[发明专利]电子元器件检测方法、装置、电子设备及自动质检设备

说明书

本发明提供电子元器件检测方法、装置、电子设备及自动质检设备，其中方法包括：获取待检测对象的原始图像，并从原始图像中提取目标电子元器件的粗略定位图像；基于预先确定的目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对粗略定位图像进行遮罩，得到保留目标电子元器件安装区域的遮罩图像；对遮罩图像进行形态学处理，得到处理后的遮罩图像；确定处理后的遮罩图像中的各轮廓的面积，并基于符合阈值要求的轮廓，确定待检测对象中目标电子元器件的精确位置的边界；基于精确位置的边界，在粗略定位图像中截取出目标电子元器件的图像。通过上述方式，本发明无需依赖预设图像模板，可以摆脱对主板放置位置和方向的严格控制，提高检测效率，降低检测成本。

技术领域

本发明涉及计算机视觉技术领域，尤其涉及电子元器件检测方法、装置、电子设备及自动质检设备。

背景技术

在PCB主板生产流程中，对主板的质量检测现在主要依靠PCB光学检测配合人工质检，传统人工目检质检员需要时刻保持注意力高度集中，从而发现缺陷元器件，对体力、脑力和专注力都有极高要求，且仍存在失误率较高、质检效率低、覆盖面小且质检标准不一等弊端。

电子元器件在主板上数量较多且零件体积小、方向不明显，因此人工质检难度大。传统人工质检配合PCB光学检测可以准确的进行质检，但其弊端同样明显，首先是需要高精度的预设图像作为模板，这就对主板的放置位置和方向有了严格的限制。其次是检测效率一般，成本较高。第三是对单一元器件质检的定制化较差。

发明内容

本发明提供电子元器件检测方法、装置、电子设备及自动质检设备，用以解决现有技术中电子元器件检测依赖人工和预设图像模板的缺陷。

本发明提供一种电子元器件检测方法，包括：获取待检测对象的原始图像，并从原始图像中提取目标电子元器件的粗略定位图像；基于预先确定的目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对粗略定位图像进行遮罩，得到保留目标电子元器件安装区域的遮罩图像；对遮罩图像进行形态学处理，得到处理后的遮罩图像；确定处理后的遮罩图像中的各轮廓的面积，并基于符合阈值要求的轮廓，确定待检测对象中目标电子元器件的精确位置的边界；基于精确位置的边界，在粗略定位图像中截取出目标电子元器件的图像。

根据本发明提供的一种电子元器件检测方法，从原始图像中提取目标电子元器件的粗略定位图像，具体包括：将原始图像输入YOLOv7目标检测模型，获得目标电子元器件的粗略定位图像；其中，YOLOv7目标检测模型是通过对目标电子元器件的数据集进行模型训练而获得的。

根据本发明提供的一种电子元器件检测方法，基于预先确定的目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对粗略定位图像进行遮罩，得到保留目标电子元器件安装区域的遮罩图像，具体包括：基于目标电子元器件在目标颜色空间内的目标颜色信息确定的目标掩膜；确定粗略定位图像在目标颜色空间下的指定图像；基于目标掩膜，对指定图像中的目标电子元器件安装区域进行遮罩，得到遮罩图像。

根据本发明提供的一种电子元器件检测方法，基于目标电子元器件在目标颜色空间内的目标颜色信息确定的目标掩膜，具体包括：基于目标颜色信息的取值范围，确定目标电子元器件的掩膜保留范围；基于掩膜保留范围，确定目标掩膜。

根据本发明提供的一种电子元器件检测方法，目标颜色空间包括：RGB颜色空间、灰度空间以及HSV颜色空间中的一种。

根据本发明提供的一种电子元器件检测方法，基于精确位置的边界，在粗略定位图像中截取出目标电子元器件的图像之后，还包括：将目标电子元器件的图像进行灰度化和二值化处理，判断像素值分布，得到目标电子元器件的安装情况。