[其他]利用全息共轭像测量物体表面位移的方法无效

专利信息
申请号: 85103210 申请日: 1985-04-24
公开(公告)号: CN85103210A 公开(公告)日: 1986-07-02
发明(设计)人: 于乃旬 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 西安交通大学专利事务所 代理人: 于乃旬,严晖
地址: 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 利用 全息 共轭 测量 物体 表面 位移 方法
【权利要求书】:

1、一种测量物体表面位移的全息方法,对于一个发生位移的物体表面进行全息照相,获得测量用的全息图后,根据再现像上的条纹图样就能算出物体表面上各点的位移;本方法的特征是不仅利用原始像而且还利用共轭像中的信息以提高测量精度。

2、按照权利要求1.所说的全息方法,其特征是利用从观察点G对共轭像的观察而间接地得到从G的共轭观察点G观察原始像的结果,其中G(x、y、z)和G(x、y、z)的直角坐标之间的关系为

x=(2xRz-xzR)/(2z-zR)

y=(2yRz-yzR)/(2z-zR)

z=zRz/(2z-zR)

坐标原点在全息图平面内,z轴垂直于全息图平面且指向物体一侧,xR、yR、zR是制作全息图时使用的参考光光源的坐标,zR和zA(物体表面上任一点A的z向坐标)之间满足关系式

1/2 zA<zR< 3/2 zA

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