[发明专利]离水辐射光谱计算方法、装置、终端及存储介质在审
| 申请号: | 202211302660.6 | 申请日: | 2022-10-24 |
| 公开(公告)号: | CN115511954A | 公开(公告)日: | 2022-12-23 |
| 发明(设计)人: | 孙泽宇;于彩虹;崔厚欣;花剑;邓家春;尚永昌 | 申请(专利权)人: | 河北先河环保科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/70 | 分类号: | G06T7/70;G06F17/18 |
| 代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 刘少卿 |
| 地址: | 050035 河北*** | 国省代码: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 辐射 光谱 计算方法 装置 终端 存储 介质 | ||
1.一种离水辐射光谱计算方法,其特征在于,包括:
根据高光谱相机的倾角和视场角,计算所述高光谱相机倾斜拍摄的水体高光谱图像中每个像素点接收的天空光的角度,记为该像素点对应的天光反射角;
基于水面反射定律和天空光的分布规律,根据每个像素点对应的天光反射角,计算所述水体高光谱图像中每个像素点接收的天空光的相对辐射量;
基于所述水体高光谱图像中第一预设位置和第二预设位置接收的光谱,以及所述第一预设位置和所述第二预设位置接收的天空光的相对辐射量,计算所述水体高光谱图像中每个像素点接收的天空光光谱;其中,所述第一预设位置和所述第二预设位置的离水辐射光谱的差值在预设差值范围内;
基于所述水体高光谱图像中每个像素点接收的光谱和天空光光谱,计算所述水体高光谱图像中每个像素点的离水辐射光谱。
2.根据权利要求1所述的离水辐射光谱计算方法,其特征在于,所述根据高光谱相机的倾角和视场角,计算所述高光谱相机倾斜拍摄的水体高光谱图像中每个像素点接收的天空光的角度,记为该像素点对应的天光反射角,包括:
根据计算所述高光谱相机倾斜拍摄的水体高光谱图像中每个像素点接收的天空光的角度,记为该像素点对应的天光反射角;
其中,θm为所述水体高光谱图像中视场方向第m行的每个像素点对应的天光反射角,θ为所述高光谱相机的倾角,为所述高光谱相机的视场角,M为所述水体高光谱图像中视场方向的总行数。
3.根据权利要求1所述的离水辐射光谱计算方法,其特征在于,所述基于水面反射定律和天空光的分布规律,根据每个像素点对应的天光反射角,计算所述水体高光谱图像中每个像素点接收的天空光的相对辐射量,包括:
基于水面反射定律,根据每个像素点对应的天光反射角,确定每个像素点对应的天光入射角和天光折射角;
根据每个像素点对应的天光入射角和天光折射角,确定每个像素点接收的天空光垂直于入射面振动的第一分量和平行于入射面振动的第二分量;
根据所述第一分量和所述第二分量,计算每个像素点接收的天空光的光强的总反射率;
基于不同太阳天顶角和天顶角的天空光的光强的分布规律,根据与每个像素点对应的天光反射角相同的天顶角的天空光的光强以及相应像素点接收的天空光的光强的总反射率,计算每个像素点接收的天空光的相对辐射量。
4.根据权利要求3所述的离水辐射光谱计算方法,其特征在于,所述基于水面反射定律,根据每个像素点对应的天光反射角,确定每个像素点对应的天光入射角和天光折射角,包括:
基于水面反射定律,根据每个像素点对应的天光反射角,确定每个像素点对应的天光入射角;
基于水面折射定律,根据每个像素点对应的天光入射角,确定每个像素点对应的天光折射角。
5.根据权利要求3所述的离水辐射光谱计算方法,其特征在于,所述根据每个像素点对应的天光入射角和天光折射角,确定每个像素点接收的天空光垂直于入射面振动的第一分量和平行于入射面振动的第二分量,包括:
根据确定每个像素点接收的天空光垂直于入射面振动的第一分量和平行于入射面振动的第二分量;
其中,Rs为每个像素点接收的天空光垂直于入射面振动的第一分量,Rp为每个像素点接收的天空光平行于入射面振动的第二分量,θt为每个像素点对应的天光折射角,θi为每个像素点对应的天光入射角。
6.根据权利要求3所述的离水辐射光谱计算方法,其特征在于,所述根据所述第一分量和所述第二分量,计算每个像素点接收的天空光的光强的总反射率,包括:
根据计算每个像素点接收的天空光的光强的总反射率;
其中,R为每个像素点接收的天空光的光强的总反射率,Rs为每个像素点接收的天空光垂直于入射面振动的第一分量,Rp为每个像素点接收的天空光平行于入射面振动的第二分量。
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