[发明专利]一种芯片的追踪方法和装置

说明书

本申请提供了一种芯片的追踪方法和装置。本申请在测试流程中，对目标芯片进行分类测试后，利用测试时间点，使每个被测试的目标芯片的芯片信息在第一测试信息集中自然排序，既减少了系统排序的负担，也使芯片信息有规律可查。利用预设料盘排列规则和第一测试信息集中芯片信息的排序顺序对目标芯片进行位置管理。如果被测试的目标芯片本次测试的芯片，则依据第一测试信息集中排序规则下的芯片信息结合预设料盘排列规则，便可映射至托盘中目标芯片所在的具体位置，从而实现目标芯片的追踪。

技术领域

本申请涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及一种芯片的追踪方法和装置。

背景技术

在芯片测试环节里，高可靠芯片往往会经历多道测试流程，且每道流程都会需要将芯片从一个料盘转移转移到另一个料盘。同时，需要人工记录测试时间、芯片编号和测试结果。由于现代芯片的集成度越来越高，且体积越来越小，标记在芯片上的芯片编号极难被辨别。在转移和人工记录时，极易造成转移错误和/或记录错误，且难以及时发现。

因此，本申请提供了一种芯片的追踪方法，以解决上述技术问题之一。

发明内容

本申请的目的在于提供一种芯片的追踪方法和装置，能够解决上述提到的至少一个技术问题。具体方案如下：

根据本申请的具体实施方式，第一方面，本申请提供一种芯片的追踪方法，包括：

在第一测试流程中，对第一目标芯片进行分类测试，获取所述第一目标芯片的第一测试时间点、第一芯片编号和第一芯片类型；

获取所述第一目标芯片的第一芯片类型所对应的第一料盘的第一料盘编号，并将所述第一目标芯片放至第一料盘中第一位置，其中，所述第一位置为所述第一料盘中顺序排列的第一个空闲位置；

将所述第一测试时间点、所述第一芯片编号、所述第一芯片类型和所述第一料盘编号作为所述第一目标芯片的芯片信息保存至第一测试信息集中，其中，所述第一测试信息集用于保存所述第一测试流程中测试后的目标芯片的芯片信息，且对其中保存的各个目标芯片的测试时间点进行排序；

当所述第一测试流程结束后，将所述第一目标芯片的第一芯片编号分别与预设编号信息集中各个芯片编号进行一致性比对；

当所述第一目标芯片的第一芯片编号与预设编号信息集中各个芯片编号均不一致时，将所述第一目标芯片的第一芯片编号应用于所述第一测试信息集，获得所述第一目标芯片在所述第一料盘中的位置。

可选的，所述获取所述第一目标芯片的第一芯片类型所对应的第一料盘的第一料盘编号，包括：

将所述第一目标芯片的第一芯片类型应用于所述第一测试信息集，获取与所述第一芯片类型相关联的各个料盘编号；

将所述各个料盘编号应用于所述第一测试信息集来进行数量统计，获得与所述第一芯片类型相关联的每个料盘编号所属料盘中的芯片放置数量；

当与所述第一芯片类型相关联的任一料盘编号所属料盘中的芯片放置数量小于预设芯片放置数量阈值时，确定所述任一料盘编号为所述第一料盘的第一料盘编号。

可选的，所述方法，还包括：

当与所述第一芯片类型相关联的各个料盘编号所属料盘中的芯片放置数量均等于预设芯片放置数量阈值时，通过扫描仪读取空的第一料盘的第一料盘编号。

可选的，所述将所述第一目标芯片的第一芯片编号应用于所述第一测试信息集，获得所述第一目标芯片在所述第一料盘中的位置，包括：

基于所述第一目标芯片的第一芯片编号从所述第一测试信息集中获取所述第一目标芯片的第一测试时间点、所述第一目标芯片的第一芯片类型和所述第一目标芯片的第一料盘编号；