[发明专利]一种工业控制电容触摸LCD显示总成缺陷检测方法在审
申请号: | 202310063837.X | 申请日: | 2023-02-06 |
公开(公告)号: | CN115797342A | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 杨美波 | 申请(专利权)人: | 深圳市鑫旭飞科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T5/00 |
代理公司: | 郑州知倍通知识产权代理事务所(普通合伙) 41191 | 代理人: | 邱珍珍 |
地址: | 518109 广东省深圳市龙华*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 工业 控制 电容 触摸 lcd 显示 总成 缺陷 检测 方法 | ||
1.一种工业控制电容触摸LCD显示总成缺陷检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
获取LCD显示屏的屏幕图像;
在所述屏幕图像上滑动滑窗,根据滑窗窗口内像素点的灰度值获取待选区域;选取待选区域内任意像素点作为目标像素点,根据与目标像素点梯度值相同的像素点的密集程度得到目标像素点的周围渐变系数;基于所述周围渐变系数对所有待选区域内的像素点进行分类,分为密集像素点和分散像素点;
基于待选区域内的最大灰度值和最小灰度值,分别对待选区域内像素点进行灰度增强,得到增强后的增强屏幕图像;对于任意待选区域,根据增强屏幕图像的灰度均值和中心像素点的灰度值的差值、待选区域内与中心像素点灰度值相同的像素点的占比、中心像素点和待选区域内其他像素点之间的距离得到模糊渐变度;
模糊渐变度小于预设分割阈值的密集像素点为缺陷像素点;模糊渐变度大于预设分割阈值的分散像素点为缺陷像素点;由缺陷像素点构成缺陷区域;
其中,根据增强屏幕图像的灰度均值和中心像素点的灰度值的差值、待选区域内与中心像素点灰度值相同的像素点的占比、中心像素点和待选区域内其他像素点之间的距离得到模糊渐变度的方法为:
将所述待选区域划分为八个范围,分别计算每个范围内的范围模糊渐变度;八个范围的范围模糊渐变度之和作为待选区域的模糊渐变度;
对于任意范围,获取范围内与待选区域的中心像素点的灰度值相同的像素点作为待选像素点;计算中心像素点与各待选像素点的欧式距离,构成距离序列,所述距离序列的方差作为范围对应的距离方差;
所述范围模糊渐变度的计算公式为:
其中,为第i-1范围的范围模糊渐变度;为待选区域的中心像素点o的灰度值;为第i-1范围对应的距离方差;为增强屏幕图像的灰度均值;为灰度值为的像素点在第i-1范围内的占比。
2.根据权利要求1所述的一种工业控制电容触摸LCD显示总成缺陷检测方法,其特征在于,所述根据与目标像素点梯度值相同的像素点的密集程度得到目标像素点的周围渐变系数,包括:
选取待选区域内与目标像素点梯度值相同的任意像素点作为初始像素点;以目标像素点与初始像素点的欧式距离作为局部区域的边长,计算局部区域内与目标像素点梯度值相同的像素点的占比,作为密集程度;
对于待选区域内与目标像素点梯度值相同的各像素点对应的欧氏距离,按照从大到小的顺序进行排序得到欧式距离序列;计算欧式距离序列中前一个元素对应的密集程度和相邻的后一个元素对应的密集程度的比值,所有比值之和作为周围渐变系数。
3.根据权利要求1所述的一种工业控制电容触摸LCD显示总成缺陷检测方法,其特征在于,所述基于待选区域内的最大灰度值和最小灰度值,分别对待选区域内像素点进行灰度增强,得到增强后的增强屏幕图像,包括:
计算像素点所属待选区域内的最大灰度值和像素点的灰度值的差值,作为最大差值;计算像素点的灰度值和所属待选区域内的最小灰度值的差值,作为最小差值;计算所属待选区域内最大灰度值和最小灰度值的最大极差的平方,作为极差平方;
计算密度像素点对应的最大差值和对应的极差平方的比值,作为第一比值;以自然常数为底数,以第一比值为指数的指数函数值作为密集像素点的增强因子;
计算分散像素点对应的最小差值和对应的极差平方的比值,作为第二比值;以自然常数为底数,以第二比值为指数的指数函数值作为分散像素点的增强因子;
基于增强因子对待选区域内像素点的像素值进行灰度增强,得到增强后的增强像素值;将屏幕图像中待选区域内像素点的像素值更新为对应的增强像素值,得到增强后的增强屏幕图像。
4.根据权利要求3所述的一种工业控制电容触摸LCD显示总成缺陷检测方法,其特征在于,所述基于增强因子对待选区域内像素点的像素值进行灰度增强,得到增强后的增强像素值,包括:
将待选区域内像素点的灰度值与对应的增强因子的乘积作为增强后的增强灰度值。
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