[发明专利]带差分电路的半导体集成电路无效
| 申请号: | 96117299.1 | 申请日: | 1996-10-25 |
| 公开(公告)号: | CN1064196C | 公开(公告)日: | 2001-04-04 |
| 发明(设计)人: | 小烟弘之 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
| 主分类号: | H03F3/45 | 分类号: | H03F3/45 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 萧掬昌,傅康 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 带差分 电路 半导体 集成电路 | ||
1.一种半导体器件,其特征在于,它包括:
一个衬底,具有第一阱和第二阱,彼此独立形成,两阱的导电率相同,都是预定的;
一个第一输入端;
一个第二输入端;
一个输出端;
一个差动放大器,与所述输出端连接,具有第一输入节点和第二输入节点,所述差动放大器的一个元件在所述第一阱中形成;
一个第一电容器,连接在所述第一输入端与所述第二输入节点之间,在所述第二阱中形成;和
一个第二电容器,连接在所述第二输入端与所述第二输入节点之间,在所述第二阱中形成。
2.如权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述第二阱的阻抗低于所述第一阱。
3.如权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述元件的负载元件在所述第一阱中形成。
4.如权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,它还有一个偏压电路与所述第一和第二节点连接,供分别给所述第一和第二节点提供预定的偏压。
5.如权利要求4所述的半导体器件,其特征在于,所述偏压电路的一个传输门在所述第一阱中形成。
6.如权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述预定电导率的低阻区与所述第二阱连接。
7.如权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,它还有一个低阻布线在多个部分与所述第二阱连接。
8.如权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,它还有一个电阻元件连接在所述第二阱与所述电源之间。
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