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[发明专利]测距装置-CN202180070879.5在审
发明人：吉田笃 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2021-11-22 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：根据本公开的测距装置(1)包括发光元件(2)、受光元件(3)和基板(20)。所述发光元件(2)用光照射对象物(X)。所述受光元件(3)接收从所述对象物(X)反射的来自所述发光元件(2)的光。所述发光元件(2)和所述受光元件(3)安装在所述基板(20)上。电气连接所述受光元件(3)和所述基板(20)的接合线(W)未配置在所述受光元件(3)的发光元件(2)侧的边(3s)上。
测距装置

[发明专利]光接收装置、光接收装置的控制方法以及测距系统-CN202180072543.2在审
发明人：森川有辉;池田裕介 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2021-10-19 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：根据实施方式的光接收装置包括：由SPAD构成的光接收元件(1000)；电流源(1001)，向SPAD供应再充电电流；检测部(1002)，检测基于电流的电压，在所检测的电压的电压值超过阈值的情况下使输出信号反相，将所反相的输出信号整形为脉冲信号，并输出脉冲信号；多个计数器(201(1)‑201(N))，均对从检测部输出的脉冲信号进行计数；以及分配部(1101)，从多个计数器中选择供应脉冲信号的目标计数器，其中，分配部通过与多个计数器一一对应的多个控制信号选择目标计数器，多个控制信号包括在多个计数器中同时选择两个或更多个计数器的状态。
接收装置控制方法以及测距系统

[发明专利]距离测量装置和距离测量方法-CN202180070398.4在审
发明人：大木光晴 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2021-09-01 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：根据本公开的一个实施例的距离测量装置包括：光接收部分，接收基于来自发光部分的照射光的来自距离测量目标的反射光；直方图获取部分，获取表示由光接收部分接收反射光的频率的直方图；以及计算部分，基于与由直方图获取部分获取的直方图中的峰值相对应的时间来计算到距离测量目标的距离。基于由直方图获取部分获取的直方图的形状，计算部分校正基于与直方图峰值相对应的时间计算的距离。
距离测量装置测量方法

[发明专利]距离图像摄像元件以及距离图像摄像装置-CN202180065881.3在审
发明人：大久保优;中込友洋 -专利权人：凸版印刷株式会社
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：距离图像摄像元件为，在半导体基板上形成有像素电路，该像素电路至少具备：光电转换元件，产生与从测定对象的空间入射的光相应的电荷；电荷蓄积部，蓄积电荷；传送MOS晶体管(以下称为TR)，设置在从光电转换元件将电荷向电荷蓄积部传送的传送路径上；以及电荷排出TR，设置在从光电转换元件排出电荷的排出路径上。光电转换元件在俯视时以N边形(N为5以上的整数)的形状形成在半导体基板上。传送TR与电荷排出TR的总和为N个以上，在光电转换元件的边中，在除了设置有电荷排出MOS晶体管的第一边以外的其他的第二边上各设置有1个传送TR。
距离图像摄像元件以及装置

[发明专利]测距摄像机-CN201980052688.9有效
发明人：须藤觉 -专利权人：三美电机株式会社
申请日： 2019-10-07 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：测距摄像机(1)具备：第一摄像系统(IS1)，其用于获取第一图像；第二摄像系统(IS2)，其用于获取第二图像；以及尺寸获取部(3)，其通过测定第一图像中的第一被摄体像的多个特征点之间的距离来获取第一被摄体像的尺寸，并且测定与第一被摄体像的多个特征点分别对应的、第二被摄体像的多个特征点之间的距离，由此获取第二被摄体像的尺寸。尺寸获取部(3)仅在与第一图像对应的第一摄影区域同与第二图像对应的第二摄影区域能够重叠的、第二图像的搜索区域中，在极线上进行搜索，由此检测第二被摄体像的多个特征点。
测距摄像机

