[发明专利]显示缺陷检测系统和显示缺陷检测方法

说明书

公开了一种显示缺陷检测系统和显示缺陷检测方法。显示缺陷检测系统包括：预处理电路，该预处理电路接收由显示面板显示的测试图案的捕获图像作为包括对角线不均的面板图像，并且对该面板图像进行预处理以输出预处理图像；以及不均检测电路，该不均检测电路基于预处理图像的边缘映射，通过将反映对角线不均的亮度差的第一特征值与反映对角线不均的形状比率的第二特征值相乘来计算对角线不均的最终特征值，并且基于对角线不均的最终特征值来检测对角线不均的显示位置。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2021年12月14日提交的韩国专利申请第10-2021-0178480号的权益，该申请通过引用如在本文中完全阐述的那样并入本文。

技术领域

本公开内容涉及显示缺陷检测系统和显示缺陷检测方法。

背景技术

显示缺陷是在制造显示面板的过程中出现的缺陷，其各种原因包括加工设施的故障、工人的失误、由灰尘或微粒引起的细微缺点以及所用膜的缺陷。当出现显示缺陷时，显示面板的屏幕特性不均匀并且具有不均(mura)状态。存在各种类型(种类)、尺寸和级别的不均，并且特别地，不均具有各种类型，诸如圆形类型、线性类型、非正式类型和重复涂抹类型。

存在工人使用眼睛直接检测显示面板的不均的方法。然而，在这样的检测方法中，工人的眼睛可能容易疲劳，细微缺陷的检测率可能降低，并且检测结果可能由于工人的主观决断而改变，并且因此，难以期望恒定水平的检测结果。

在使用不均检测算法的检测方法中，由于没有清楚地示出捕获图像的边界、亮度变化和对比度，因此不均检测的难度水平较高。常规的算法基于对比率、标准偏差(STD)和振幅，但是难以提高对角线(diagonal)不均的检测准确度。对角线不均具有各种线方向以及各种线长度，并且因此，相关技术的检测方法在提高检测准确度方面具有局限性。

发明内容

为了克服相关技术的上述问题，本公开内容可以提供显示缺陷检测系统和显示缺陷检测方法，其可以提高对角线不均的检测准确度。

为了实现这些目的和其他优点并根据本公开内容的目的，如本文中所体现和广泛描述的，显示缺陷检测系统包括：预处理电路，该预处理电路接收由显示面板显示的测试图案的捕获图像作为包括对角线不均的面板图像，并对该面板图像进行预处理以输出预处理图像；以及不均检测电路，该不均检测电路基于预处理图像的边缘映射，通过将反映对角线不均的亮度差的第一特征值与反映对角线不均的形状比率的第二特征值相乘来计算对角线不均的最终特征值，并且基于对角线不均的最终特征值来检测对角线不均的显示位置。

在本公开内容的另一方面中，显示缺陷检测方法包括：接收由显示面板显示的测试图案的捕获图像作为包括对角线不均的面板图像，并对该面板图像进行预处理以输出预处理图像；基于预处理图像的边缘映射，通过将反映对角线不均的亮度差的第一特征值与反映对角线不均的形状比率的第二特征值相乘来计算对角线不均的最终特征值；以及基于对角线不均的最终特征值来检测对角线不均的显示位置。

附图说明

附图被包括以提供对本公开内容的进一步理解，并且被并入本申请中并构成本申请的一部分，附图示出了本公开内容的实施方式并且与说明书一起用于说明本公开内容的原理。在附图中：

图1是示出根据本公开内容的实施方式的显示缺陷检测系统的图；

图2是示出图1的显示缺陷检测电路的图；

图3是示出由图2的预处理电路执行的预处理过程的图；

图4和图5是示出由图1的显示缺陷检测电路执行的不均检测过程的图；

图6是示出基于角度数目“n”将对角线不均候选中的每一个的边缘映射图像旋转n次的示例的图；以及