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[实用新型]静电放电装置-CN202223392714.0有效
发明人：叶耀隆;谢佑銓 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2022-12-16 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本实用新型关于一种静电放电装置，供电性连接一高压源，其包括：一基板；复数静电放电模组，该复数静电放电模组设于该基板，该复数静电放电模组供电性连接于该高压源及复数待测物之间，各该静电放电模组包括一第一静电放电单元及一第二静电放电单元，可选择至少一该静电放电模组的该第一静电放电单元及该第二静电放电单元其中一者供输出静电至其中一该待测物，该第一静电放电单元相异于该第二静电放电单元。本实用新型提供的静电放电装置，其整合多组静电放电模组于一基板，整体体积小而减少机台占用空间。
静电放电装置

[实用新型]载台移动装置-CN202223601476.X有效
发明人：吴子成 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： H01L21/687 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种载台移动装置，包括：一基座；一载台，供承载一基板，以一中心线为轴可转动地设于该基座；及至少一致动机构，设于该基座，包括至少一抵推件，该至少一抵推件可相对该载台往复移动并抵推该载台的一外周面以带动该载台转动，该至少一抵推件的一抵推中心轴偏心于该中心线。
移动装置

[发明专利]半导体元件贴合设备-CN201911074616.2有效
发明人：徐秋田;赖允晋;梁奕智;邱添煌;庄承林 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2019-11-06 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本发明关于一种半导体元件贴合设备，包括：一基座；一基板检测机构，设于该基座并包括一第一对位平台及一第一检测模组；一框架检测机构，设于该基座并包括一第二对位平台及一第二检测模组；以及一第一拿取装置。该设备可快速将排列于该框件上的该些半导体元件贴合于该基板的该些导电线路，且可供雷射焊接或其它快速焊接方式将该些半导体元件与该些导电线路进行焊接，因此可提高半导体产业的制程速度及降低成本。
半导体元件贴合设备

[发明专利]半导体元件雷射焊接装置及方法-CN201911074618.1有效
发明人：徐秋田;赖允晋;梁奕智;邱添煌;庄承林 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2019-11-06 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本发明关于一种半导体元件雷射焊接装置及方法，供焊接一贴合成品，该贴合成品由一框架及一基板相贴合而成，该框架设有一贴膜及排列设于该贴膜的复数半导体元件，包括：一焊接设备，包括一座体，该座体设有一焊接载台及一焊接模组，该焊接载台供承载该贴合成品，该焊接模组设有一扫描模组及一雷射焊头，该扫描模组供扫描该贴合成品，该雷射焊头发出雷射光束穿透该贴膜与该基板至少其中一者。本发明可快速将复数半导体元件贴合于一基板的复数导电线路，并将复数该半导体元件与复数该导电线路进行雷射焊接，因此可提高半导体产业的制程速度及降低成本。
半导体元件雷射焊接装置方法

[实用新型]伫立支撑装置-CN202222217522.X有效
发明人：黎育翔 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2022-08-23 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： B60B33/00 文献下载
摘要：本实用新型关于一种伫立支撑装置，包括：一驱动单元、一脚架单元及一感测单元。该脚架单元连接该驱动单元且受其驱动位移；该感测单元通讯连接该驱动单元，用以侦测该脚架单元的移动状态；其中，当该感测单元侦测到该脚架单元移动至预定位置时，该感测单元传递停止讯号予该驱动单元，该驱动单元停止驱动该脚架单元。
伫立支撑装置

[实用新型]三轴微调结构-CN202221652372.9有效
发明人：黄耀圣;方思巽 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2022-06-29 - 公布日： 2022-11-29 - 主分类号： B23Q1/25 文献下载
摘要：一种三轴微调结构，包括一底座、一第一滑座、一第二滑座、一第三滑座、一第一调整结构、一第二调整结构及一第三调整结构。该底座定义相互垂直的一X轴、一Y轴、一Z轴。该第一滑座沿该X轴滑设于该底座。该第二滑座沿该Y轴滑设于该第一滑座。该第三滑座沿该Z轴滑设于该第二滑座。该第一调整结构设于该底座与该第一滑座其中一者，包括围绕该Z轴螺动的一第一螺动件及围绕该Y轴摆动的一第一摆动块。该第二调整结构设于该第一滑座与该第二滑座其中一者，包括围绕该Z轴螺动的一第二螺动件及围绕该X轴摆动的一第二摆动块。该第三调整结构设于该第二滑座与该第三滑座其中一者，包括围绕该Z轴螺动的第三螺动件。该结构易于操作、工作空间需求小。
微调结构