[发明专利]表面发射激光装置和电子设备-CN202180056721.2在审
发明人：加藤菊文 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2021-08-04 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：[问题]能够在不影响距离测量的情况下实现小型化。[解决方案]本发明的这种表面发射激光装置设置有表面发射部，该表面发射部具有设置在基板上的多个发光元件，并且多个发光元件中的一些发光元件用作光接收元件。
表面发射激光装置电子设备

[发明专利]图像处理装置、立体摄像装置、移动体、视差计算方法及图像处理方法-CN202180059982.X在审
发明人：涩沢英次郎;外馆弘理 -专利权人：京瓷株式会社
申请日： 2021-07-15 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：图像处理装置(20)具有通信部(21)和控制部(22)(处理器)。通信部(21)获取由立体摄像机(10)所拍摄的基准图像和参照图像。控制部(22)基于基准图像和参照图像来计算视差。控制部(22)针对每个像素位置计算代价值，该代价值表示基准图像与将参照图像在与立体摄像机(10)的基线长度方向对应的方向上偏移了多个不同的偏移量的多个图像各自的、每个像素位置的差异度。处理器使用动态规划法来汇集代价值，并基于多个不同的偏移量中的每一个的所汇集的代价值，来针对每个像素位置计算视差。多个不同的偏移量取不等间隔的离散值。
图像处理装置立体摄像移动视差计算方法方法

[发明专利]测距装置、测距方法及测距程序-CN202180059363.0在审
发明人：大乡毅 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2021-06-22 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：测距装置具备光源、偏转光学部件、反射部件、受光元件及受光元件。反射部件使用于扫描来自光源的光而扫描测定对象物的扫描角度不同，按每个不同的扫描角度反射来自光源的光。偏转光学部件将由反射部件反射的光引导至测定对象物。受光元件接收由偏转光学部件引导的光被测定对象物反射的反射光。在反射部件的扫描角度为特定角度的情况下，受光元件接收以反射部件及偏转光学部件的顺序反射的光。
测距装置方法程序

[发明专利]测距摄像机-CN201980047903.6有效
发明人：须藤觉 -专利权人：三美电机株式会社
申请日： 2019-07-08 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：测距摄像机(1)具备：第一摄像系统(IS1)，其用于获取包括第一被摄体像的第一图像；第二摄像系统(IS2)，其用于获取包括第二被摄体像的第二图像；尺寸获取部(3)，其用于检测第一图像中的第一被摄体像的多个特征点，测定该特征点之间的距离，由此获取第一被摄体像的尺寸，并且通过利用极线来检测与第一被摄体像的多个特征点分别对应的、第二图像中的第二被摄体像的多个特征点，测定该特征点间的距离，由此获取第二被摄体像的尺寸；以及距离计算部(5)，其用于基于第一被摄体像的倍率与第二被摄体像的倍率的图像倍率比来计算到被摄体(100)的距离。
测距摄像机

[发明专利]发光装置和测距系统-CN202180051893.0在审
发明人：今吉孝平;馆林克明;国光孝行;木村胜治;山中寛之;龙平一郎;川端淳 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2021-09-29 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：本发明旨在提供能够以较佳方式使光的照射位置移动的发光装置和测距系统。本发明的发光装置包括：多个发光元件，用于产生光；和移动部，用于通过将与所述光关联的预定部分沿第一方向驱动来使光的照射位置移动。这里，所述发光元件被布置在沿与第一方向正交的第二方向延伸的多条第一直线和沿与第一方向及第二方向都不平行的第三方向延伸的多条第二直线的交点处，所述第一直线包括直线A及与直线A在第一方向上相邻的直线B，并且所述直线A上的所述发光元件和所述直线B上的所述发光元件被布置成在第一方向上彼此不相邻。籍此，例如可通过单轴驱动使光的照射位置移动到各部位等，由此以较佳方式使光的照射位置移动。
发光装置测距系统

