效保证测试ADC的准确性。
  • 用于测试转换器系统方法
  • [发明专利]半导体装置-CN202011142149.5有效
  • 陈建章 - 杭州晶华微电子有限公司
  • 2020-10-23 - 2020-12-25 - G01R27/08
  • 本文提供了一种半导体装置。该半导体装置包括开关网络、参考阻抗器件和控制电路。控制电路基于测量请求将阻抗性质不同的参考阻抗耦合至比较电路。比较电路基于表示参考阻抗器件的阻抗值的参考电压和表示目标阻抗器件的目标阻抗值的目标电压来生成触发信号。控制电路基于触发信号确定第一时段,改变参考阻抗值的参考电压和目标阻抗值的目标电压,基于针对经改变的参考电压和目标电压的触发信号,确定第二时段,基于第一时段和第二时段,确定目标器件的阻抗值。通过使用根据本公开的技术方案,可以以简化的电路实现高精度的电阻和电容测量。
  • 半导体装置

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