[实用新型]易于拆组的探针装置-CN202220324309.6有效
发明人：邓博文;枋敬贺 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2022-02-17 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型所提供的易于拆组的探针装置主要包括一基座、一第一嵌合部、一针座、一第二嵌合部及一连接部，其中，该第一嵌合部设于该基座上；该针座具有一身部及一设于该身部的一端的探针；该第二嵌合部可拆卸地与该第一嵌合部相接，并设于该针座的身部远离该探针所在位置的另一端；当该基座与该针座相组合时，使该第一嵌合部与该第二嵌合部相互结合，令该针座定位于该基座上；该连接部可拆卸地桥接于该基座与该针座之间，以将该基座与该针座相互结合固定。本实用新型改善习知针座总成组装时需以多个螺丝锁固的问题，且能够更快速地更换或组装针座，以达到省时的功效。
易于探针装置

[实用新型]雷射除膜装置-CN202122173446.2有效
发明人：黄承平;黎育翔 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2021-09-09 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： B08B7/00 文献下载
摘要：本实用新型关于一种雷射除膜装置，包括一机台、一臂部、一雷射装置及一转动机构。该臂部设于该机台并可相对该机台移动。该雷射装置连接于该臂部，包括一雷射产生模组及一反射镜，该雷射产生模组朝该反射镜发射出雷射光且该反射镜将雷射光进行反射。该转动机构设于该臂部与该雷射装置其中一者，通过该转动机构转动以改变该反射镜所反射出的雷射光的方向。本实用新型可用于清除面对不同方向的模具，以提高除膜效率。
雷射装置

[实用新型]测试结构及包括复数该测试结构的探针装置-CN202020151119.X有效
发明人：邓博文;李孟洁;詹前伟 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2020-02-03 - 公布日： 2020-11-17 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型关于一种测试结构，其包括一基座；一测试机构，其包括一可活动地设于该基座的探针座及一设于该探针座的探针；其中，调整该探针座可带动该探针于一第一位置及一第二位置之间移动，该第一位置及该第二位置的间距为2.00mm。本实用新型另关于一种探针装置，包括复数上述的测试结构，其中于该第二位置时，其中一该测试机构的探针与相邻的至少一该测试机构的探针错位设置。本实用新型提供的测试结构及包括复数该测试结构的探针装置，可调整一探针座相对该基座的位置，以利于拆装一探针。
测试结构包括复数探针装置

[实用新型]阵列式发光单元的量测装置-CN201822132880.4有效
发明人：徐秋田;林奕良 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2018-12-18 - 公布日： 2020-01-07 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型关于一种阵列式发光单元的量测装置，用于测量呈阵列式排列的复数发光单元，其包括：一承载平台，其包括一承载该复数发光单元的透光部；复数探针组，分别可供选择地电性接触该复数发光单元的复数待测发光单元；一量测组件，其包括一第一影像式光接收器及一第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别位于该承载平台的一侧，该第一影像式光接收器可与该透光部可相对移动，该第二影像式光接收器可与该透光部可相对移动，以选择地使该第一影像式光接收器或该第二影像式光接收器对应该透光部以接收该复数待侧发光单元所产生的光。
光接收器影像发光单元复数透光承载平台相对移动本实用新型阵列式排列复数探针量测装置量测组件侧发光性接触阵列式地电测量承载

[发明专利]自动化边射型雷射双温同步检测分类设备-CN201811501733.8在审
发明人：林奕良 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2018-12-10 - 公布日： 2019-12-06 - 主分类号： B07C5/342 文献下载
摘要：一种自动化边射型雷射双温同步检测分类设备，包括：一取料单元、一自动移载单元、一检测单元及一分晶单元。所述取料单元供置放一晶圆，所述晶圆包含有复数边射型的晶粒；所述自动移载单元包含有一本体、一第一取物机构、一第二取物机构及一第三取物机构，所述第一取物机构、第二取物机构及第三取物机构可沿一检测方向移动地设于所述本体；所述检测单元包含有沿所述检测方向配置的一第一检测区及一第二检测区，于第一检测区内设有一第一检测机构，于所述第二检测区内设有一第二检测机构、以及一控温装置，所述第二检测区的温度通过所述控温装置而异于所述第一检测区的温度；所述分晶单元供将检验过后的所述复数晶粒依其检验数据进行分类存放。
取物机构第二检测检测方向控温装置取料单元检测区晶圆射型检测分类存放分类设备复数晶粒检验数据同步检测移载单元晶粒配置的移动地复数雷射双温置放自动化检验

