[发明专利]电器设备的外观缺陷检测方法、装置、电子设备及介质

权利要求书

1.一种电器设备的外观缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

采集电器设备的待检测面的外观图像，并确定所述外观图像的待检测区域；

当在所述待检测区域中检测到目标对象时，确定所述目标对象的当前纹理特征的像素分布数据；

基于缺陷检测基准数据分析所述当前纹理特征的像素分布数据得到所述目标对象的类型，并确定所述类型的目标对象的数量和位置，从而得所述电器设备的外观缺陷检测结果。

2.根据权利要求1所述的电器设备的外观缺陷检测方法，其特征在于，所述目标对象的类型包括第一类目标和/或第二类目标，所述第二类目标用于安装所述第一类目标，通过如下方式为所述电器设备的外观缺陷检测确定缺陷检测基准数据：

在预设光照下获取所述待检测面的标准图像，确定所述标准图像中所述第一类目标的标准纹理特征的像素分布数据；所述标准图像为所述待检测面中所述第二类目标上安装了所述第一类目标；

获取所述待检测面的缺陷图像，确定所述缺陷图像中所述第二类目标的缺陷纹理特征的像素分布数据；所述缺陷图像为所述待检测面中所述第二类目标上未安装所述第一类目标；

对所述标准纹理特征的像素分布数据和所述缺陷纹理特征的像素分布数据进行差值分析得到缺陷检测基准数据。

3.根据权利要求2所述的电器设备的外观缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述标准图像中所述第一类目标的标准纹理特征的像素分布数据，包括：

确定所述标准图像中各个第一类目标的像素分布数据，所述标准图像中包括多个所述第一类目标；

确定所述各个第一类目标对应的光影权重；

将所述各个第一类目标的像素分布数据与对应的所述各个第一类目标是光影权重进行加权，将加权结果作为所述标准纹理特征的像素分布数据。

4.根据权利要求2所述的电器设备的外观缺陷检测方法，其特征在于，所述像素分布数据中包括像素区间、像素区间的组数和每组像素区间的像素数量，所述像素区间和所述像素区间的组数是基于预设像素分组间隔确定；所述对所述标准纹理特征的像素分布数据和所述缺陷纹理特征的像素分布数据进行差值分析得到缺陷检测基准数据，包括：

计算所述标准纹理特征的像素分布数据和所述缺陷纹理特征的像素分布数据中对应各组所述像素数量的第一差值；

从所述第一差值中挑选出预设数量的第一目标差值，将所述第一目标差值以及所述第一目标差值对应的像素区间作为所述缺陷检测基准数据。

5.根据权利要求4所述的电器设备的外观缺陷检测方法，其特征在于，所述基于缺陷检测基准数据分析所述当前纹理特征的像素分布数据得到所述目标对象的类型，包括：

计算所述标准纹理特征的像素分布数据和所述当前纹理特征的像素分布数据中对应各组所述像素数量的第二差值；

从所述第二差值中挑选出所述预设数量的第二目标差值，将所述第二目标差值以及所述第二目标差值对应的像素区间作为所述目标对象的外观数据；

对所述缺陷检测基准数据和所述外观数据进行方差分析得到方差结果；

若所述方差结果大于预设阈值，则确定所述目标对象的类型为所述第一类目标；

若所述方差结果不大于所述预设阈值，则确定所述目标对象的类型为所述第二类目标。

6.根据权利要求1所述的电器设备的外观缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述外观图像的待检测区域，包括：

基于目标位置模板预测所述外观图像中存在目标对象的第一区域，所述目标位置模板是对所述待检测面中的目标对象进行标注而确定的，所述目标位置模板是根据所述电器设备的属性信息从模板库中获取到的；

对所述第一区域的左右两侧分别扩充预设宽度得到所述待检测区域。

7.根据权利要求2所述的电器设备的外观缺陷检测方法，其特征在于，所述在所述待检测区域中检测到目标对象，包括：

确定在所述待检测区域中是否能检测到预设形状的轮廓特征，所述预设形状的轮廓特征是基于所述第一类目标和所述第二类目标的形状确定；

若能检测到，则确定在所述待检测区域中检测到了所述目标对象。