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[发明专利]光检测装置-CN202180073762.2在审
发明人：恩田一寿;三木早树人;清野光宏 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2021-10-19 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G02B26/08 文献下载
摘要：激光雷达装置(100)是具备发光单元(20)、扫描单元(30)、受光单元(40)以及光学单元(60)的光检测装置。在发光单元(20)中，在光源排列方向(ADs)相互隔开间隔地排列辐射光束(SB)的多个激光振荡元件(22)。扫描单元(30)扫描从发光单元(20)辐射的光束(SB)，并向测定区域进行投光。受光单元(40)接收来自测定区域的反射光束(RB)。光学单元(60)位于从发光单元(20)朝向扫描单元(30)的光束的光路上。光学单元(60)包含在光束(SB)的透射方向具有正光焦度的准直透镜(61)、和位于准直透镜(61)的后级，且在副扫描面(SS)上在透射方向上具有正光焦度的光束整形透镜(66)。
检测装置

[发明专利]光测距装置-CN202080014390.1有效
发明人：长井利明;三木早树人 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2020-02-03 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：本发明涉及光测距装置(100)，具备：发光光学系统(20)，其投射具有照射区域和非照射区域的图案光；受光传感器(40)，其具有阵列状的受光元件(41)；受光光学系统(30)，其从对象物接受图案光的反射光，将反射光中的与照射区域对应的部分放大成比一个受光元件大，并使放大后的光入射到受光传感器(40)；距离测定部(55)，其基于来自受光传感器的输出来测定到对象物为止的距离；以及位置调整部(33)，其用于基于来自受光传感器的输出，来进行发光光学系统和受光光学系统的至少一部分的位置调整。
测距装置

[发明专利]光学测距装置-CN202080044774.8在审
发明人：木村祯祐;长井利明;三木早树人;植野晶文 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2020-06-02 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：本发明涉及光学测距装置。使用光的光学测距装置(10)具备：发光部(20)，在第二方向上分离预先决定的距离地配置有第一发光元件(21a)和第二发光元件(21b)，上述第一发光元件(21a)和上述第二发光元件(21b)具有发光区域的第一方向的长度比与上述第一方向的交叉的上述第二方向长的发光区域；两个投光透镜(22a、22b)，与上述第一发光元件和上述第二发光元件分别对应地设置，并配置于在上述第二方向上隔开且在上述第一方向上重叠的位置；扫描仪(26)，使从上述发光部射出并通过两个上述投光透镜的发光光束朝向测定范围扫描；受光部(30)，接受从上述发光部射出的上述发光光束的反射光；以及测定部(40)，根据从上述发光部的发光到上述受光部的受光为止的时间来测定到对象物的距离。
光学测距装置

[发明专利]距离测量设备、识别设备和距离测量方法-CN201811572098.2在审
发明人： 三木早树人;长井利明 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2018-12-21 - 公布日： 2019-07-02 - 主分类号： G01S17/93 文献下载
摘要：在距离测量设备中，照射单元使用包括第一发光图案和第二发光图案的图案光来照射测量区域。第二发光图案具有比第一发光图案的强度低的相对低的强度。光接收传感器针对每个像素接收基于目标对象对图案光的反射的返回光分量。测量控制器确定由相应像素接收到的每个返回光分量的强度是否满足测量条件，并且在确定由光接收传感器的至少一个像素接收到的返回光分量的强度满足测量条件时，获得所述至少一个像素的至少一个距离值作为有效距离信息。
发光图案像素接收返回光光接收传感器距离测量设备测量条件图案光测量控制器距离测量目标对象识别设备有效距离照射单元像素反射照射测量