专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]可调高维持电压、低触发电压的硅控整流器结构-CN202210669459.5在审
  • 庚润;田志;姬峰;陈昊瑜 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2022-06-14 - 2022-11-01 - H01L29/74
  • 本发明提供一种可调高维持电压、低触发电压的硅控整流器结构,包括P型衬底,P型衬底上形成有相邻的N阱和P阱;N阱上设有依次间隔分布的第、二浅沟槽隔离,第一、二浅沟槽隔离间形成有第一N型离子注入层,第二浅沟槽隔离的一侧形成有第一栅极、第一、二P型离子注入层;P阱上设有依次间隔分布的第三浅沟槽隔离和第四浅沟槽隔离,第三浅沟槽隔离和第四浅沟槽隔离间形成有第三P型离子注入层,第二N型离子注入层一部分横跨N阱和P阱,第二N型离子注入层另一部分位于P阱;第二P型离子注入层和第二N型离子注入层间设有第五浅沟槽隔离。本发明可以降低触发电压;提高维持电压;调整触发电压。
  • 可调维持电压触发整流器结构
  • [发明专利]可调低触发电压、高维持电压的硅控整流器结构-CN202210669628.5在审
  • 庚润;刘涛;田志;姬峰 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2022-06-14 - 2022-09-20 - H01L27/02
  • 本发明提供一种可调低触发电压、高维持电压的硅控整流器结构,P型衬底,P型衬底上形成有相邻的N阱和P阱;N阱上形成有第一栅极及分别形成于第一栅极两侧的第一、二P型离子注入层,第二P型离子注入层一部分位于N阱上,第二P型离子注入层另一部分横跨N阱与P阱的交界处;N阱上依次设有与第一P型离子注入层间隔分布的第一N型离子注入层、第一浅沟槽隔离;P阱上形成有第二栅极及分别形成于第二栅极两侧的第二N型离子注入层和第三N型离子注入层,第二N型离子注入层一部分位于P阱上,第二N型离子注入层另一部分横跨N阱与P阱的交界处。本发明可以有效快速的达到所需要的低电容静电保护范围,同时降低抗闩锁能力。
  • 可调触发电压维持整流器结构
  • [发明专利]高维持电压低触发电压的硅控整流器结构-CN202210669575.7在审
  • 庚润;田志;姬峰;王奇伟 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2022-06-14 - 2022-09-13 - H01L29/74
  • 本发明提供一种高维持电压低触发电压的硅控整流器结构,包括P型衬底,P型衬底上形成有相邻的N阱和P阱;N阱上设有依次间隔的第一、二、三浅沟槽隔离,第一、二浅沟槽隔离间设有第一N型离子注入层,第三浅沟槽隔离的一侧设有部分横跨N阱和P阱的第二P型离子注入层;P型衬底上设有间隔的第四、五浅沟槽隔离,第四、五浅沟槽隔离间设有第三N型离子注入层,N阱上还设有栅极,栅极的一侧设有部分横跨N阱和P阱的第二N型离子注入层,第二N型离子注入层与第二P型离子注入层间设有第六浅沟槽隔离,栅极和第四浅沟槽隔离间设有第三N型离子注入层。本发明可以有效快速的达到所需要的低电容静电保护范围,同时降低抗闩锁能力。
  • 维持压低触发电压整流器结构
  • [发明专利]具有高维持电压低触发电压的RC耦合硅控整流器结构-CN202210669551.1在审
  • 庚润;田志;姬峰 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2022-06-14 - 2022-09-09 - H01L27/02
  • 本发明提供一种具有高维持电压低触发电压的RC耦合硅控整流器结构,包括P型衬底,P型衬底上形成有相邻的N阱和P阱;N阱与P型衬底交界处设有第一浅沟槽隔离,N阱上设有第二浅沟槽隔离,从第一浅沟槽隔离至第二浅沟槽隔离间的N阱依次形成有第一N型离子注入层和第一P型离子注入层;第一N型离子注入层上设有第一连接结构,用于引出阳极;P型衬底上形成有横跨N阱与P型衬底的交界处的第二P型离子注入层,第二浅沟槽隔离至第二P型离子注入层间的N阱上形成有栅极。本发明通过改变RC的值可以调控触发电压;具有较高的维持电压;更低的触发电压和更高的维持电压使得新结构具有更高的闩锁抗性。
