[实用新型]一种半导体生产用检测设备有效

专利信息
申请号: 202220035004.3 申请日: 2022-01-08
公开(公告)号: CN217639163U 公开(公告)日: 2022-10-21
发明(设计)人: 田兆恩 申请(专利权)人: 上海卡玖科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/26
代理公司: 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297 代理人: 王琦玲
地址: 201108 上海市闵行*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 生产 检测 设备
【说明书】:

实用新型公开了一种半导体生产用检测设备,包括箱体,所述箱体的右侧固定安装有电机,所述电机的输出端固定连接有正反螺杆,所述正反螺杆的表面两端均螺纹连接有螺纹套。本实用新型通过PLC控制器启动电机进行工作,通过电机带动正反螺杆进行工作,通过正反螺杆带动螺纹套进行工作,通过螺纹套带动定位块进行移动,通过定位块在定位槽的内腔移动,使其活动板发生偏移,在活动板发生偏移时带动卡槽推动限位块进行移动,通过限位块带动夹块进行移动,解决了现有的半导体在生产的过程中需要使用检测设备进行操作,目前的检测设备不方便对半导体进行夹持,导致检测工作的过程中会发生晃动影响正常检测工作的问题。

技术领域

本实用新型涉及半导体生产技术领域,具体为一种半导体生产用检测设备。

背景技术

半导体是一种电导率在绝缘体至导体之间的物质,其电导率容易受控制,可作为信息处理的元件材料,从科技或是经济发展的角度来看,半导体非常重要,现有的半导体在生产的过程中需要使用检测设备进行操作,目前的检测设备不方便对半导体进行夹持,导致检测工作的过程中会发生晃动影响正常的检测工作,为此,我们提出一种半导体生产用检测设备。

实用新型内容

针对现有技术的不足,本实用新型提供一种半导体生产用检测设备,具备方便使用的优点,解决了现有的半导体在生产的过程中需要使用检测设备进行操作,目前的检测设备不方便对半导体进行夹持,导致检测工作的过程中会发生晃动影响正常检测工作的问题。

本实用新型的一种半导体生产用检测设备,包括箱体,所述箱体的右侧固定安装有电机,所述电机的输出端固定连接有正反螺杆,所述正反螺杆的表面两端均螺纹连接有螺纹套,所述箱体的内腔底部两端均活动连接有活动板,所述螺纹套的表面固定连接有定位块,所述定位块的表面活动连接于活动板的内腔中,所述箱体的顶部活动连接有夹块,所述夹块的表面固定连接有限位块,所述限位块的表面活动连接于活动板的内腔顶部,所述箱体的顶部固定连接有立柱,所述箱体的底部中端固定连接有电池盒。

本实用新型的一种半导体生产用检测设备,其中所述立柱的内侧固定连接有限位弹簧,所述限位弹簧的另一端固定连接于夹块的表面,通过限位弹簧的设置,可对夹块的表面进行限位,避免工作的过程中发生抖动的现象。

本实用新型的一种半导体生产用检测设备,其中所述电池盒的内腔固定连接有蓄电池,所述电池盒的表面固定连接有充电插口,所述充电插口的输出端电性连接于蓄电池的输入端,通过蓄电池的设置,可对本装置的电器组件进行供电,避免工作的过程中发生断电的现象。

本实用新型的一种半导体生产用检测设备,其中所述箱体的底部四周均固定连接有支撑腿,所述箱体的表面固定连接有PLC控制器,通过支撑腿的设置,可对箱体的底部进行支撑,避免工作的过程中发生晃动的现象。

本实用新型的一种半导体生产用检测设备,其中所述箱体的内腔左侧固定连接有壳体,所述壳体的内腔两端均活动连接有滚珠,所述滚珠的表面和正反螺杆的表面呈活动连接,通过滚珠的设置,可减少正反螺杆的磨损,避免工作的过程中发生断裂的现象。

本实用新型的一种半导体生产用检测设备,其中所述活动板的内腔开设有定位槽和卡槽,所述定位块的表面活动连接于定位槽的内腔中,所述限位块的表面活动连接于卡槽的内腔中,通过卡槽的设置,可对限位块的表面进行限位,避免工作的过程中夹块发生抖动,通过定位槽的设置,可对定位块的表面进行限位,避免工作的过程中螺纹套发生自转的现象。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:

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