[发明专利]距离测量装置及校准方法-CN202180054957.2在审
发明人：大木光晴 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2021-07-19 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：根据本发明的距离测量装置包括：光发射单元，发射光；光接收传感器，接收由光发射单元发射并被目标物体反射的光；以及校准计算单元，作为用于找到基于从光接收传感器接收的光信号通过间接ToF方法计算的距离信息的校正参数的校准计算处理，使用当光发射单元以第一光发射频率进行光发射时的从光接收传感器接收的光信号和当光发射单元以不同于第一光发射频率的第二光发射频率进行光发射时的从光接收传感器接收的光信号，进行计算处理。
距离测量装置校准方法

[发明专利]光测距装置-CN202080014390.1有效
发明人：长井利明;三木早树人 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2020-02-03 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：本发明涉及光测距装置(100)，具备：发光光学系统(20)，其投射具有照射区域和非照射区域的图案光；受光传感器(40)，其具有阵列状的受光元件(41)；受光光学系统(30)，其从对象物接受图案光的反射光，将反射光中的与照射区域对应的部分放大成比一个受光元件大，并使放大后的光入射到受光传感器(40)；距离测定部(55)，其基于来自受光传感器的输出来测定到对象物为止的距离；以及位置调整部(33)，其用于基于来自受光传感器的输出，来进行发光光学系统和受光光学系统的至少一部分的位置调整。
测距装置

[发明专利]测距装置-CN202180062044.5在审
发明人：安阳太郎 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2021-09-03 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：该测距装置(500)包括：沿行方向和列方向设置的多个像素(11a，12a)；多个AD转换电路(6，7)，设置在行方向上，并且对相应列的像素信号分别进行AD转换；以及信号处理单元(92)，基于多个AD转换电路的转换结果生成深度图像信号，其中多个像素(11a，12a)包括沿行方向和列方向设置以对应于深度图像信号的多个有效像素(11a)，并且分别包括：多个电荷传输单元(TA，TB)，根据在不同时段中的入射光的量提取像素信号，以及相对于设置多个有效像素(11a)的区域，在行方向的两端侧的至少一侧沿列方向设置的多个遮光像素(12a)，且每个遮光像素覆盖有遮光膜(M)。
测距装置

[发明专利]DLL电路、时间差放大电路、以及测距摄像装置-CN201980082186.0有效
发明人：加藤匠;松川和生;尾关俊明 -专利权人：新唐科技日本株式会社
申请日： 2019-12-17 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：DLL电路(10)具备：时间差放大电路(11)，对被输入的第1信号以及第2信号进行放大处理，即对作为第1信号中包含的逻辑电平的变化点的边沿与作为第2信号中包含的逻辑电平的变化点的边沿的时间差进行放大，输出得到的第1放大后信号以及第2放大后信号；相位比较电路(12)，算出从时间差放大电路(11)输出的第1放大后信号以及第2放大后信号的相位差，并输出示出算出的相位差的相位差信号；以及可变延迟电路(13)，使第2信号延迟依存于从相位比较电路(12)输出的相位差信号所示的相位差的延迟量，并作为延迟后信号来输出。
dll 电路时间差放大以及测距摄像装置

[发明专利]光电传感器以及光测距装置-CN202180056997.0在审
发明人：山本明人;笠原隆弘;有马谕;百鸟达裕 -专利权人：北阳电机株式会社
申请日： 2021-08-18 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：提供不使用多个跨阻放大器能在宽的动态范围内合适地检测光的廉价的光电传感器。具备：投光部，其输出测定光；受光部，其将测定光碰到物体而漫反射的反射光变换成电流信号；前置放大器，其将在受光部变换的电流信号变换成电压信号；第1信号处理系统，其具备将前置放大器的输出信号以第1放大率A1进行放大的第1放大器和将第1放大器的输出信号以第1阈值Vth1进行二值化的第1二值化电路；和第2信号处理系统，其具备将前置放大器的输出信号以第2放大率A2进行放大的第2放大器和将第2放大器的输出信号以第2阈值Vth2进行二值化的第2二值化电路，第1阈值和第2阈值、以及第1放大率和第2放大率设定成满足以下的关系式1＜(Vth2/Vth1)＜α＝(A2/A1)。
光电传感器以及测距装置