[发明专利]氮化镓装置场板系统在审

专利信息
申请号: 202211127680.4 申请日: 2022-09-16
公开(公告)号: CN115911043A 公开(公告)日: 2023-04-04
发明(设计)人: 李东燮;J·乔;C·S·徐 申请(专利权)人: 德州仪器公司
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L29/40;H01L29/20
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 林斯凯
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 氮化 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种具有氮化镓(GaN)晶体管装置的集成电路IC,其包括:

GaN有源层,其界定有源区;

栅极结构,其布置于所述有源区的表面上;

源极,其布置于所述栅极结构的第一侧上;

漏极,其布置于与所述第一侧相对的所述栅极结构的第二侧上;

至少一个源极场板结构,其导电地耦合到所述源极;以及

栅极层级场板结构,其耦合到所述源极。

2.根据权利要求1所述的IC,其中所述栅极层级场板结构通过导电通路通过所述至少一个源极场板结构中的一者耦合到所述源极。

3.根据权利要求2所述的IC,其中所述导电通路在所述有源区中延伸于所述至少一个源极场板结构中的相应者与所述栅极层级场板结构之间。

4.根据权利要求2所述的IC,其中所述导电通路在所述有源区外延伸于所述至少一个源极场板结构中的所述相应者与所述栅极层级场板结构之间。

5.根据权利要求4所述的IC,其中所述导电通路布置在所述GaN晶体管装置外部。

6.根据权利要求1所述的IC,其中所述有源区包括:

第一部分,其包括所述导电通路;及

第二部分,在所述第二部分中没有所述导电通路;

其中所述栅极结构包括所述有源区的所述第二部分中的金属接触件,且其中在所述有源区的所述第一部分中没有所述金属接触件以容纳所述导电通路。

7.根据权利要求1所述的IC,其中所述栅极层级场板结构由与形成所述源极及所述漏极到所述GaN有源层的接触件相同的金属形成。

8.根据权利要求1所述的IC,其中所述栅极层级场板结构包括:

第一栅极层级场板结构,其耦合到所述源极;及

第二栅极层级场板结构,其耦合到所述源极。

9.根据权利要求8所述的IC,其中所述第一栅极层级场板结构由与形成所述源极及所述漏极到所述GaN有源层的接触件相同的金属形成,其中所述第二栅极层级场板结构由与和所述栅极结构相关联的金属接触件相同的金属形成。

10.根据权利要求1所述的IC,其中所述有源区包括:

第一部分,其包括将所述栅极层级场板结构导电地耦合到所述源极的导电延伸部;及

第二部分,在所述第二部分中没有所述导电延伸部;

其中所述栅极结构包括所述有源区的所述第二部分中的金属接触件,且其中在所述有源区的所述第一部分中没有所述金属接触件以容纳所述导电延伸部。

11.一种用于制造具有氮化镓(GaN)晶体管装置的集成电路的方法,所述方法包括:

在衬底之上沉积GaN有源层;

在所述GaN有源层之上沉积电介质材料;

在所述GaN有源层上形成源极;

在所述GaN有源层上形成漏极;

在所述GaN有源层之上在所述源极与漏极之间形成栅极结构;

在所述电介质材料上形成栅极层级场板结构;

形成从所述栅极层级场板结构延伸的导电通路;以及

形成导电地耦合到所述源极的至少一个源极场板结构,所述导电通路从所述栅极层级场板结构延伸到所述至少一个源极场板结构。

12.根据权利要求11所述的方法,其中形成所述导电通路包括将所述导电通路形成为在由其上沉积所述GaN有源层的区域界定的有源区中延伸于所述栅极层级场板结构与所述至少一个源极场板结构中的所述相应者之间。

13.根据权利要求11所述的方法,其中形成所述导电通路包括将所述导电通路形成为在由其上沉积所述GaN有源层的区域界定的有源区外延伸于所述栅极层级场板结构与所述至少一个源极场板结构中的所述相应者之间。

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