[发明专利]电子元器件检测方法、装置、电子设备及自动质检设备

权利要求书

1.一种电子元器件检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测对象的原始图像，并从所述原始图像中提取目标电子元器件的粗略定位图像；

基于预先确定的所述目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对所述粗略定位图像进行遮罩，得到保留所述目标电子元器件安装区域的遮罩图像；

对所述遮罩图像进行形态学处理，得到处理后的遮罩图像；

确定所述处理后的遮罩图像中的各轮廓的面积，并基于符合阈值要求的轮廓，确定所述待检测对象中所述目标电子元器件的精确位置的边界；

基于所述精确位置的边界，在所述粗略定位图像中截取出目标电子元器件的图像。

2.根据权利要求1所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述从所述原始图像中提取目标电子元器件的粗略定位图像，具体包括：

将所述原始图像输入YOLOv7目标检测模型，获得所述目标电子元器件的粗略定位图像；

其中，所述YOLOv7目标检测模型是通过对所述目标电子元器件的数据集进行模型训练而获得的。

3.根据权利要求1所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述基于预先确定的所述目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对所述粗略定位图像进行遮罩，得到保留所述目标电子元器件安装区域的遮罩图像，具体包括：

基于所述目标电子元器件在目标颜色空间内的目标颜色信息确定的目标掩膜；

确定所述粗略定位图像在所述目标颜色空间下的指定图像；

基于所述目标掩膜，对所述指定图像中的目标电子元器件安装区域进行遮罩，得到所述遮罩图像。

4.根据权利要求3所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述基于所述目标电子元器件在目标颜色空间内的目标颜色信息确定的目标掩膜，具体包括：

基于所述目标颜色信息的取值范围，确定所述目标电子元器件的掩膜保留范围；

基于所述掩膜保留范围，确定所述目标掩膜。

5.根据权利要求4所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述目标颜色空间包括：RGB颜色空间、灰度空间以及HSV颜色空间中的一种。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述基于所述精确位置的边界，在所述粗略定位图像中截取出目标电子元器件的图像之后，还包括：

将所述目标电子元器件的图像进行灰度化和二值化处理，判断像素值分布，得到所述目标电子元器件的安装情况。

7.一种电子元器件检测装置，其特征在于，包括：

粗略定位图像模块，用于获取待检测对象的原始图像，并从所述原始图像中提取目标电子元器件的粗略定位图像；

遮罩图像模块，用于基于预先确定的所述目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对所述粗略定位图像进行遮罩，得到保留所述目标电子元器件安装区域的遮罩图像；

形态学处理模块，用于对所述遮罩图像进行形态学处理，得到处理后的遮罩图像；

精准位置模块，用于确定所述处理后的遮罩图像中的各轮廓的面积，并基于符合阈值要求的轮廓，确定所述待检测对象中所述目标电子元器件的精确位置的边界；

目标电子元器件模块，用于基于所述精确位置的边界，在所述粗略定位图像中截取出目标电子元器件的图像。

8.一种自动质检设备，其特征在于，包括图像采集装置以及如权利要求7所述的电子元器件检测装置，所述图像采集装置与所述电子元器件检测装置连接；

所述图像采集装置用于采集待检测对象的原始图像，并将所述原始图像发送至所述电子元器件检测装置；

所述电子元器件检测装置用于获取所述原始图像，并基于所述原始图像，确定所述待检测对象中所述目标电子元器件的安装位置。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至6任一项所述电子元器件检测方法。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述电子元器件检测方法。