[发明专利]一种以缺陷为模板修饰单层二硒化钼的方法在审

专利信息
申请号: 202211179759.1 申请日: 2022-09-28
公开(公告)号: CN116288682A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 刘红军;陈浒;张伟力;景芳丽;胡章贵;吴以成 申请(专利权)人: 天津理工大学
主分类号: C30B23/06 分类号: C30B23/06;C30B29/46
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300384 *** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 缺陷 模板 修饰 单层 二硒化钼 方法
【说明书】:

发明涉及一种以线缺陷为模板通过Pt纳米团簇选择性图案化修饰二硒化钼的方法,将高定向热解石墨衬底进行除杂,将石墨衬底放入超高真空的分子束外延系统中,将衬底保持合适生长二硒化钼的温度,使用电子束蒸发源和克努森扩散炉分别将Mo和Se沉积到衬底上,控制好沉积束流比与沉积时间,进行二硒化钼单层生长。生长后保温除去未反应的原料并提高结晶质量。将样品冷却至室温附近后,使用电子束蒸发源对Pt进行沉积,控制好沉积时间。本方法成功制备了高线缺陷密度的二硒化钼单层晶体并通过电子束蒸发沉积Pt的方式实现了以二硒化钼本征线缺陷为模板的Pt纳米团簇选择性图案化修饰。

技术领域

本发明属于二维材料制备领域,具体而言涉及使用分子束外延(MBE)技术制备单层二硒化钼以及借助二硒化钼特有本征线缺陷进行模板化的纳米颗粒沉积修饰方法。

背景技术

二维过渡金属硫族化合物(transition metal dichalcogenides,TMDCs)是一种近年来被广泛关注的类石墨烯二维层状材料,其具有块体材料所不具备的各种特殊性能,与石墨烯相类似的层状六角蜂窝状结构以及石墨烯所不具备的本征带隙使得其在光电器件,超级电容器等方面有着更广阔的应用前景。本发明中经所关注的分子束外延(MBE)法可以实现二硒化钼的精确可控制备。且得到的二硒化钼具有独特的、有规律的、高密度线缺陷(mirror twin boundaries,MTBs),这种线缺陷具有较为良好的金属性,并在材料中引入了相对复杂的缺陷态,同时还具备典型的电荷密度波(CDW)特性,大大扩展了二硒化钼在催化等领域的应用可能。

飞速发展的现代技术与应用需要优异性能的高质量材料,在没经过人为修饰的单一材料中很难得到。所以对本身性能突出的材料进行功能化改性是目前研究的一个方向。具有高密度线缺陷的二硒化钼,由于该缺陷具备的一系列特殊性质以及一定的排列规律性,若是针对这种规律性缺陷进行修饰可能会引入一些新奇的物理性质。

根据二硒化钼在催化方面的应用前景,我们把目光放在了目前催化性能很好的贵金属铂(Pt)上面,尝试以Pt为例研究二硒化钼的线缺陷的修饰方法。本发明提出了一种以材料本征线缺陷为模板通过Pt单原子或纳米团簇进行选择性图案化修饰二硒化钼的一种思路。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种二硒化钼的表面功能化方法,以达到对二硒化钼进行一种以缺陷为模板的Pt单原子或纳米团簇进行选择性图案化修饰。

为了解决以上技术问题,本发明使用的技术方案是:一种以线缺陷为模板通过Pt纳米团簇选择性图案化修饰二硒化钼的方法。

步骤一,衬底的准备:将高定向热解石墨(HOPG)表面进行处理,获得干净平整的石墨表面。

步骤二,蒸发源与原料的准备:分别选用不同的对应蒸发源对高纯度的Se颗粒、Mo棒、Pt棒进行蒸发。

步骤三,采用分子束外延系统制备具有高密度线缺陷的单层二硒化钼:采用机械泵,分子泵,离子泵多级真空系统构造分子束外延所需要的高真空环境;将HOPG衬底安装到样品架上并送入分子束外延的超高真空系统中,HOPG衬底通过直流加热钨丝产生的热辐射加热到合适的反应温度;调整衬底位置,将其置于多个蒸发源产生的分子束流中心位置,在水冷循环系统的控温下,分别将Se源与Mo源加热到适宜温度,并提前打开Se源挡板,构建适宜样品生长的富Se环境,当富Se环境构建完成后,打开Mo源挡板阀开始生长单层二硒化钼。在生长结束后,关闭Se、Mo蒸发源挡板,并将衬底温度控制在生长温度或生长温度以上进行保温退火,以除去表面残留的原料并提高样品的结晶质量。

步骤四,二硒化钼生长完成后,将样品控制到适合Pt沉积的温度,在水冷循环系统的温度控制下将蒸发源中的高纯Pt棒加热到适宜温度,调整样品位置使其正对Pt分子束流中心,控制好挡板阀开启时间,进行Pt颗粒的沉积。

进一步地,步骤一中,使用专用胶带将HOPG表面机械剥离出镜面原子级平整的表面。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津理工大学,未经天津理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211179759.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top