[发明专利]工件缺陷检测方法和装置

权利要求书

1.一种工件缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取第一数据集，其中，所述第一数据集为已有的标注缺陷图像；

根据所述第一数据集构建基础目标检测模型；

获取第二数据集，其中，所述第二数据集为待测工件的未标注缺陷图像；

根据所述第一数据集、所述第二数据集和所述基础目标检测模型得到目标损失函数；

根据所述第一数据集、所述第二数据集、所述基础目标检测模型和所述目标损失函数构建最终目标检测模型；

根据所述最终目标检测模型对所述待测工件进行缺陷检测，

所述根据所述第一数据集、所述第二数据集和所述基础目标检测模型得到目标损失函数，具体包括以下步骤：获取所述基础目标检测模型的特征层的维度和特征矩阵；获取所述第一数据集的第一输入图像像素数和所述第二数据集的第二输入图像像素数；根据所述第一输入图像像素数、所述基础目标检测模型的特征层的特征矩阵构建所述第一数据集的第一特征协方差矩阵；根据所述第二输入图像像素数、所述基础目标检测模型的特征层的特征矩阵构建所述第二数据集的第二特征协方差矩阵；根据所述第一特征协方差矩阵、所述第二特征协方差矩阵和所述基础目标检测模型的特征层的维度构建目标损失函数，

其中，所述第一特征协方差矩阵的具体表达式为：

其中，C_S表示所述第一特征协方差矩阵，公式下标S表示所述第一数据集，上标T表示转置矩阵，表示所述第一数据集的第一输入图像像素数，表示所述第一数据集在所述基础目标检测模型的特征层对应的特征矩阵，1代表所有值都为1的列向量，

所述第二特征协方差矩阵的具体表达式为：

其中，C_T表示所述第二特征协方差矩阵，公式下标T表示所述第二数据集，上标T表示转置矩阵，表示所述第二数据集的第二输入图像像素数，表示所述第二数据集在所述基础目标检测模型的特征层对应的特征矩阵，1代表所有值都为1的列向量，

所述目标损失函数的表达式为：

其中，表示所述目标损失函数，d表示所述基础目标检测模型的特征层的维度，表示矩阵范数的平方。

2.根据权利要求1所述的工件缺陷检测方法，其特征在于，所述基础目标检测模型为YOLO模型。

3.根据权利要求2所述的工件缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述第一数据集、所述第二数据集、所述基础目标检测模型和所述目标损失函数构建最终目标检测模型，具体包括以下步骤：

将所述目标损失函数设置于所述基础目标检测模型的特征层中，以构建二次目标检测模型；

将所述第一数据集和所述第二数据集输入至所述二次目标检测模型中，以训练得到所述最终目标检测模型。