  • 具有维持压低触发电压rc耦合整流器结构
  • [发明专利]CMOS抗闩锁效应结构-CN202210713440.6在审
  • 庚润;田志;姬峰 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2022-06-22 - 2022-09-09 - H01L27/092
  • 本发明公开了一种CMOS抗闩锁效应结构,NMOS和PMOS分别形成于高压P阱和高压N阱中。在高压P阱的周侧形成有N阱隔离圈,N阱隔离圈用于从P型半导体衬底隔离NMOS。在N阱隔离圈和高压N阱之间间隔有P阱。PMOS的P+源区、高压N阱、P阱和N阱隔离圈之间形成寄生SCR。在N阱隔离圈的顶部表面形成有肖特基二极管。肖特基二极管的金属电极接地。寄生SCR开启时产生闩锁效应,且寄生SCR开启时肖特基二极管会被反向击穿,寄生SCR开启时的维持电压会叠加肖特基二极管的反向击穿电压,从而能提升寄生SCR开启时的维持电压并从而提高CMOS电路的抗闩锁效应能力。
  • cmos抗闩锁效应结构
  • [发明专利]一种促进静电放电器件均匀触发的多指结构-CN202210457943.1在审
  • 庚润;田志;姬峰 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2022-04-27 - 2022-07-22 - H01L27/02
  • 本发明提供一种促进静电放电器件均匀触发的多指结构,所述结构包括多个指状结构单元,所述指状结构单元包括:P型衬底、形成于P型衬底中的高压P阱区、形成于P型衬底表面的多晶硅栅结构、形成于高压P阱区中且位于多晶硅栅结构两侧的第一N漂移区和第二N漂移区、形成于所述第一N漂移区中的N+漏端、形成于所述第二N漂移区中的N+源端;其中,在中心的至少一个所述指状结构单元中,所述N+漏端形成有P+扩散区。本发明在中心漏端插入P+扩散区来降低中心指状结构单元寄生BJT的Rsub,利用中心指状结构单元开启后的电流作为触发电流,开启其余指状结构单元。通过本发明的结构,可以大大提高静电放电器件的均匀开启效果,从而提高器件的抗静电放电能力。
  • 一种促进静电放电器件均匀触发结构
  • [发明专利]一种GGNMOS结构-CN202210097232.8在审
  • 庚润;田志;刘涛;姬峰 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2022-01-27 - 2022-05-13 - H01L27/02
  • 本发明提供一种GGNMOS结构,位于P型衬底区的第一高压P阱;第一高压P阱内的第一N阱;第一N型漂移区;第一N型重掺杂区;第一高压P阱两侧设有第二N阱;其中一个第二N阱上设有第二N型重掺杂区;第二N阱一侧设有P阱;P阱上设有第一P型重掺杂区;P阱一侧设有第二高压P阱;第二高压P阱内设有第二N型漂移区和P型漂移区;第二N型漂移区上设有第三N型重掺杂区;P型漂移区上设有第二P型重掺杂区;第二N型漂移区与P阱之间的第二高压P阱上设有栅极结构;本发明的N阱的掺杂浓度高于N型漂移区,有效的将雪崩击穿点由N型漂移区、高压P阱转移到了N阱与高压P阱,有效降低了触发电压。不显著增加面积的前提下,有效提高了触发均匀性。
  • 一种ggnmos结构
  • [发明专利]微纳米混杂TiC-TiB2颗粒强化高性能铝合金制备方法-CN201711273983.6有效
  • 邱丰;庚润;姜启川;常芳 - 吉林大学
  • 2017-12-06 - 2019-09-24 - C22C1/05
  • 本发明涉及一种微纳米混杂TiC‑TiB2颗粒强化高性能铝合金制备方法,包括以下步骤:(1)B4C粉的预处理;(2)反应压坯的制备;(3)压坯烧结原位反应致密化;(4)烧结态压坯的均匀化处理;(5)热挤压塑性成型;(6)挤压态材料热处理。本发明的技术方案,在金属中同时引入纳米尺寸和微米尺寸陶瓷颗粒,利用原位内生技术在金属中一步原位内生制备出纳米尺寸陶瓷颗粒和微米尺寸陶瓷颗粒,并使其均匀分散于铝合金基体中,获得从低体积分数到高体积分数增强相多含量变化并均匀分散的纳米颗粒和微米颗粒混杂强化的高性能铝合金材料,该材料具有超强的强韧性,具有重要的实际应用价值。
  • 纳米混杂tictibbasesub

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