[发明专利]一种芯片的追踪方法和装置

权利要求书

1.一种芯片的追踪方法，其特征在于，包括：

在第一测试流程中，对第一目标芯片进行分类测试，获取所述第一目标芯片的第一测试时间点、第一芯片编号和第一芯片类型；

获取所述第一目标芯片的第一芯片类型所对应的第一料盘的第一料盘编号，并将所述第一目标芯片放至第一料盘中第一位置，其中，所述第一位置为所述第一料盘中顺序排列的第一个空闲位置；

将所述第一测试时间点、所述第一芯片编号、所述第一芯片类型和所述第一料盘编号作为所述第一目标芯片的芯片信息保存至第一测试信息集中，其中，所述第一测试信息集用于保存所述第一测试流程中测试后的目标芯片的芯片信息，且对其中保存的各个目标芯片的测试时间点进行排序；

当所述第一测试流程结束后，将所述第一目标芯片的第一芯片编号分别与预设编号信息集中各个芯片编号进行一致性比对；

当所述第一目标芯片的第一芯片编号与预设编号信息集中各个芯片编号均不一致时，将所述第一目标芯片的第一芯片编号应用于所述第一测试信息集，获得所述第一目标芯片在所述第一料盘中的位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述第一目标芯片的第一芯片类型所对应的第一料盘的第一料盘编号，包括：

将所述第一目标芯片的第一芯片类型应用于所述第一测试信息集，获取与所述第一芯片类型相关联的各个料盘编号；

将所述各个料盘编号应用于所述第一测试信息集来进行数量统计，获得与所述第一芯片类型相关联的每个料盘编号所属料盘中的芯片放置数量；

当与所述第一芯片类型相关联的任一料盘编号所属料盘中的芯片放置数量小于预设芯片放置数量阈值时，确定所述任一料盘编号为所述第一料盘的第一料盘编号。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法，还包括：

当与所述第一芯片类型相关联的各个料盘编号所属料盘中的芯片放置数量均等于预设芯片放置数量阈值时，通过扫描仪读取空的第一料盘的第一料盘编号。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述第一目标芯片的第一芯片编号应用于所述第一测试信息集，获得所述第一目标芯片在所述第一料盘中的位置，包括：

基于所述第一目标芯片的第一芯片编号从所述第一测试信息集中获取所述第一目标芯片的第一测试时间点、所述第一目标芯片的第一芯片类型和所述第一目标芯片的第一料盘编号；

将所述第一目标芯片的第一测试时间点、所述第一目标芯片的第一芯片类型和所述第一目标芯片的第一料盘编号应用于所述第一测试信息集中，获取所述第一目标芯片的第一料盘编号在所有第一料盘编号中所处的排列位置；

将所述第一目标芯片的第一料盘编号和所述第一目标芯片的排列位置应用于预设料盘排列规则获得所述第一目标芯片在所述第一料盘中的位置。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当获得所述第一目标芯片在所述第一料盘中的位置后，从第一测试信息集中删除与所述第一芯片编号相关联的芯片信息。

6.一种芯片的追踪装置，其特征在于，包括：

第一获取单元，用于在第一测试流程中，对第一目标芯片进行分类测试，获取所述第一目标芯片的第一测试时间点、第一芯片编号和第一芯片类型；

第二获取单元，用于获取所述第一目标芯片的第一芯片类型所对应的第一料盘的第一料盘编号，并将所述第一目标芯片放至第一料盘中第一位置，其中，所述第一位置为所述第一料盘中顺序排列的第一个空闲位置；

保存单元，用于将所述第一测试时间点、所述第一芯片编号、所述第一芯片类型和所述第一料盘编号作为所述第一目标芯片的芯片信息保存至第一测试信息集中，其中，所述第一测试信息集用于保存所述第一测试流程中测试后的目标芯片的芯片信息，且对其中保存的各个目标芯片的测试时间点进行排序；

比对单元，用于当所述第一测试流程结束后，将所述第一目标芯片的第一芯片编号分别与预设编号信息集中预设编号信息集中各个芯片编号进行一致性比对；

追踪单元，用于当所述第一目标芯片的第一芯片编号与各个芯片编号均不一致时，将所述第一目标芯片的第一芯片编号应用于所述第一测试信息集，获得所述第一目标芯片在所述第一料盘中的位置。