[发明专利]存储器

说明书

本申请提供一种存储器，包括压缩电路和数据输入输出选择器，压缩电路的输入端接收通过多个数据输入输出引脚的传输路径传输的读取数据，并对每个数据输入输出引脚的传输路径传输的读取数据分别进行压缩，获得多个压缩数据。数据输入输出选择器的第一输入端连接压缩电路的输出端，接收多个压缩数据，用于在测试模式下将多个压缩数据传输至目标数据输入输出引脚，其中，目标数据输入输出引脚为多个数据输入输出引脚中的任意一个。本申请的方案，在存储器的测试过程中，减少存储器的数据输入输出引脚的使用数量，增加同时测试的存储器的数量，提高测试效率。

技术领域

本申请涉及存储器技术领域，尤其涉及一种存储器。

背景技术

伴随各种存储器的广泛使用，比如动态随机存取存储器（Dynamic Random AccessMemory，简称DRAM）的使用非常广泛。实际应用中，为了保证产品的可靠性，需要对封装后的存储器进行测试。

因而，如何提高存储器的测试效率成为需要考虑的问题。

发明内容

本申请的实施例提供一种存储器，用以提高存储器的测试效率。

根据一些实施例，本申请提供一种存储器，包括：

压缩电路，其输入端接收通过多个数据输入输出引脚的传输路径传输的读取数据，用于对每个数据输入输出引脚的传输路径传输的读取数据分别进行压缩，获得多个压缩数据；

数据输入输出选择器，其第一输入端连接所述压缩电路的输出端，接收所述多个压缩数据，用于在测试模式下将所述多个压缩数据传输至目标数据输入输出引脚；

其中，所述目标数据输入输出引脚为所述多个数据输入输出引脚中的任意一个。

在一些实施例中，任意一个数据输入输出引脚的所有传输路径传输的读取数据相同时，若每个数据输入输出引脚对应的压缩数据均指示其对应的传输路径传输的读取数据中的每位数据均相同，所述多个压缩数据用于指示存储器正常，若部分数据输入输出引脚对应的压缩数据指示其对应的传输路径传输的读取数据中部分数据不同，所述多个压缩数据用于指示存储器存在故障。

在一些实施例中，所述压缩电路包括多个子压缩电路，每个子压缩电路的输入端接收一个数据输入输出引脚的传输路径传输的读取数据；

每个子压缩电路用于将其对应的数据输入输出引脚的传输路径传输的读取数据进行压缩，获得对应的压缩数据。

在一些实施例中，每个所述子压缩电路包括异或门和非门；

所述异或门的输入端作为对应的所述子压缩电路的输入端，接收一个数据输入输出引脚的传输路径传输的读取数据，所述异或门的输出端连接所述非门的输入端，所述非门的输出端作为对应的所述子压缩电路的输出端。

在一些实施例中，所述数据输入输出选择器的第二输入端接收通过所述目标数据输入输出引脚的传输路径传输的读取数据，用于在工作模式下将通过所述目标数据输入输出引脚的传输路径传输的读取数据传输至所述目标数据输入输出引脚。

在一些实施例中，所述数据输入输出选择器包括多个第一选择器，每个第一选择器对应所述目标数据输入输出引脚的一个传输路径；

每个所述第一选择器的第一输入端接收一个数据输入输出引脚对应的压缩数据，每个所述第一选择器的第二输入端接收通过所述目标数据输入输出引脚的传输路径传输的读取数据中的一位数据；

每个所述第一选择器用于在测试模式下将其对应的数据输入输出引脚的压缩数据传输至所述目标数据输入输出引脚，在工作模式下将通过所述目标数据输入输出引脚的传输路径传输的读取数据中的一位数据传输至所述目标数据输入输出引脚。

在一些实施例中，所述存储器包括：