[发明专利]半导体制程输送系统及方法-CN201611233277.4在审
发明人：林奕良;陈世颖;陈宏沛 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2016-12-28 - 公布日： 2018-07-06 - 主分类号： H01L21/677 文献下载
摘要：本发明提供一种半导体制程输送系统及方法，该半导体制程输送系统包括一位移机构、复数机台及一拿取机构。该位移机构包括一沿一第一方向延伸的第一轨道。复数机台分别设于该第一轨道的两侧，各机台具有一工作平台，该工作平台供置放至少一晶座盒。拿取机构可活动地设于该第一轨道，且可自其中一工作平台拿取一晶座盒或将一晶座盒置放于其中一工作平台。并提供具有上述结构的输送方法。本发明的半导体制程输送系统及方法，可顺利置放晶座盒于位于拿取机构两侧的机台或顺利自位于拿取机构两侧的机台拿取晶座盒。
机台拿取晶座半导体制程工作平台输送系统置放位移机构复数轨道方向延伸可活动

[发明专利]检测方法-CN201210352665.X无效
发明人：赖允晋;徐秋田;谢宜昇 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2012-09-20 - 公布日： 2014-03-26 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种检测方法，适用于量测胶膜上已彼此劈裂的数个晶粒，包含以下步骤：提供一个标准间距范围与一个临界间距范围，并量测及记录所述晶粒彼此间的间距，再将所记录的所述晶粒的间距与所提供的间距范围比较，以判断是否依序对所述晶粒进行检测。本发明在检测前，预先量测并记录所述晶粒彼此间的间距，并利用标准间距范围与临界间距范围而可选择对间距差异过大的相邻晶粒不检测或整片晶粒不检测，以减少检测误差，若要检测，也能考虑相邻晶粒之间的间距，而能对晶粒的光性检测结果进行补正以提高检测结果的正确性，因此，本发明有助于获得更正确的检测数据。
检测方法

[实用新型]探针清洁装置-CN201320203673.8有效
发明人：邓博文 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2013-04-19 - 公布日： 2013-11-06 - 主分类号： B08B1/00 文献下载
摘要：一种探针清洁装置，适装设于一台检测机，该检测机具有一个探针单元，及一个能相对于该探针单元移动的检测台，该探针单元具有一根沿一个第一轴向延伸的探针，该探针清洁装置设置于该检测台，并包含至少一个磨针单元及至少一个软性清洁单元，该磨针单元包括一个与该检测台连接的底座，及一个设置于该底座的磨针平台，该软性清洁单元包括一个设置于该检测台的结合部，及一个与该结合部连接的清洁部，该软性清洁单元能去除该探针表面的残留粉屑，该磨针装置则能磨除附着于该探针表面吸附力较强的污垢或氧化层，故能达到良好的探针清洁效果。
探针清洁装置

[发明专利]太阳能模组瑕疵检测的方法-CN201110261677.7无效
发明人：林敬祐;徐秋田;洪育民 -专利权人： 惠特科技股份有限公司
申请日： 2011-09-05 - 公布日： 2013-03-20 - 主分类号： H01L31/18 文献下载
摘要：一种太阳能模组瑕疵检测的方法，先对该太阳能模组供电，以使该太阳能模组的多个太阳能板分别发射出红外光，接着利用一个摄像机对所述太阳能板进行摄像，以输出一个原始影像至一个计算单元，并通过该计算单元计算出多个相对应所述太阳能板的个别影像区、多个相对应所述个别影像区的个别平均灰度值，及相对应所述个别平均灰度值的总平均灰度值，接着该计算单元于所述个别影像区中选取出个别平均灰度值不符合标准的不良影像区，并计算出不良影像区中的不良影像范围，最后将不良影像范围显示于一个显示荧幕，而以自动化的方式简化使用者的操作。
太阳能模组瑕疵检测方法

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